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正文內(nèi)容

材料無(wú)損檢測(cè)課件(參考版)

2024-08-15 23:00本頁(yè)面
  

【正文】 cosβ = 2δ- L /K; 工件 缺陷 L h β h 思考題: 。sinβ =S ? 缺陷深度 h=S 幾何關(guān)系術(shù)語(yǔ)的圖解 圖例 : 直射法 =一次波法; 一次反射法 =二次波法 o β B P1 δ b F 缺陷水平距離 L 聲程 S h 直射法圖解 ? K= tgβ=L / h ? 缺陷水平距離 L=Sδ。tgβ =2Kδ。 (2)斜探頭的主要參數(shù) : ① 橫波折射角 βs ;簡(jiǎn)稱 折射角 β; ②探頭 K值 : K = tgβ. ③ 超聲波頻率 :f. (3)示波屏上的缺陷顯示情況: T T T F B’ a. 無(wú)缺陷 (4)幾何關(guān)系術(shù)語(yǔ) ? 入射點(diǎn) o ; ? 前沿長(zhǎng)度 b— 聲波入射點(diǎn)至探頭前端距離; ? 折射角 β; ? 探頭 K值 , K=tgβ。 基本掃查方式 ? 圖示 垂直 水平 環(huán)繞 轉(zhuǎn)角 斜角探傷法(斜探頭,橫波法) (1)定義 :采用斜探頭將 聲束傾斜入射 工件 探傷面 進(jìn)行檢測(cè)的方法,簡(jiǎn)稱斜射法。其變化規(guī)律需操作者 積累豐富的經(jīng)驗(yàn) 。 缺陷 性質(zhì)不同 ,其 波形特征各異 ;在探頭移動(dòng) 時(shí),也會(huì) 表現(xiàn)出不同的特點(diǎn) 。 設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)木嚯x尺寸和人工反射體的尺寸; 得到“探測(cè) 距離與波幅曲線” ; 當(dāng)量法的距離 —— 波幅曲線示意圖 ? 對(duì)比試塊 250 50 孔徑可改變?yōu)椋? Φ2, Φ3, Φ4, Φ6; 探頭 平底孔距探測(cè)面的距離為: 5, 10, 15, 20, 25, 30, 35, 40, 45 當(dāng)量法的距離 —— 波幅曲線示意圖 圖例 波幅 距離 mm 評(píng)定線 定量線 報(bào)廢線 Ⅰ Ⅱ Ⅲ dB ⑥ 缺陷的定性 對(duì)于 A型顯示的超聲波檢測(cè)來(lái)說(shuō),給缺陷定性是 較復(fù)雜和困難的 。圖示如下: 缺陷長(zhǎng)度 探頭移動(dòng)距離 6db 波高 波高包絡(luò)線 探頭 時(shí),采用 當(dāng)量法 ; 當(dāng)量法的基本思想 : 在一定的探傷靈敏度條件下,將 已知形狀、尺寸的人工反射體的回波 與 實(shí)際檢測(cè)到的缺陷回波相對(duì)比,若 二者的聲程 、 回波高度 相等 ,則這個(gè)已知人工反射體的 相關(guān)尺寸 可視為該實(shí)際缺陷的“ 缺陷當(dāng)量 ”。 n= δ/ tb 。δ= n 對(duì)體積型缺陷的檢出率較高。 簡(jiǎn)記: 垂直入射法 = 直探頭法 = 縱波法 ② 缺陷顯示方式 :以回波在 時(shí)基線 上的位 置、脈沖大小反映缺陷的情況。 ? 本節(jié)將根據(jù)上述任務(wù),重點(diǎn)介紹兩種探傷方法。 相對(duì)( b)而言, 傷波變高 。見(jiàn)下圖: 示例 直探頭缺陷顯示 c. 大缺陷 T B T T B F F 示波屏特征小結(jié) ( a) 無(wú)缺陷 —— 示波屏上 只有始波 T和底 波 B,而且底波較高; ( b)有小缺陷 —— 示波屏上不僅有始波 T 和底波 B;而其間 還有傷波 F。 (2)實(shí)現(xiàn)方法 : 該法采用 單一探頭 —— 既作發(fā)射器件,又作接收元件,以脈沖方式間歇地向工件發(fā)射超聲波; 接受到的回波信號(hào)經(jīng)功能電路放大、檢波后,在探傷儀的 示波屏 上,以 脈沖信號(hào) 顯示出來(lái)。 在 實(shí)際應(yīng)用 中以 該法為主。 ? 臨界角的應(yīng)用 : 斜探頭設(shè)計(jì) 時(shí),應(yīng)保證 聲波的入射角介于 第一臨界角、第二臨界角 之間。 時(shí),第二介質(zhì)中只有表面波。 。此時(shí)對(duì)應(yīng)的縱波入射角 α;叫作 第一臨界角 ,記為 α1m。由( 46)式可推知 : ( 47) ( 48) 臨界角的討論 :當(dāng)取有機(jī)玻璃為第一介質(zhì),鋼為第二介質(zhì)時(shí),即有: CL1CL2 , CL1 CS2 CL2 , 必有 αβSβL ;且 α , βS , βL ; )s i na r c s i n ( 21 lCC LL ?? ??)s i na r c s i n ( 21 sCC sL ?? ??? 故當(dāng) βL = 90176。 Ⅰ Ⅱ ② 斯涅耳定律: 2211 LLSSSSLLL CS I NCS I NCS I NCS I NCS I N ????? ????( 4- 6) S1 L1 S2 L2 α α s α L βs βL L (3)臨界角 的討論及其應(yīng)用意義 因 CL = CL1 。 ? 因此,要想 提高探傷靈敏度 ,必須 提高頻率 f,以便 發(fā)現(xiàn)更小的缺陷 。CL (45) 氣體、液體、金屬之間聲阻抗之比約為: 1: 3000: 8000。指超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),任一點(diǎn)的 聲壓 p與該 點(diǎn)速度振幅 V之比。 而與何者為 第一介質(zhì) 無(wú)關(guān)。 T B1 B2 B6 超聲波在介質(zhì)中的傳播 超聲波在異質(zhì)界面處產(chǎn)生的各種現(xiàn)象 (1)垂直入射異質(zhì)界面時(shí)的 透射 、 反射 及 繞射 ① 透射與反射 ② 反射系數(shù) K = W反 / W入 100% W透 W反 w入 ③ 常見(jiàn)材料之間的界面反射系數(shù) 界面材料 反射系數(shù) K % 鋼 — 鋼 0 鋼 — 變壓器油 81 鋼 — 有機(jī)玻璃 77 鋼 —— 水 88 有機(jī)玻璃 — 變壓器油 17 鋼 —— 空氣 100 有機(jī)玻璃 —— 空氣 100 ④ 反射現(xiàn)象的辯證分析 反射現(xiàn)象 : 對(duì)發(fā)射超聲波不利 ; 對(duì)脈沖反射法接收有利。 超聲波探傷儀示波屏上 波高 h的衰減狀況 ? 這里, B1~ B6代表超聲波在工件底面的 6次反射波。所以,粗晶檢測(cè)時(shí),應(yīng)適當(dāng)降低超聲波頻率,彌補(bǔ)能量的不足。 ? (42)式表明,超聲波的聲壓在其傳播的路徑上,呈負(fù)指數(shù)規(guī)律衰減。e α 主聲軸 N 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度 N=D2 /4λ 超聲場(chǎng)及 近場(chǎng)區(qū) 壓電晶片 超聲波在介質(zhì)中的傳播 超聲波在金屬中的衰減定律 超聲波在 金屬中 主要的衰減原因是 散射和擴(kuò)散 ;在 液體中主要是吸收 。 聲束的擴(kuò)散角滿足如下關(guān)系: θ= arcsin (λ/D) (41) 可見(jiàn), 波長(zhǎng)越短 , 擴(kuò)散角 θ越小 , 聲能越集中 。 注意 : 超聲波檢測(cè)過(guò)程常采用 脈沖波 。f = 常數(shù) 。 超聲波波型的分類 ? 按質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與聲波的傳播方向之間的關(guān)系分為: ( 1) 縱波 L—— 介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳 播方向一致; ( 2) 橫波 S—— 介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳 播方向垂直; ( 3)表面波 R—— 介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)沿介質(zhì)表面做橢圓運(yùn) 動(dòng);又稱瑞利波; ( 4)板波 —— 板厚與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯袀鞑サ? 超聲波,板的兩表面介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)沿 介質(zhì)表面做橢圓運(yùn)動(dòng),板中間也 有超聲波傳播。將此電信號(hào)采集、檢波、放大并顯示出來(lái),就 完成了對(duì)超聲波信號(hào)的接收 。 壓電效應(yīng) ? 壓電效應(yīng)圖解 + /- b. 施加交流電場(chǎng)時(shí)內(nèi)部質(zhì)點(diǎn)產(chǎn)生振動(dòng) a. 拉伸或壓縮時(shí)表面產(chǎn)生電荷 -------- ++++++++ 正壓電效應(yīng) ~ - /+ 逆壓電效應(yīng) (2) 超聲波的發(fā)射與接收 ① 發(fā)射 —— 在壓電晶片制成的探頭中,對(duì)壓電晶片施以 超聲頻率 的 交變電壓 ,由于逆壓電效應(yīng),晶片中就會(huì)產(chǎn)生超聲頻率的 機(jī)械振動(dòng) —— 產(chǎn)生超聲波 ;若此機(jī)械振動(dòng)與 被檢測(cè)的工件較好地 耦合 ,超聲波就會(huì) 傳入工件 —— 這就是 超聲波的發(fā)射 。 試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),某些晶體材料(如石英晶體)做成的晶體薄片,當(dāng)其 受到拉伸或壓縮時(shí),表面就會(huì)產(chǎn)生電荷 ;此現(xiàn)象稱為 正壓電效應(yīng) ;反之,當(dāng)對(duì)此晶片 施加交變電場(chǎng) 時(shí),晶體內(nèi)部的質(zhì)點(diǎn)就會(huì)產(chǎn)生 機(jī)械振動(dòng) ,此現(xiàn)象稱為 逆壓電效應(yīng) 。 超聲檢測(cè) 常用頻率 在 ~ 10 MHZ。 即超聲頻率的 機(jī)械波 。 ? 按其工作原理不同分為:共振法、穿透法、 脈沖反射法 超聲檢測(cè); ? 按顯示缺陷方式不同分為: A型 、 B型、 C型、3D型 超聲檢測(cè); ? 按選用超聲波波型不同分為: 縱波法 、 橫波法 、表面波法 超聲檢測(cè); ? 按聲耦和方式不同分為:直接接觸法、液浸法 超聲檢測(cè); ? 由于學(xué)時(shí)有限,本章將 重點(diǎn)介紹 : 脈沖反射法原理、 直接接觸法、 A型顯示方式、 縱波法、橫波法 超聲檢測(cè)技術(shù)。 ⑵ 距離防護(hù) —— 射線劑量率與 距離的平方 成反比 。 每年 最高允許劑量當(dāng)量 5 rem(雷姆 ) ; 終生 累計(jì)照射劑量,不得超過(guò) 250 rem。 檢驗(yàn)報(bào)告有 統(tǒng)一格式 、 規(guī)定的內(nèi)容 、 質(zhì)檢人員 要簽字 、提出 返修建議 等。 ③ 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 —— 根據(jù)缺陷類別、嚴(yán)重性, 確定 產(chǎn)品質(zhì)量 級(jí)別。 ( 2)實(shí)際透照 ① 核對(duì)實(shí)物 , 布片 貼標(biāo) ; ② 屏蔽散射 , 對(duì)位 調(diào)焦 ; ③ 設(shè)定參數(shù) ,設(shè)備 預(yù)熱 ; ④ 檢查現(xiàn)場(chǎng) ,開(kāi)機(jī) 透照 。但應(yīng)注意貼在工件的下表面!而且不能與工件上表面的標(biāo)記 重影 ! 2022, 3, 12- 007 GL1002 暗袋 標(biāo)記帶 射線探傷的基本操作程序 總體上分為 三個(gè)階段 ,具體操作內(nèi)容 根據(jù)具體情況有所刪減。 目的是 降低 底片的 灰霧度 ! 射線源 濾光板 遮光板 工件 ⑦ 補(bǔ)償塊 的選擇 對(duì)于 不規(guī)則的接頭 ,如 角接頭 、 T形 接頭, 可采用特殊形狀的 補(bǔ)償塊 來(lái)調(diào)節(jié)射線的 透射強(qiáng)度 ,從而 調(diào)節(jié)底片 黑度 。 平板對(duì)接焊縫 : 垂直 透照、 傾斜 透照; 大直徑筒節(jié) 環(huán)縫 、 縱縫 :
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