【正文】 更深深感謝我的父母長(zhǎng)輩，是他們的關(guān)懷和支持一直鼓勵(lì)和引導(dǎo)我不斷成長(zhǎng)和進(jìn)步。數(shù)月以來(lái)的輔導(dǎo)，姜師姐認(rèn)真負(fù)責(zé)的工作態(tài)度、嚴(yán)謹(jǐn)務(wù)實(shí)的科學(xué)作風(fēng)以及不畏艱難孜孜以求的科學(xué)探索精神成為我學(xué)習(xí)的榜樣，這些必將使我終身受益。然后我要十分感謝一直指導(dǎo)我的研究生姜師姐。參考文獻(xiàn)[1] [J]. 基礎(chǔ)自動(dòng)化1997,(1):1~6. [2] [M].貴州:貴州教育出版社，1993[3] 黃素逸,[M].武漢:華中理工大學(xué)出版社，1985[4] [M]. 北京：中航工業(yè)北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所，2009[5] 倪震楚. 現(xiàn)代溫度測(cè)量技術(shù)綜述[J]. 消防理論研究. 2003, 22 (4) : 270~272.[6] Gabon D. A New Microscopic Principle [J].Nature，1948，161:777~778.[7] Rigden, J. Gordon, ,1962, Proc. Inst. Radio , 2367.[8] M. V. Rao, R. Samuel strain analysis in A. Ananthan, Application of ESPImethod for strain analysis in thin wall cylinder [J].Optics and Lasers in Engineering, 2003, 40:563~571.[9] Leendertz J Displacement Measurement on Scattering Surfaces Utilizing Speckle Effect [J].J Phys E SciInstrument,1970,3 (3) :214~218.[10] Butters J N , Leendertz J A. Speckle pattern and holographic techniques in engineering metrology[J] .Opt Laser ,3(26).[11] Makovski A. Time lapse inteferometry and confouring using television system[C]./Appl. Opt. 1971,10(12):2722~2730.[12] , and . Electronic speckle pattern interferometry using digital image procesing technique[C]. . 1980 19(11):1879~1883[13] 秦玉文，戴嘉彬，[J].,11(4):410~416[14] 張東升,[J].,17(2):100~104[15] 張東升，劉景偉，[J].,10(4):356~365[16] [D].:天津大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院，2004[17] 黃素逸,關(guān)于用激光全息干涉法測(cè)量溫度場(chǎng)的若干問(wèn)題[J].華中理工大學(xué)學(xué)報(bào)，2006,15(8):22[18] 陳熙謀，光學(xué)[M].北京：北京大學(xué)出版社，2011:207[19] [M].北京:中國(guó)計(jì)量出版社，1995:212~240[20] [M].北京:兵器工業(yè)出版社，1992:258~261[21] SongYaozu,WuYing. Investigation of speckle displacement effects on speckle interferometry[J]. , 1860:381~389[22] 陳華平，散斑干涉技術(shù)及其圖像處理系統(tǒng)的研究[D].:廣東工業(yè)大學(xué)，2004[23] 于妍妍，盧榮勝，數(shù)字散斑干涉法測(cè)量金屬熱變形[D].:合肥工業(yè)大學(xué)，2009[24] 張霖，徐平，[J].,18 (5) :24~26[25] 劉喆，王文生，數(shù)字散斑干涉術(shù)測(cè)量物面位移[D].：長(zhǎng)春理工大學(xué)，2009[26] [M].北京：機(jī)械工業(yè)出版社，~78[27] [D].碩士學(xué)位論文. 安徽：合肥工業(yè)大學(xué)，2008[28] [M].北京：高等教育出版社，~17[29] [D].：合肥工業(yè)大學(xué)，2008[30] 伏思華，于起峰. 數(shù)字散斑條紋圖的濾波方法[J].應(yīng)用光學(xué)，2005, 26 (4):5~8　致謝為期一個(gè)學(xué)期的畢業(yè)論文接近尾聲，首先要感謝我的指導(dǎo)老師王老師。 展望由于時(shí)間倉(cāng)促，加上實(shí)驗(yàn)室條件限制，本文只是初步對(duì)此進(jìn)行了研究，要達(dá)到精確測(cè)量必須克服很多數(shù)據(jù)采集技術(shù)問(wèn)題。為了解決實(shí)驗(yàn)光路調(diào)試難度大，耗費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)的問(wèn)題，本文提出了將實(shí)驗(yàn)分成兩個(gè)步驟進(jìn)行的思路，即先進(jìn)性散斑干涉法應(yīng)力變形測(cè)量實(shí)驗(yàn)，而后在前一個(gè)實(shí)驗(yàn)取得良好的實(shí)驗(yàn)結(jié)果基礎(chǔ)上，再進(jìn)行散斑干涉測(cè)溫實(shí)驗(yàn)，取得了良好的效果。在這里我們必須說(shuō)明，該模型的建立是在假設(shè)待測(cè)試件只發(fā)生一維形變的前提下，并且將試件固定在金屬固體的基礎(chǔ)上建立起來(lái)的，客觀上具有一定的局限性，更深入的討論有待進(jìn)一步研究。對(duì)此，本文主要進(jìn)行了以下研究工作：（1）在全面了解了數(shù)字散斑干涉技術(shù)的特點(diǎn)后，提出了利用該技術(shù)進(jìn)行溫度測(cè)試的研究命題，這是一種新的嘗試，是理論上的創(chuàng)新。5 總結(jié)與展望 全文總結(jié)隨著科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，溫度成為與許多行業(yè)密切相關(guān)的一個(gè)物理量，因此溫度測(cè)試技術(shù)逐漸成為國(guó)內(nèi)外研究的熱門課題。對(duì)于這一部分具體處理過(guò)程，已作為一個(gè)獨(dú)立的課題由他人進(jìn)行研究，本文在這里不再介紹。這時(shí)2次項(xiàng)到5次項(xiàng)的系數(shù)很小，近似為零。39。39。.39。.39。對(duì)于它的處理，我們可以采用數(shù)值擬合的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)，得到與的函數(shù)關(guān)系。 銅膨脹系數(shù)的處理由熱力學(xué)知識(shí)可知，金屬銅的膨脹系數(shù)是溫度的函數(shù)，與壓強(qiáng)無(wú)關(guān)。彈性模量由材料成分決定，受溫度影響變化微小，也可以作為常量處理，但是壓制純銅和冷拔純銅的彈性模量略有區(qū)別，這里要引起注意。其中銅板初始溫度，初始厚度，激光波長(zhǎng)均為確定參量，可以直接測(cè)量確定。4 實(shí)驗(yàn)后期分析處理 實(shí)驗(yàn)相關(guān)參數(shù)分析在第二章我們建立了應(yīng)變與散斑干涉條紋數(shù)以及應(yīng)變與溫度的關(guān)系，現(xiàn)在我們將式與式聯(lián)立，消去共同參量，可以得到： ()上式即為聯(lián)系溫度與散斑干涉條紋數(shù)的函數(shù)關(guān)系式，也是實(shí)驗(yàn)后期處理的理論依據(jù)。接下來(lái)詳細(xì)介紹了實(shí)驗(yàn)過(guò)程中所用到器件的相關(guān)知識(shí)以及選取理由，為接下來(lái)的實(shí)驗(yàn)過(guò)程打下基礎(chǔ)；接著給出了實(shí)驗(yàn)光路圖，確立了整個(gè)實(shí)驗(yàn)要分兩步走的思路。運(yùn)用matlab軟件處理采集到的散斑圖樣，得到散斑干涉條紋圖。連續(xù)重復(fù)操作20次，停止加熱。接下來(lái)就可以給試件加熱處理了，將加熱板放置在待測(cè)物體背面，使加熱板與銅板盡量全面接觸，均勻加熱。故從實(shí)驗(yàn)裝置和步驟上，本實(shí)驗(yàn)與前一個(gè)實(shí)驗(yàn)比較類似,下面具體介紹實(shí)驗(yàn)步驟：，其余裝置保持不變。 實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)物圖 計(jì)算機(jī)采集的相鄰編號(hào)散斑圖樣 相減算法處理后得到的散斑干涉條紋圖 散斑干涉法金屬熱變形測(cè)量實(shí)驗(yàn)熱變形測(cè)量實(shí)驗(yàn)是本章的重點(diǎn)，以上應(yīng)力變形實(shí)驗(yàn)已經(jīng)為該實(shí)驗(yàn)的進(jìn)行做好了準(zhǔn)備。這里需要注意的是在旋緊螺栓之后，不要馬上進(jìn)行圖樣采集，要等待測(cè)試件平穩(wěn)后再進(jìn)行記錄。這時(shí)首先采集一張散斑圖樣，并編號(hào)記錄；然后調(diào)節(jié)試件夾具背后的的旋轉(zhuǎn)螺栓開(kāi)始給試件加壓，然后采集一次圖樣，并編號(hào)記錄；這樣采集8到10張圖樣即可。調(diào)節(jié)CCD接收表面與透鏡的距離，使屏幕上得到最清晰、最完整的散斑圖像。放入被測(cè)試件和CCD攝像機(jī)，調(diào)節(jié)分光鏡上二維調(diào)整臺(tái)的微調(diào)旋扭，使被試件反射的光的中心照射到CCD攝像機(jī)接收表面上。調(diào)整HeNe激光器激光管的俯仰，使激光器發(fā)出的光束平行于工作平臺(tái)的工作面。本實(shí)驗(yàn)利用試件夾具背后的旋轉(zhuǎn)螺栓（帶有刻度）來(lái)給銅片施加不同的壓力，具體實(shí)驗(yàn)步驟如下： 調(diào)平實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。下面我們分別介紹這兩個(gè)實(shí)驗(yàn)的具體過(guò)程。 離面位移測(cè)量光路圖 激光散斑干涉測(cè)量實(shí)驗(yàn)散斑干涉測(cè)量光路涉及參考光與物光的相互干涉，由于兩束光之間的光程差大小以及光強(qiáng)度是否相同以及周圍雜質(zhì)光的干擾等都會(huì)直接影響散斑干涉條紋的產(chǎn)生與否及質(zhì)量好壞，加上儀器準(zhǔn)直繁瑣，受熱金屬試件變形不明顯等因素的影響，這就決定了實(shí)驗(yàn)前的調(diào)試工作將會(huì)耗費(fèi)大量時(shí)間。本實(shí)驗(yàn)選用型號(hào)為ThermoVision A40的紅外熱像儀進(jìn)行非接觸式測(cè)量物體表面的溫度，它具有精確的非接觸溫度測(cè)量、高質(zhì)量的紅外熱圖像(320240像素)及無(wú)需維護(hù)的非制冷微量熱型探測(cè)器，堅(jiān)固和緊湊，內(nèi)置聚焦馬達(dá)/自動(dòng)聚焦。紅外熱像儀能夠?qū)⑻綔y(cè)到的熱量精確量化，不僅能夠觀察熱圖像，還能夠?qū)Πl(fā)熱的故障區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確識(shí)別和嚴(yán)格分析。數(shù)字化后的圖像信號(hào)經(jīng)各種圖像處理、如比例縮放、裁剪、位屏蔽后，利用PCI總線，傳到VGA卡顯示或計(jì)算機(jī)內(nèi)存中存儲(chǔ)。數(shù)據(jù)的傳送過(guò)程是由圖像卡控制的，無(wú)需C