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材料無損檢測課件-資料下載頁

2025-08-04 23:00本頁面
  

【正文】 p1/p2 = h1/h2 (43) ? 實際探測時,超聲波探傷儀示波屏上的波高 h能夠反映聲波的衰減狀況。 超聲波探傷儀示波屏上 波高 h的衰減狀況 ? 這里, B1~ B6代表超聲波在工件底面的 6次反射波。波高 h依次遞減。 T B1 B2 B6 超聲波在介質中的傳播 超聲波在異質界面處產生的各種現(xiàn)象 (1)垂直入射異質界面時的 透射 、 反射 及 繞射 ① 透射與反射 ② 反射系數(shù) K = W反 / W入 100% W透 W反 w入 ③ 常見材料之間的界面反射系數(shù) 界面材料 反射系數(shù) K % 鋼 — 鋼 0 鋼 — 變壓器油 81 鋼 — 有機玻璃 77 鋼 —— 水 88 有機玻璃 — 變壓器油 17 鋼 —— 空氣 100 有機玻璃 —— 空氣 100 ④ 反射現(xiàn)象的辯證分析 反射現(xiàn)象 : 對發(fā)射超聲波不利 ; 對脈沖反射法接收有利。 ⑤影響反射系數(shù) K的因素 反射系數(shù) K值的大小,決定于相鄰介質的 聲阻抗之差 : Δ Z =| Z 2- Z 1| Δ Z 越大, K 值越大。 而與何者為 第一介質 無關。 關于 聲阻抗 聲阻抗 Z—— 表示聲場中介質對質點振動的阻礙作用。指超聲波在介質中傳播時,任一點的 聲壓 p與該 點速度振幅 V之比。 定義式 聲阻抗 Z = p/V (44) 數(shù)值表征 Z = ρCL (45) 氣體、液體、金屬之間聲阻抗之比約為: 1: 3000: 8000。 ⑥ 繞射現(xiàn)象 ? 當界面尺寸 dfλ/2 時,聲波能繞過缺陷界面而繼續(xù)向前傳播的現(xiàn)象,叫作 繞射 。 ? 因此,要想 提高探傷靈敏度 ,必須 提高頻率 f,以便 發(fā)現(xiàn)更小的缺陷 。 超聲波的 繞射現(xiàn)象 (2)傾斜入射異質界面的 反射 、 折射 和 波型轉換 ①參考圖 S1 L1 S2 L2 α α s α L βs βL L o L—— 入射縱波; α —— 縱波入射角; L1—— 反射縱波; αL—— 縱波 L1反射角; S1—— 反射橫波; αs —— 橫波 S1反射角; L2 —— 折射 縱波; βL—— 縱波 L2折射角; S2 —— 折射 橫波; βs —— 橫波 S2折射角。 Ⅰ Ⅱ ② 斯涅耳定律: 2211 LLSSSSLLL CS I NCS I NCS I NCS I NCS I N ????? ????( 4- 6) S1 L1 S2 L2 α α s α L βs βL L (3)臨界角 的討論及其應用意義 因 CL = CL1 。α=αL 。由( 46)式可推知 : ( 47) ( 48) 臨界角的討論 :當取有機玻璃為第一介質,鋼為第二介質時,即有: CL1CL2 , CL1 CS2 CL2 , 必有 αβSβL ;且 α , βS , βL ; )s i na r c s i n ( 21 lCC LL ?? ??)s i na r c s i n ( 21 sCC sL ?? ??? 故當 βL = 90176。 時,第二介質中只有橫波。此時對應的縱波入射角 α;叫作 第一臨界角 ,記為 α1m。 這時, α1m = 176。 。 ? 當 α ,使 βs = 90176。 時,第二介質中只有表面波。此時對應的縱波入射角 α叫作 第二臨界角, 記為 α2m = 。 ? 臨界角的應用 : 斜探頭設計 時,應保證 聲波的入射角介于 第一臨界角、第二臨界角 之間。 超聲波檢測原理 ? 本節(jié)重點講解 : A型脈沖反射法 超聲波檢測原理。 在 實際應用 中以 該法為主。 A型脈沖反射法超聲波檢測原理 (1)原理: A型 脈沖反射法 超聲波檢測就是利用超聲波在傳播過程中,遇到 聲阻抗差較大的 異質界面 時,將 產生反射 的原理來實現(xiàn)對內部缺陷檢測的。 (2)實現(xiàn)方法 : 該法采用 單一探頭 —— 既作發(fā)射器件,又作接收元件,以脈沖方式間歇地向工件發(fā)射超聲波; 接受到的回波信號經功能電路放大、檢波后,在探傷儀的 示波屏 上,以 脈沖信號 顯示出來。 (3)信號的解讀 : 根據探傷儀示波屏上 始波 T、 傷波 F、 底波 B的 有無 、 大小 及其在 時基軸 上的 位置可判斷工件 內部缺陷 的 有無、大小和位置 。見下圖: 示例 直探頭缺陷顯示 c. 大缺陷 T B T T B F F 示波屏特征小結 ( a) 無缺陷 —— 示波屏上 只有始波 T和底 波 B,而且底波較高; ( b)有小缺陷 —— 示波屏上不僅有始波 T 和底波 B;而其間 還有傷波 F。 相對( a)無缺陷的情況, 底波變矮 ; ( c)有大缺陷 —— 示波屏上 只有始波 T和傷波 F, 沒有底波 B。 相對( b)而言, 傷波變高 。 脈沖反射法超聲波檢測技術要點 ? 內容提要: ? 從根本上說,超聲波檢測技術的基本任務就是: ① 通過調節(jié)探傷系統(tǒng)的 靈敏度 和調整 操作手法 ,有效地 發(fā)現(xiàn)缺陷 ; ② 發(fā)現(xiàn)缺陷后,能夠 準確地給缺陷 定性 、 定量、 定位 ; ③ 根據工藝要求 , 提出返修建議 及相關的 探傷工藝; ④ 按規(guī)定格式,寫出 檢測報告 。 ? 本節(jié)將根據上述任務,重點介紹兩種探傷方法。 垂直入射法 (直探頭,縱波法探傷技術) ① 定義: 采用直探頭將 聲束垂直入射工件 的 探傷方法;該法利用的 聲波類型為 縱波 ,故有 縱波法 之稱。 簡記: 垂直入射法 = 直探頭法 = 縱波法 ② 缺陷顯示方式 :以回波在 時基線 上的位 置、脈沖大小反映缺陷的情況。 ③ 應用特點: 能夠發(fā)現(xiàn)與 探測面 平行 或 接近平行 的面積型缺陷和體積型缺陷。對體積型缺陷的檢出率較高。 ④ 缺陷的定位: 缺陷就在探頭的 正下方 !從三維定位的角度,需給出三個坐標: x,y,z;其中,在探測面上的水平坐標 x,y可直接用鋼板尺量??;而缺陷的埋藏深度坐標 z(習慣上用 深度 h表示)可根據傷波 F在時基線上的位置,按比例關系確定 : h = (tf / tb) δ= n tf 式中, tf — 傷波脈沖前沿在示波屏時基線上的刻度值; tb— 底波在示波屏時基線上的刻度值; δ— 被檢測試件的厚度值; n — 比例系數(shù) 。 n= δ/ tb 。 ⑤ 缺陷的定量 大于聲束直徑 時,采用 移動測長法 ; 即半波高法 。圖示如下: 缺陷長度 探頭移動距離 6db 波高 波高包絡線 探頭 時,采用 當量法 ; 當量法的基本思想 : 在一定的探傷靈敏度條件下,將 已知形狀、尺寸的人工反射體的回波 與 實際檢測到的缺陷回波相對比,若 二者的聲程 、 回波高度 相等 ,則這個已知人工反射體的 相關尺寸 可視為該實際缺陷的“ 缺陷當量 ”。 可見當量法應該選擇恰當?shù)?對比試塊 。 設計適當?shù)木嚯x尺寸和人工反射體的尺寸; 得到“探測 距離與波幅曲線” ; 當量法的距離 —— 波幅曲線示意圖 ? 對比試塊 250 50 孔徑可改變?yōu)椋? Φ2, Φ3, Φ4, Φ6; 探頭 平底孔距探測面的距離為: 5, 10, 15, 20, 25, 30, 35, 40, 45 當量法的距離 —— 波幅曲線示意圖 圖例 波幅 距離 mm 評定線 定量線 報廢線 Ⅰ Ⅱ Ⅲ dB ⑥ 缺陷的定性 對于 A型顯示的超聲波檢測來說,給缺陷定性是 較復雜和困難的 。 需要了解檢測對象的 材質 、 工藝 、 缺陷位置 、 空間位向 、 信號大小 、 特征 等多方面的信息。 缺陷 性質不同 ,其 波形特征各異 ;在探頭移動 時,也會 表現(xiàn)出不同的特點 。 要做 動態(tài)分析 ! 舉 例 ? 點狀缺陷 的 波幅較低 ,當探頭作 環(huán)繞掃查時, 信號反映遲鈍 ; ? 夾渣群 則呈 連串的波峰 ,而且波形 雜亂 ; ? 裂紋和未焊透等平面缺陷的回波高而陡峭,對探頭 轉角掃 查 反映敏感 ; ? 特別是回波信號往往隨探頭的掃查方式改變而發(fā)生不同的變化。其變化規(guī)律需操作者 積累豐富的經驗 。 ? 各種現(xiàn)代超聲檢測技術的出現(xiàn),大大提高了缺陷定性的準確性。 基本掃查方式 ? 圖示 垂直 水平 環(huán)繞 轉角 斜角探傷法(斜探頭,橫波法) (1)定義 :采用斜探頭將 聲束傾斜入射 工件 探傷面 進行檢測的方法,簡稱斜射法。 在具體檢測中,采用 橫波探傷 ,因此,又稱 橫波法 。 (2)斜探頭的主要參數(shù) : ① 橫波折射角 βs ;簡稱 折射角 β; ②探頭 K值 : K = tgβ. ③ 超聲波頻率 :f. (3)示波屏上的缺陷顯示情況: T T T F B’ a. 無缺陷 (4)幾何關系術語 ? 入射點 o ; ? 前沿長度 b— 聲波入射點至探頭前端距離; ? 折射角 β; ? 探頭 K值 , K=tgβ。 ? 跨距 P1=2δtgβ =2Kδ。 ? 半跨距 = Kδ。 ? 直射法 — 聲波 未經反射 直接對準 缺陷; ? 一次反射法 — 聲波 只經過一次反射 就 對準 了缺陷 。 幾何關系術語的圖解 圖例 : 直射法 =一次波法; 一次反射法 =二次波法 o β B P1 δ b F 缺陷水平距離 L 聲程 S h 直射法圖解 ? K= tgβ=L / h ? 缺陷水平距離 L=Ssinβ。 ? 缺陷深度 h=Scosβ ; 工件 缺陷 L h β 一次反射法圖解 ? L=Ssinβ =SK/√1+ K2 ? h=2δ- Scosβ = 2δ- L /K; 工件 缺陷 L h β h 思考題:
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