spc精進(jìn)教育教材(參考版)
2025-04-19 12:32本頁面
【正文】 6. 點子的分佈不呈隨機分佈。,任何二點在2σ~3σ間。25% P(1P)管制上限(UCL)=P+3 n P(1P)管制下限(LCL)=P3 n l 當(dāng)樣組樣本n超過177。l 爭取時效性。l 產(chǎn)品係非常貴重之物品。l 屬極為均勻一致之產(chǎn)品。公式：X管制圖：中心線 (CL)=X管制上限(UCL)=X+A2R管制下限(LCL)=XA2RR管制圖：中心線 (CL)=R管制上限(UCL)=D4R管制下限(LCL)=D3RRd2 σ=建立『解析用』管制圖(XR Chart)步驟1. 收集數(shù)據(jù)—依測定時間順序排列.2. 數(shù)據(jù)分組—以3~5個數(shù)據(jù)為一組最佳.3. 記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi).4. 計算平均值X—求各組平均值X.5. 計算全距R—求各組的全距.6. 計算總平均值X—求各組平均值X的總平均值X.7. 計算全距的平均值R—求各組全距的平均值R.8. 查係數(shù)A2,D4,D3並帶入公式計算管制界限.9. 繪製管制界線及中心線—X管制圖在上,R管制圖在下.—點在其數(shù)值之位置並以直線連接之.—流程圖.計量值管制圖分析流程全距均在管制界限內(nèi)嗎?是否只有一或二個點在管制界限外?否是是計算平均值的管制界限重新收集資料停止計算平均值的管制界限找出亦修正非機遇原因計算平均值的管制圖.全距失控3個以上的點在管制界限外全距值均在控制中.否是其餘的全距值均在管制界限內(nèi)嗎?剔除這一或二個全距值的樣本.重新計算X、R的全距管制界限.是建立『製程管制用』管制圖步驟.XR Chart適用製程：l 與XR Chart,但檢出力較差,故多以XR Chart取代之。 % % % % % % % % μ3σ μ2σ μσ μ μ+σ μ+2σ μ+3σ%% % CL LCL UCL 規(guī)格範(fàn)圍數(shù)據(jù) 計量值:一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用連 續(xù)量計量者數(shù)值數(shù)據(jù) 計數(shù)值:一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用以 計數(shù)者管制圖的種類l 計量值管制圖XR Chart (平均值與全距管制圖)XR Chart (中位數(shù)與全距管制圖)XRm Chart (個別值與移動全距管制圖)XS Chart (平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖) l 計數(shù)值管制圖pChart (不良率管制圖)nPChart (不良數(shù)管制圖)CChart (缺點數(shù)管制圖)UChart
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