【正文】 下的差異度。）直線才好。）部重合。　適。　變異量中所占比率?！≈畹牟▌颖??！∷企w現(xiàn)測量系統(tǒng)量程。　值波動區(qū)間。量。 ② 該測量系統(tǒng)的變異大得覆蓋總流程變異，該測量系統(tǒng)的變異大得覆蓋總流程變異， %RR=100%＞＞ 30% 。重新校正測量系統(tǒng)后，再次測量流程。 ② 但該測量系統(tǒng)的變異較大但該測量系統(tǒng)的變異較大 ,不能忽略，不能忽略， %RR=40%＞＞ 30%。建議：調(diào)整產(chǎn)品公差或者放寬流程控制，以降低成本。 ③ 該流程總變異小于產(chǎn)品公差要求該流程總變異小于產(chǎn)品公差要求 ,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定性好產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定性好 。MWCC品管品管 6σσMWCC品管品管 6σσP/T=10%P/T=20%P/T=50%%R＆＆ R=20%%R＆＆ R=100%%R＆＆ R=40%測量系統(tǒng)變異（測量系統(tǒng)變異（ ⅢⅢ ））產(chǎn)品公差產(chǎn)品公差LSL USL觀察所得流程變異（總）觀察所得流程變異（總）一、一、二、二、三、三、測量系統(tǒng)變異（測量系統(tǒng)變異（ ⅢⅢ ）） 說明說明一、一、 ①① 該測量系統(tǒng)非常合適，可正確體現(xiàn)產(chǎn)品公差，該測量系統(tǒng)非常合適，可正確體現(xiàn)產(chǎn)品公差， P/T=10%＜＜ 30%。 ③ 該流程測量值不可信該流程測量值不可信 . ④ 建議建議 :改用合適的測量系統(tǒng)；重新校正后；重新進行流程測量。三、三、 ①① 選用的測量系統(tǒng)完全不合適，選用的測量系統(tǒng)完全不合適， P/T=200%＞＞ 30% 。 ③ 該流程測量值不可信該流程測量值不可信 . ④ 建議建議 :改用合適的測量系統(tǒng)；重新校正后；重新進行流程測量。二、二、 ①① 選用的測量系統(tǒng)完全不合適，選用的測量系統(tǒng)完全不合適， P/T=100%＞＞ 30% 。 ③ 該流程總變異過大，但此測量值并不可信該流程總變異過大，但此測量值并不可信 . ④ 建議：改用合適的測量系統(tǒng)；重新測量流程變異。 ③ 觀察所得流程變異值已無意義觀察所得流程變異值已無意義 . ④ 建議建議 :改變測量系統(tǒng)；重新校正測量系統(tǒng)；重新測量流程變異改變測量系統(tǒng)；重新校正測量系統(tǒng)；重新測量流程變異 . 測量系統(tǒng)變異（測量系統(tǒng)變異（ ⅠⅠ ）） 說明說明MWCC品管品管 6σσMWCC品管品管 6σσP/T=50%P/T=100%P/T=200%%R＆＆ R=25%%R＆＆ R=100%%R＆＆ R=50%測量系統(tǒng)變異（測量系統(tǒng)變異（ ⅡⅡ ））產(chǎn)品公差產(chǎn)品公差LSL USL觀察所得流程變異（總）觀察所得流程變異（總）一、一、二、二、三、三、測量系統(tǒng)變異（測量系統(tǒng)變異（ ⅡⅡ ）） 說明說明一、一、 ①① 該測量系統(tǒng)不合適，無法正確分辨產(chǎn)品規(guī)格，該測量系統(tǒng)不合適，無法正確分辨產(chǎn)品規(guī)格， P/T=50%＞＞ 30% 。 ③ 因此因此 ,觀察所得流程總變量不準確觀察所得流程總變量不準確 ,能否滿足產(chǎn)品公差要求能否滿足產(chǎn)品公差要求 ,不可知不可知 . ④ 建議建議 :改變測量系統(tǒng)；重新校正測量系統(tǒng)；重新測量流程變異改變測量系統(tǒng)；重新校正測量系統(tǒng)；重新測量流程變異 .三、三、 ①① 選用的測量系統(tǒng)完全不合適，選用的測量系統(tǒng)完全不合適， P/T=100%＞＞ 30% 。 ③ 該流程總變異量等于產(chǎn)品公差，說明能滿足產(chǎn)品的設計公差要求．該流程總變異量等于產(chǎn)品公差，說明能滿足產(chǎn)品的設計公差要求．二、二、 ①① 選用的測量系統(tǒng)不合適，選用的測量系統(tǒng)不合適， P/T=50%＞＞ 30% 。 DET— 目前控制的偵查能力或預防的能力：目前控制的偵查能力或預防的能力： * 1 = 偵測到機率大偵測到機率大 ， 10 = 偵測到機率小偵測到機率小流程步驟主要輸入因素失敗模式 (已有和潛在 )失敗結果嚴重度SEV失敗原因 (表面和潛在 )發(fā)生度OCC目前控制方法偵查度DETRPN 需要改善項目6σσMWCC品管品管③③ 長期記錄：長期記錄：目前控制方法 偵查度DET RPN需改善項目改造對策內(nèi)容 擔當者 部門 實施日期再次評價SEV OCC DET RPN④④ RPN的動態(tài)觀：的動態(tài)觀：Occ Sev Det Result Actions1 1 1 理想狀態(tài) No Action1 1 10 過度保證 No Action1 10 1 顧客接觸到產(chǎn)品失敗的機會很小 No Action1 10 10 顧客接觸到產(chǎn)品失敗 Yes10 1 1 失敗常發(fā)生，可偵測的，成本高 Yes10 1 10 失敗常發(fā)生，顧客可接觸到 Yes10 10 1 失敗常發(fā)生，并有嚴重影響 Yes10 10 10 大問題！！ Yes ！哪個評分受設計影響最大？哪個評分受制造影響最大？哪個評分受設計影響最大？哪個評分受制造影響最大？* 只對高只對高 RPN值做改善行動，關鍵是值做改善行動，關鍵是 ““ 專注專注 ””！！八、流程測量思路八、流程測量思路 ：：設計流程能力設計流程能力流程總變異量流程總變異量實際產(chǎn)品變異量實際產(chǎn)品變異量測量系統(tǒng)變異量測量系統(tǒng)變異量再現(xiàn)性再現(xiàn)性重復性重復性2.“ 流程總變異量流程總變異量 ”” 的基本模的基本模式：式：σσ 2 = σσ 2 + σσ 2 = σσ 2 + σσ 2 + σσ 2測量測量總變量總變量 產(chǎn)品產(chǎn)品 再現(xiàn)再現(xiàn)重復重復產(chǎn)品產(chǎn)品MWCC品管品管 6σσ九、測量系統(tǒng)的評價九、測量系統(tǒng)的評價 ：： （適合性）（適合性） ：： P/T值值 →→ 測量精確度測量精確度 /產(chǎn)品公差產(chǎn)品公差* 注意：注意： 99%的測量系的測量系統(tǒng)變異，統(tǒng)變異， P/T= 公差公差 σ 100%●● 判斷標準判斷標準：：●● 最佳情形：最佳情形： ≤10%●● 可接受情形：可接受情形： ≤30%：測量能力指標： %R＆＆ R值值 →→ 測量變異量測量變異量 /流程總變異量流程總變異量%R＆＆ R= σσ 測量測量σσ 總變量總變量 100%●● 判斷標準：判斷標準：●● 最佳情形：最佳情形： ≤10%●● 可接受情形：可接受情形： ≤30%6σσMWCC品管品管MWCC品管品管 6σσP/T=20%P/T=50%P/T=100%%% R＆＆ R=20%%% R＆＆ R=100%%% R＆＆ R=50%測量系統(tǒng)變異（測量系統(tǒng)變異（ ⅠⅠ ））產(chǎn)品公差產(chǎn)品公差LSL USL觀察所得流程變異（總觀察所得流程變異（總））一、一、二、二、三、三、一、一、 ①① 測量此流程的系統(tǒng)選擇較恰當，測量此流程的系統(tǒng)選擇較恰當， P/T=20%＜＜ 30% 。 SEV— 失敗結果的嚴重等級失敗結果的嚴重