【正文】 又因為這種襯 度產生于基體，故又稱 基體襯度 應變襯度比較復雜，其特征取決于第 二相粒子的形狀及其應變場的強度分 布，目前對球形粒子引起的徑向對稱 的應變場研究較透徹，球形粒子的應 變襯度見圖 1125圖 1124 球形粒子引起的應變場第七節(jié) 晶體缺陷分析51三、第二相粒子 如圖 1125所示，球形粒子的應變襯度蝶狀， 中間總是存在一條無襯度線，無襯度線的方向與操作反射 g垂直，說明對應位置的位移矢量 R與操作反射 g垂直，因滿足 g ?R = 0，而不 顯示襯度 若改變操作反射 g 的方 向，無襯度線的方向也 隨之改變，總保持與操 作反射 g 垂直，這是球 形粒子應變襯度的主要 特征圖 1125 球形第二相粒子的應變襯度無襯度線第七節(jié) 晶體缺陷分析52三、第二相粒子 第二相粒子自身所產生襯度稱 沉淀物襯度 ，主要包括：1) 取向襯度 第二相和基體因滿足布拉格條件的程度存在差 別 ，導致衍射束強度的差別 而產生的襯度 ， 稱為取向襯度 取向襯度的特征 是第二相顯示均 勻的亮或均勻的暗 這種第二相的晶體結構通常和基 體有較大差別，會出現(xiàn)其衍射斑 點，利用第二相的衍射束成暗場 像，以顯示第二相的形態(tài)，這是 一種常用的分析技術圖 1126 鋁合金中第二相的取向襯度第七節(jié) 晶體缺陷分析53三、第二相粒子1) 取向襯度 圖 1127是分別用三個不同取向的 ??相衍射束獲得的暗場像，以顯示不同取向的 ??相的形狀、大小和分布圖 1127 高溫合金中 ??相的暗場像12 3暗場 1暗場 3暗場 2衍射花樣第七節(jié) 晶體缺陷分析54四、第二相粒子2) 結構因子襯度 當 第二相和基體的結構因子存在差別 時，也 會導致衍射束強度出現(xiàn)差別， 第二相 顯示出不同于基體的 襯度 ， 稱為結構因子襯度 顯示結構因子襯度的第二相往 往與基體的晶體結構相同，如 圖 1128是鋁合金中 衍 襯像，照片中彌散分布的細小 顆粒即為 ，其襯度來源 為結構因子襯度圖 1128 第七節(jié) 晶體缺陷分析55。因此， g ?b = 0 稱為 位錯不可見性判據(jù)第七節(jié) 晶體缺陷分析圖 1120 與膜面平行的螺型位錯線 43二、位錯 利用位錯的不可見性判據(jù)可測定位錯的布氏矢量 b，方法原理如下：當位錯線不可見時，說明其滿足 g ?b = 0 的不可見判據(jù)，此時b ? g， b 位于 g 所對應的衍射晶面 (hkl) 內若分別選擇兩個操作反射成像，使位錯線均不可見，則滿足 g1?b = 0 g2?b = 0說明 b平行于 g1 和 g2所對應的晶面 (h1k1l1)和 (h2k2l2)的交線，聯(lián)立方程可求出位錯布氏矢量 b 的方向第七節(jié) 晶體缺陷分析44二、位錯 表 104 是面心立方晶體全位錯的 g?b值表，可借助表中數(shù)據(jù)測定位錯布氏矢量操作反射gg?b[110]/2 [110]/2 [101]/2 [101]/2 [011]/2 [011]/2 1 1 11 1 1 1 1 1 1 1 1 2 0 0 0 2 0 0 0 2100111001101101010101010110111000110011011表 104 面心立方晶體全位錯的 g?b值第七節(jié) 晶體缺陷分析45二、位錯 圖 1121 刃型位錯襯度的產生及其特征第七節(jié) 晶體缺陷分析46二、位錯 當 g ?b ? 0時， 位錯線顯示襯度，下面以韌性位錯為例說明其襯度的產生及其特征，見圖 1121位錯線 D處插入的半原子面為 (hkl) ，因局部畸變使其的兩側的 (hkl) 取向向相反方向偏轉， 而引入附加的偏離參量 s?，在位錯線左側 s?? 0，在位錯線右側 s??0，如圖 1121a圖 1121 刃型位錯襯度的產生及其特征第七節(jié) 晶體缺陷分析47二、位錯調整晶體取向，使位錯線 (D)處及遠離位錯線 (A、 C)處 (hkl)略偏離布拉格條件， 且偏離參量 s0 ?0， 用 (hkl)操作反射成像，將在 s0+s?=0的 (D?)位置；獲得最大衍射強度 ，見圖 1020b因此，位錯線的像出現(xiàn)在 D?處， 位錯線像寬約 10nm； 偏離實際位置的距離也約為 10nm，見圖 1020c圖 1121 刃型位錯襯度的產生及其特征第七節(jié) 晶體缺陷分析48二、位錯 因位錯線附近某位置滿足布拉格條件，而獲得最高衍射強度，在明場像中位錯像顯示為暗線條