衛(wèi)生化學(xué)第六版課本習(xí)題參考答案1(參考版)
2025-06-23 04:22本頁(yè)面
【正文】 富集方法與溶出伏安法完全相同；但溶出方式、測(cè)量方法和定性定量依據(jù)不同，如下：溶出伏安法電位溶出法溶出方式點(diǎn)氧化或電還原恒電流溶出或加氧化劑溶出測(cè)量方法測(cè)量溶出過(guò)程電流隨電壓變化記錄電位隨時(shí)間的變化定性依據(jù)峰電位溶出電位定量依據(jù)峰電流溶出時(shí)間 16。 試比較電位溶出法和溶出伏安法的異同點(diǎn)。 記錄溶出時(shí)電位隨時(shí)間變化的變化的曲線，即 φ－t曲線。 簡(jiǎn)述電位溶出法的基本原理。這些固體電極的共同缺點(diǎn)是電極面積和電沉積金屬活度可能發(fā)生連續(xù)變化。碳電極時(shí)目前使用最廣泛的固體電極，包括玻碳、石墨和碳糊電極。鉑是優(yōu)良的惰性金屬材料，在校正的電位范圍下工作，性能穩(wěn)定。缺點(diǎn)是：再線性不如懸汞電極；制備電極時(shí)必須清潔電極固體表面。缺點(diǎn)是：電極表面積與體積比小，電極效率低，影響靈敏度和選擇性；攪拌速度不能太快，否則汞滴易脫落或變形。非汞電極多為貴金屬材料和各種碳電極。但溶出法不能用滴汞電極，只能用固定電極。 答：溶出伏安法的工作電極時(shí)極化電極，通?？煞譃楣姌O和非汞電極兩類。試說(shuō)明溫度對(duì)pH測(cè)量的影響。當(dāng)玻璃插入待測(cè)液后，由于玻璃膜相和待測(cè)液相中濃H+度不同，產(chǎn)生離子擴(kuò)散交換，形成膜電位，也即溶液對(duì)H+產(chǎn)生響應(yīng)，電極電位φISE的大小隨溶液中活度的改變而變化。測(cè)定含量較高試樣(濃度＞103mol/L）準(zhǔn)確度較高，可與一般滴定分析相當(dāng)。 地位滴定法與直接電位法不同，它是測(cè)量電位的變化，而不是以某一確定的電位值為定量依據(jù)。 電位滴定法特別適合有色溶液或渾濁溶液中某些物質(zhì)以及無(wú)合適指示劑的滴定。（不全面，參照課本P118~P119） 無(wú) 簡(jiǎn)述電位滴定法的特點(diǎn)及應(yīng)用范圍。K i，j=K i，j表示能產(chǎn)生相同電位時(shí)待測(cè)離子i與干擾離子j的活度比。這就是電位分析法定量測(cè)定的依據(jù)。電極斜率：無(wú)響應(yīng)時(shí)間：無(wú)（老師說(shuō)這個(gè)不要求記） 直接電位分析法的測(cè)定測(cè)定依據(jù)是什么？ 答：將指示電極、參比電極和待測(cè)試液組成一個(gè)測(cè)量電池： 指示電極 | 待測(cè)試液（a）|| 參比電極 電池電動(dòng)勢(shì)為：E電池= φ參 － φ指=K177。 檢測(cè)下限：電極能夠定性檢測(cè)出的最小限度稱為電極的檢測(cè)下限。 指示電極：是指電極電位隨待測(cè)離子活度（濃度）的變化而變化，且符合Nernst 方程的電極。三是被測(cè)原子在原子化器（火焰）中停留時(shí)間短，不利于吸收。 消除或減少背景吸收的方法：一般采用儀器校正背景法，有鄰近線、氘燈背景校正、塞曼效應(yīng)背景校正和自吸效應(yīng)背景校正法 無(wú) Why is an electrothermal atomizer more more sensitive than a flame atomizer ? 答：火焰是采用霧化進(jìn)樣：一是試液的利用率度低，大部分試液流失，只有小部分噴霧液進(jìn)入火焰參與原子化。另外，提高原子化溫度、化學(xué)分離等也可消除或減小電離干擾。 消除光譜干擾的方法有另選分析線，減小狹縫寬度，或者預(yù)先分離樣品中的干擾元素。 實(shí)際工作中，T通常小于3000K，大多元素的最強(qiáng)共振線都低于600nm，故對(duì)大多數(shù)元素來(lái)說(shuō)Nj/No均小于1%，Nj與No相比可忽略不記，基態(tài)的原子數(shù)No可認(rèn)為就是原子總數(shù)。當(dāng)實(shí)驗(yàn)條件一定時(shí)，吸光度與待測(cè)元素的濃度呈線性關(guān)系，這就是原子吸收分光光度法定量的依據(jù)。當(dāng)一束頻率為 ν ，強(qiáng)度為 I0 的共振輻射通過(guò)厚度為l的原子時(shí)，一部分光被吸收，對(duì)共振輻射的吸收程度符合朗伯比爾定律：A=Kc。 基本原理和儀器結(jié)構(gòu)的異
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