spc統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制經(jīng)典培訓(xùn)教材(參考版)
2025-07-10 12:06本頁(yè)面
【正文】 6. 點(diǎn)子的分佈不呈隨機(jī)分佈。,任何二點(diǎn)在2σ~3σ間。25% P(1P)管制上限(UCL)=P+3 n P(1P)管制下限(LCL)=P3 n l 當(dāng)樣組樣本n超過(guò)177。l 爭(zhēng)取時(shí)效性。l 產(chǎn)品係非常貴重之物品。l 屬極為均勻一致之產(chǎn)品。公式：X管制圖：中心線 (CL)=X管制上限(UCL)=X+A2R管制下限(LCL)=XA2RR管制圖：中心線 (CL)=R管制上限(UCL)=D4R管制下限(LCL)=D3RRd2 σ=建立『解析用』管制圖(XR Chart)步驟1. 收集數(shù)據(jù)—依測(cè)定時(shí)間順序排列.2. 數(shù)據(jù)分組—以3~5個(gè)數(shù)據(jù)為一組最佳.3. 記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi).4. 計(jì)算平均值X—求各組平均值X.5. 計(jì)算全距R—求各組的全距.6. 計(jì)算總平均值X—求各組平均值X的總平均值X.7. 計(jì)算全距的平均值R—求各組全距的平均值R.8. 查係數(shù)A2,D4,D3並帶入公式計(jì)算管制界限.9. 繪製管制界線及中心線—X管制圖在上,R管制圖在下.—點(diǎn)在其數(shù)值之位置並以直線連接之.—流程圖.計(jì)量值管制圖分析流程全距均在管制界限內(nèi)嗎?是否只有一或二個(gè)點(diǎn)在管制界限外?否是是計(jì)算平均值的管制界限重新收集資料停止計(jì)算平均值的管制界限找出亦修正非機(jī)遇原因計(jì)算平均值的管制圖.全距失控3個(gè)以上的點(diǎn)在管制界限外全距值均在控制中.否是其餘的全距值均在管制界限內(nèi)嗎?剔除這一或二個(gè)全距值的樣本.重新計(jì)算X、R的全距管制界限.是建立『製程管制用』管制圖步驟.XR Chart適用製程：l 與XR Chart,但檢出力較差,故多以XR Chart取代之。 % % % % % % % % μ3σ μ2σ μσ μ μ+σ μ+2σ μ+3σ%% % CL LCL UCL 規(guī)格範(fàn)圍數(shù)據(jù) 計(jì)量值:一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用連 續(xù)量計(jì)量者數(shù)值數(shù)據(jù) 計(jì)數(shù)值:一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用以 計(jì)數(shù)者管制圖的種類l 計(jì)量值管制圖XR Chart (平均值與全距管制圖)XR Chart (中位數(shù)與全距管制圖)XRm Chart (個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖)XS Chart (平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖) l 計(jì)數(shù)值管制圖pChart (不良率管制圖)nPChart (不良數(shù)管制圖)CChart (缺點(diǎn)數(shù)管制圖)UChart
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