真空電子顯微量測儀((參考版)

【摘要】真空電子顯微量測儀(SEM)儀器介紹SEM工作原理:SEM主要構造示意圖如圖一與圖二所示。電子槍利用電源加熱鎢絲燈（TungstenFilament）上，燈絲所放出之熱電子射出，~40kV的電壓加速，進而產(chǎn)生電子束。產(chǎn)生細小之電子束經(jīng)過電磁透鏡系統(tǒng)，形成直徑極小之電子探束（ElectronProbe）而後照射在試樣表面。圖二、圖一、圖三、電子束在

2025-06-22 04:22

電子顯微鏡第五章掃描電子顯微術(參考版)

【摘要】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學成分、晶體結構或位向等的差異，在電子束作用下產(chǎn)生不同強度的物理信號，使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度，獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成：二次電子產(chǎn)額強烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如

2024-12-11 11:08

掃描電子顯微鏡及能譜儀(sem(參考版)

【摘要】掃描電子顯微鏡及能譜儀（SEM&EDX）測試服務項目負責人：馬文15901622012@儀器簡介掃描電鏡檢測電子束與樣品相互左右后產(chǎn)生的各種物理信號，用于成像或者得到樣品表面的元素信息。它具有分辨率高、景深大、放大倍數(shù)連續(xù)可調(diào)、制樣簡單、保真度好的特點，可廣泛應用于企業(yè)生產(chǎn)和科學研究中的顯微形貌與成分分析中。服務領域l材料表面形貌觀測；l微粒物質

2025-06-27 03:53

透射電子顯微論文(參考版)

【摘要】2011年春季學期研究生課程考核考核科目:電子顯微分析技能訓練學生所在院（系）:材料學院學生所在學科:材料加工工程學生姓名:學號:學生類別:考核結果閱卷人

2025-06-26 03:23

電子顯微鏡第五章掃描電子顯微術(1)(參考版)

【摘要】第五章掃描電子顯微術(SEM)SEM的特點?樣品制備較簡單，甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大，如直徑可達10cm以上。?能在很大的放大倍數(shù)范圍工作，從幾倍到幾十萬倍，相當于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個樣品，然后迅速轉換到觀察某些選擇的結構的細節(jié)，這給觀察帶來很大的方便

2025-01-11 03:51

掃描電子顯微分析(參考版)

【摘要】掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析1．掃描電子顯微鏡的工作原理及特點掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發(fā)射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束

2025-01-04 05:37

掃描電子顯微術：例子(參考版)

【摘要】掃描電子顯微術：例子TheeffectofAcceleratingVoltageonSEMImages30kV10kV5kV3kVSpecimen:Toner墨粉Whenhighacceleratingvoltageisusedasat(a),itishardtoobtainthecontr

2025-01-04 05:38

電子顯微鏡(參考版)

【摘要】第三部分電子顯微分析1武漢理工大學資環(huán)學院管俊芳第二章電子顯微鏡成像原理電子顯微分析1儀器構型2成像2武漢理工大學資環(huán)學院管俊芳1儀器構型（1）電子顯微分析第二章電子顯微鏡成像原理3武漢理工大學資環(huán)學院管俊芳1儀器構型（2）電子顯微分析第二

2025-01-03 00:17

[工學]電子顯微分析(參考版)

【摘要】電子背散射衍射ElectronBackscatterDiffraction(EBSD)掃描電鏡的一個主要附件，可以進行結構分析對材料進行微觀分析，要看其形態(tài)如何，晶粒大小、析出相、是等軸的還是條狀的，等等，可以用光學顯微鏡、SEM、TEM等來觀察；要研究其微區(qū)成分，可用SEM+EDS，用EPMA，用

2024-12-10 23:44

電子顯微技術ppt課件(參考版)

【摘要】掃描電子顯微技術2022年3月?掃描電鏡是近幾十年來才完善起來的一種光學儀器,可對較大試樣進行原始表面觀察,可對試樣進行形貌、成分、晶體學、陰極發(fā)光、感應電導等方面的分析。?在試樣室內(nèi)加入冷卻、加熱、彎曲、離子腐蝕等附件，可進行動態(tài)觀察。?目前，透射掃描電鏡的分辨率已達5?，表面掃描電鏡二次電子象以優(yōu)于60&

2025-05-04 18:02

實驗透射電子顯微鏡及電子顯微鏡的使用(參考版)

【摘要】實驗八-1細胞超微結構觀察與透射電子顯微鏡的使用掌握透射電子顯微鏡的成像基本原理及其應用實驗目的與要求一、透射電子顯微鏡的成像基本原理在真空條件下，電子束經(jīng)高壓加速后，穿透樣品時形成散射電子和透射電子，它們在電磁透鏡的作用下在熒光屏上成像。顯微鏡分辨本領光源透鏡真空成像原理LM

2025-05-17 22:43

掃描電子顯微鏡(參考版)

【摘要】2009-07招標設備清單序號設備名稱數(shù)量技術參數(shù)備注1掃描電子顯微鏡1見附件進口2透射電子顯微鏡1見附件進口3冷凍超薄切片機1見附件進口附件：1、掃描電子顯微鏡（進口）場發(fā)射掃描電子顯微鏡主要用于材料表面的微觀形貌的高分辨觀察，可配備X射線能譜儀等附件，可同時進行微區(qū)的成分分析，應具有配備X射線

2025-06-27 03:46

電子顯微術ppt課件(參考版)

【摘要】第六章掃描電子顯微書LettuceField(16MDRAM)TheoryofScanningElectronMicroscopeHitachiHigh-TechnologiesCorporationNanoTechnologiesSalesDept.1.ResolutionImprovement30kV1kVn

2025-05-15 03:17

[工學]電子顯微分析(1)(參考版)

【摘要】電子衍射分析金蒸發(fā)膜的多晶衍射花樣Ni基高溫合金中M23C6碳化物的單晶衍射花樣Bragg定律：2dsin?=?電子衍射的衍射角很小，??1?電子衍射的相機常數(shù)R=Ltg2?,由于??1?，tg2??2sin?，由Bragg定律，可得：Rd=

2025-01-22 11:34

掃描電子顯微鏡(參考版)

【摘要】掃描電子顯微鏡(ScanningElectronicMicroscopy,SEM)原理?它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析。?現(xiàn)在SEM都與能譜（EDS）組合，可以進行成分分析。所以，SEM也是顯微結構分析的

2024-12-31 03:59

真空電子顯微量測儀(-文庫吧在線文庫

真空電子顯微量測儀((完整版)

真空電子顯微量測儀((更新版)

真空電子顯微量測儀((專業(yè)版)

真空電子顯微量測儀((留存版)