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衛(wèi)生統(tǒng)計學(xué)知識點(diǎn)總結(jié)(參考版)

2025-06-26 17:01本頁面
  

【正文】 。5常用的抽樣方法:單純隨機(jī)抽樣、系統(tǒng)抽樣、分層抽樣、整群抽樣、非概率抽樣。3組織計劃:調(diào)查員的挑選和調(diào)查員的培訓(xùn)。調(diào)查設(shè)計1調(diào)查設(shè)計是對調(diào)查研究所作的周密計劃,包括資料收集、整理和分析全過程的設(shè)想和安排。7服從雙變量正態(tài)分布的變量,既可以進(jìn)行兩者的線性相關(guān)分析,也可以進(jìn)行線性回歸分析,且有tr=tb,即這兩個檢驗完全等價。6線性回歸與線性相關(guān)的區(qū)別與聯(lián)系:⑴區(qū)別:①單位:相關(guān)系數(shù)r沒有單位,回歸系數(shù)b有單位;所以,相關(guān)系數(shù)與單位無關(guān),回歸系數(shù)與單位有關(guān);②應(yīng)用目的:說明兩變量間的關(guān)聯(lián)性用相關(guān)分析,說明兩者依存變化的數(shù)量關(guān)系則用回歸分析;③對資料的要求不同:線性回歸要求應(yīng)變量Y是服從正態(tài)分布的隨機(jī)變量;線性相關(guān)要求兩個變量X和Y為服從雙變量正態(tài)分布的隨機(jī)變量。5線性回歸的應(yīng)用:①用于計算總體條件均數(shù)的置信區(qū)間以及總體回歸線的置信帶;②用于計算個體Y預(yù)測值及其預(yù)測區(qū)間。3總體回歸系數(shù)β的統(tǒng)計推斷:總體回歸系數(shù)β是否為0的假設(shè)檢驗,可用方差分析或t檢驗。簡單回歸分析1回歸方程:=a+bX,b==2線性回歸模型的適用條件:①線性:因變量Y與自變量X稱線性關(guān)系;②獨(dú)立:每個個體觀察值之間互相獨(dú)立;③正態(tài)性:任意給定X值,對應(yīng)的隨機(jī)變量Y都服從正態(tài)分布;④等方差性:在一定范圍內(nèi)不同的X值所對應(yīng)的隨機(jī)變量Y的方差相等。 【對兩個反映屬性的分類變量,若有一份隨機(jī)樣本,可做交叉分類的頻數(shù)表,利用關(guān)于獨(dú)立性的檢驗和列聯(lián)系數(shù)來描述兩變量的關(guān)聯(lián)性】⑵交叉分類22表的關(guān)聯(lián)分析:=⑶22配對資料的關(guān)聯(lián)性分析:n≥40且Tmin≥5,=; n≥40且1≤T<5,=。關(guān)于兩個分類變量關(guān)聯(lián)的程度,用Pearson列聯(lián)系數(shù)來描述:r=,列聯(lián)系數(shù)r取值范圍在0~1之間。5秩相關(guān)系數(shù)的統(tǒng)計推斷:H0:ρs=0;H1:ρs≠0,α=,當(dāng)n≤50時,查附表14的rs界值表;當(dāng)n50時,計算檢驗統(tǒng)計量u,查t界值表。4秩相關(guān)系數(shù)的計算:r ==,1≤r≤1。只有散點(diǎn)有線性趨勢時,才能進(jìn)行直線相關(guān)分析。以上兩種方法的決策規(guī)則相同:若P,不拒絕零假設(shè),即認(rèn)為兩個變量間無相關(guān)性;若P,拒絕零假設(shè),接受備擇假設(shè),即認(rèn)為兩變量間相關(guān)性有統(tǒng)計學(xué)意義。方法:①直接查相關(guān)系數(shù)臨界值表,根據(jù)自由度v=n2,差臨界值表,比較與臨界值,統(tǒng)計量越大,概率P越?。唤y(tǒng)計量越小,概率P越大。r的絕對值大小表示兩變量之間線性相關(guān)的密切程度,越接近于1,密切程度越高,越接近于0,密切程度越低。②樣本相關(guān)系數(shù),是兩個隨機(jī)變量之間線性相關(guān)強(qiáng)度和方向的統(tǒng)計量,沒有單位,取值范圍為1r1。①總體相關(guān)系數(shù)ρ,若ρ≠0,稱X和Y線性相關(guān);若ρ=0,則簡稱X和Y不相關(guān)。⑶注意事項:①編秩中若有相同的數(shù)據(jù)在同一組則依次編秩;若相同數(shù)值在不同組內(nèi),求平均秩次;②當(dāng)相持出現(xiàn)較多時(超過25%),需使用校正公式;③當(dāng)結(jié)論為拒絕H0,認(rèn)為多組處理效應(yīng)不全相同時,常需進(jìn)一步作多個樣本的兩兩比較的秩和檢驗。5KruskalWallis H檢驗:⑴目的:用于推斷定量變量或有序分類變量的多個總體分布有無差別。⑷基本思想:假設(shè)含量為n1與n2的兩個樣本(且n1≤n2),來自同一總體或分布相同的兩個總體,則n1樣本的秩和T1與其理論秩和n1(N+1)/2相差不大,即[T n1(N+1)/2]僅為抽樣誤差所致。⑵方法要點(diǎn):①將兩組數(shù)據(jù)由小到大同一編秩,以樣本列數(shù)小者為n1,其秩和為T,查T界值表確定P值;②正態(tài)近似法:當(dāng)n110或n2 n110時,T分布接近均數(shù)為n1(N+1)/2,方差為n1 n2(N+1)/2的正態(tài)分布,可用Z檢驗。當(dāng)n50,用Z檢驗。若假設(shè)成立,樣本差值的正秩和與負(fù)秩和應(yīng)相差不大,均接近n(n+1)/4;當(dāng)正負(fù)秩和相差懸殊,超出抽樣誤差可解釋的范圍時,則有理由懷疑該假設(shè),從而拒絕H0。②配對設(shè)計資料的符號秩和檢驗:由檢驗配對樣本的差值是否來自中位數(shù)為0的總體,來推斷兩個總體中位數(shù)是否相等,即兩種處理效應(yīng)是否相同。3wilcoxon符號秩(和)檢驗:⑴目的:可用于推斷總體中位數(shù)是否等于某個指定值,還可以推斷配對樣本差值的總體中位數(shù)是否為0。由于丟棄了觀察值的具體數(shù)據(jù),只保留了大小次序的信息,凡適合參數(shù)檢驗的資料,應(yīng)首選參數(shù)檢驗。②非參數(shù)檢驗:不以特定的總體分布為前提,也不針對決定總體分布的幾個參數(shù)做推斷,進(jìn)行的是分布之間的檢驗。基于秩次的非參數(shù)檢驗1假設(shè)檢驗的方法有:參數(shù)檢驗和非參數(shù)檢驗。⑵配對RR列聯(lián)表資料的檢驗:H0:兩變量的概率分布相同;H1:兩變量的概率分布不相同。6配對設(shè)計資料的X2檢驗:⑴配對22列聯(lián)表資料的X2檢驗(兩種處理方法陽性率的比較):H0:兩總體陽性率相等;H1:兩總體陽性率不等。②實(shí)驗組與同一個對照組的比較:分析目的為各實(shí)驗組與同一個對照組的比較,而各實(shí)驗組間不須比較。RC列聯(lián)表的分割:①多個實(shí)驗組間的兩兩比較:分析目的為k個實(shí)驗組間,任兩個率均進(jìn)行比較時,須進(jìn)行次獨(dú)立的四格表檢驗,再加上總的行列表資料的檢驗,共次檢驗假設(shè)。=n,v=(R1)(C1)要求:理論頻數(shù)不宜太小,一般不宜有1/5以上的格子的理論頻數(shù)小于5,或不宜有一個理論頻數(shù)小于1,否則可能會產(chǎn)生偏性。① n≥40且Tmin≥5, =,=,v=1;② n≥40且1≤T<5,校正公式:=,=,v=1;③ n<40或T<1,或P≈α?xí)r,F(xiàn)isher精確概率法。若Pα,不拒絕H0。若假設(shè)成立,則各格子的實(shí)際頻數(shù)與理論頻數(shù)相差不應(yīng)該很大,因而算出的X2值也不會很大,即出現(xiàn)較大值的概率P很小。⑵擬合優(yōu)度檢驗是根據(jù)樣本的頻率分布檢驗其總體分布是否等于給定的理論分布。⑴分布①是一種連續(xù)型隨機(jī)變量的概率分布,按分布的密度函數(shù)可給出自由度=1,2,3,……的一簇分布曲線。檢驗1 檢驗用途:常用于分類變量資料的統(tǒng)計推斷,主要用途包括:①單樣本分布的擬合優(yōu)度;②比較兩個或多個獨(dú)立樣本頻率分布;③比較配對設(shè)計兩樣本頻率和兩頻率分布;④推斷兩個變量或特征之間有無關(guān)聯(lián)性。常用的數(shù)據(jù)變換有對數(shù)變換、平方根變換、平方根反正弦變換。③曲線直線化。7數(shù)據(jù)變換的目的:①使各組達(dá)到方差齊性;②使資料轉(zhuǎn)換為正態(tài)分布,以滿足方差分析和t檢驗的應(yīng)用條件。方差分析后不能作兩兩比較的t檢驗的原因:會增加犯一類錯誤的概率。5重復(fù)測量資料方差分析的前提條件:①各樣本是相互獨(dú)立的隨機(jī)樣本;②各樣本來自正態(tài)總體;③各處理組總體方差相等,即方差齊性;④需滿足協(xié)方差陣的球形性或復(fù)合對稱性。幾種設(shè)計方案中SS和v的分解:設(shè)計方案 SS的分解 v 完全隨機(jī)設(shè)計 SS=SS組間+SS組內(nèi) v=v組間+v組內(nèi)隨機(jī)區(qū)組設(shè)計 SS=SS處理+SS區(qū)組+SS誤差 v=v處理+v區(qū)組+v誤差析因設(shè)計 SS= SS處理+ SS誤差 v=v處理+ v誤差 =(SSA+SSB+SSAB)+SS誤差 =(vA+vB+vAB)+ v誤差重復(fù)測量設(shè)計(兩因素) SS=SS受試對象間+SS受試對象內(nèi) v= v受試對象間+v受試對象內(nèi) =(SS處理+SS個體間誤差)+ =(v處理+v個體間誤差)+(SS時間+SS處理與時間交互+SS個體內(nèi)誤差) (v時間+v處理與時間交互+v個體內(nèi)誤差)4重復(fù)測量資料和隨機(jī)區(qū)組設(shè)計資料的區(qū)別:①同一受試對象在不同時間點(diǎn)的數(shù)據(jù)高度相關(guān);②重復(fù)測量資料中的處理因素在受試對象(看成區(qū)組)間為隨機(jī)分配,但受試對象(看
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