掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡stm與afm(參考版)
2025-03-25 04:26本頁(yè)面
【正文】 （使用位相 檢測(cè)系統(tǒng) ） 形 貌 以外 的信息 ? LFM ： 橫向力顯微鏡 ? Current Imaging ： 電 流測(cè)定 ? Phase Imaging ： 位相檢測(cè) ? Force Modulation ： 粘 彈 性測(cè)定 ? MFM ： 磁力顯微鏡 ? EFM ： 電位顯微鏡 ? Nano Indentation ： 超微硬度測(cè)定 ? Force Curve ： 力曲線 ? ?????? 硬盤(pán) 表面形 貌 像（左） ， 基 片 上 的紋理， 同 一 視野 的 MFM像（右） 觀察到 磁性信息 。 AFM ?? 基本原理 Laser Sample XYZ Piezoelectric Scanner Position Sensitive Photodiode Mirror Tip Cantilever AFM ?? 基本原理 ? 測(cè)量原子間相互作用力 0d)(d0d)(dd)(d)(2200?????mrrrrurrurrurfAFM ?? 基本原理 再生紙 表面形 貌 像（左） 不清晰， 位相像（右） 中高分辯率地觀察到纖維的微觀結(jié)構(gòu) 。 如原子力顯微鏡（ AFM） 、 摩擦力顯微鏡 、 靜電力顯微鏡 、 掃描熱顯微鏡 、 彈道電子發(fā)射顯微鏡 （ BEEM） 、 掃描隧道電位儀 （ STP） 、 掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（ SICM） 、 掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 （ SNOM） 和光子掃描隧道顯微鏡 （ PSTM） 等 。 利用表面功函數(shù) ， 偏置電壓與隧道電流之間的關(guān)系 ，可以得到表面電子態(tài)和化學(xué)特性的有關(guān)信息 。如樣品表面原子種類(lèi)不同 ， 或樣品表面吸附有原子 、分子時(shí) ， 由于不同種類(lèi)的原子或分子團(tuán)等具有不同的電子態(tài)密度和功函數(shù) ， 此時(shí) STM給出的等電子態(tài)密度輪廓不再對(duì)應(yīng)于樣品表面原子的起伏 ， 而是表面原子起伏與不同原子和各自態(tài)密度組合后的綜合效果 。 但由于在掃描中針尖高度幾乎不變 ， 在遇到起伏較大
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