【正文】 tuoshui()。 sec=10。 kuai()。 biao()。 while(1) { key=ScanKey()。 TR0=1。 TL1=0x18。 ET0=1。 TH0=0x3c。 //脫水 }void main() { TMOD=0x01。 //第二次漂洗 delay(5000)。 //第一次漂洗 delay(5000)。 delay(5000)。 TR0=1。 TR0=0。 //脫水 }void kuai() //快速洗{ min=15。 //第二次漂洗 delay(3000)。 //第一次漂洗 delay(3000)。 delay(3000)。 TR0=1。 TR0=0。 } }}void biao(void) //標準洗{ min=28。p17=0。 p12=0。 break。p17=1。 p12=1。 while(1) { key=ScanKey()。 delay(3000)。 delay(2000)。 p11=1。 delay(8000)。 delay(2000)。 p20=1。 p21=0。 p21=1。 delay(4000)。i15。 delay(3000)。 delay(8000)。 delay(2000)。 p11=1。 delay(8000)。 delay(2000)。 p20=1。 p21=0。 p21=1。 delay(4000)。i30。 delay(3000)。 delay(8000)。 delay(2000)。//關(guān)排水 p10=1。//開排水 delay(5000)。 delay(2000)。 p20=1。 p21=0。 p21=1。 delay(4000)。i35。 delay(3000)。 delay(5000)。 delay(2000)。//關(guān)排水 p10=1。//開排水 delay(5000)。 delay(2000)。 p20=1。 p21=0。 p21=1。 delay(4000)。i60。 delay(3000)。 delay(5000)。 delay(2000)。 } num++。 break。 break。 //消影 P2=bittab[num]。 P2=0xff。 TL1=0x18。 } sec=60。 while(1)。 P1=0xff。 Beep()。 sec=sec1。//50ms count++。}void t0() interrupt 1 //倒計時{ TH0=0x3c。0x0f)!=0x0f)。0x0f。0x0f)==0x0f) return(0xff)。 delay(30)。 }}unsigned char ScanKey()//鍵盤掃描{ if((P3amp。s++)。 for(s=0。a80。P2=0xff。 unsigned int k=8000。j++)。i++) for(j=0。 for(i=0。 int count=0。 // i為循環(huán)次數(shù)int key。 //反轉(zhuǎn)unsigned char min,sec。 //排水模擬燈sbit p20=P2^0。 //脫水指示燈sbit p16=P1^6。 //洗滌指示燈sbit p11=P1^1。char code bittab[]={0xbf,0x7f}。參 考 文 獻[1] 李勛．單片機微型計算機大學讀本．北京：北京航空航天大學出版社，2002.[2] 王治剛．單片機應用技術(shù)與實訓．北京：清華大學出版社，2004.[3] 周航慈等. 單片機程序設(shè)計基礎(chǔ). 北京：北京航空航天大學出版社，1997.[4] 彭為. 單片機典型系統(tǒng)設(shè)計實例精講. 北京：電子工業(yè)出版社，2006.[5] 盧艷軍. 單片機基本原理及應用系統(tǒng). 北京：機械工業(yè)出版社，2005.[6] 周美娟等. 單片機技術(shù)及系統(tǒng)設(shè)計. 北京：清華大學出版社，2007.[7] 永權(quán). ：電子工業(yè)出版社,1995.[8] 許泳龍等，單片機原理及應用，機械工業(yè)出版社， [9] 馬忠梅等，單片機的C語言應用程序設(shè)計，北京航空航天大學出版社，2003修訂版 [10] 方承遠，工廠電氣控制技術(shù)（第三版）.北京：機械工業(yè)出版社，[11] David G. Johnson. Programmable Controllers for Factory Automattion New York and Basel Marcel Dekker Inc,1987.[12] Wang Wei,Feng Jianlin,Lu Hongjun,et cube: An effective approach to reducing data cube size[J].The 18th InterNation Conferen on Data Engineering(ICDE 2003)[C][13] V. Schmidt, Control, data acquisition, and remote participation for fusion research, Fusion Eng. Des. 81 (2006) 1702–1712.[14] , FiresignalData acquisition and control system and Design 82(2007)13591364[15] ,“Visual ObjectOrientated Programming,” MacintoshJournal, (1991)附錄1：程序include // P口：5個LED燈 2個數(shù)碼管 繼電器2個sbit beep=P3^5。最后感謝我身邊的同學們和朋友們，他們讓我體會到友誼的可貴，和朋友分享喜悅和憂愁的快樂。感謝在本次設(shè)計中給過我?guī)椭?，指導過我的老師和同學，他們有的解決了我技術(shù)上的疑問，有的給我提供了設(shè)計中需要的工具和器材。在接下來的設(shè)計過程中，吳老師時刻指導著我，為我提供了很多難得的學習機會和寶貴的資源以及為人處事的方法，是吳老師指出我學習上的不足之處，讓我的知識更加系統(tǒng)、全面。在這里我首先要感謝我的導師吳老師。在此，特向吳老師表示最衷誠的感謝!大專的學習生涯即將結(jié)束，這次畢業(yè)設(shè)計也將給這兩年半年的學習劃上一個圓滿的句號。從論文的選題、研究方案的實施到論文的撰寫和修改無不凝聚著導師大量的心血。對于以上之粗淺體會進一步的總結(jié)和提高，需要有更多的社會實踐來提供，我也相信在不久的將來踏入社會，類似這樣的設(shè)計絕不在少數(shù)，只要我們努力學習、勇于實踐、勤學好問我們就會懂得以前不明白或不懂的道理，就會很快地成長和成熟起來。憑著“方法總比困難多”的信念，我首先和同學分析了任務(wù)本身該從何處著手，該何時何地查找相關(guān)資料等等尋找突破，充分地解決好問題。其次對待任何的工作責任心是必要的?？偨Y(jié)一個月來的設(shè)計體會大體如下：首先任何工作都要與人打交道、溝通，畢業(yè)設(shè)計也不例外。通過對單片機的重新編程可以很方便的改變洗衣機的功能。在系統(tǒng)設(shè)計中查閱了大量相關(guān)的中文和外文資料以及各芯片的廠家技 本資料手冊借鑒了很多前人成熟的經(jīng)驗?？刂葡到y(tǒng)主要由電源電路、控制電路兩大模塊構(gòu)成?？? 結(jié)經(jīng)過一個學期的時間完成了基于單片機的洗衣機控制系統(tǒng)的設(shè)計，本系統(tǒng)是基于單片機及其接口技術(shù)、計算機技術(shù)、微電子技術(shù)綜合應用的設(shè)計。單步和斷點調(diào)試后，還應進行連續(xù)調(diào)試，因為單片機的運行是在嚴格的時序下進行的，單步運行成功并不代表連續(xù)運行成功。各程序模塊調(diào)試好后，可以把相關(guān)的功能模塊聯(lián)合起來起進行整體綜合調(diào)試。通過檢測，可以發(fā)現(xiàn)程序中的死循環(huán)錯誤、機器碼錯誤及轉(zhuǎn)換地址錯誤，同時也可以發(fā)現(xiàn)用戶系統(tǒng)中的硬件故障、軟件算法及硬件設(shè)計錯誤。調(diào)試子程序時，一定要求符合現(xiàn)場環(huán)境，即入口條件和出口狀態(tài)。 軟件調(diào)試軟件調(diào)試與所選用的軟件結(jié)構(gòu)和程序設(shè)計技術(shù)有關(guān)。電壓過高容易燒壞發(fā)光二極管，電壓過低無法驅(qū)動負載。我們在調(diào)試的過程中發(fā)現(xiàn)單片機輸出穩(wěn)定的電壓，但是硬件電路的發(fā)光二極管的亮度不一、時亮時不亮。在硬件的調(diào)試過程中常見的硬件故障有：元器件失效：元器件失效的原因包括兩個方面，一方面是器件本身已損壞另一方面是組裝過程中造成元器件失效，當然在調(diào)試過程中，我們發(fā)現(xiàn)發(fā)光二極管接反，繼電器損壞。若有高壓將有可能損壞外部仿真電路，同樣如果電壓過低就沒有能力驅(qū)動負載。第二步：通電后檢查單片機I/O的電位，測量各點電位是否正常。特別注意電源的正負極以及電源之間是否有短路并檢查地址總線、數(shù)據(jù)總線、控制總線是否存在相互間的短路或其它信號線的短路。接下來再借助仿真器進行聯(lián)機調(diào)試，分別測試擴展的RAM、I/O口、I/O設(shè)備、程序存儲器以及晶振和復位電路并改正其中的錯誤。在進行硬件調(diào)試時先進行靜態(tài)調(diào)試，用萬用表等工具在樣機加電前根據(jù)原理圖和