電法測(cè)井講座ppt課件(參考版)
2025-01-07 23:20本頁(yè)面
【正文】 5．同次測(cè)井井徑曲線形狀應(yīng)相似 , 測(cè)量值相對(duì)誤差應(yīng)在 10%以內(nèi)。 3． 滲透層井徑數(shù)值一般接近或略小于鉆頭直徑值 。 進(jìn)入套管后的測(cè)量長(zhǎng)度必須超過(guò) 10m,且曲線平直穩(wěn)定 , 測(cè)量值與套管標(biāo)稱值應(yīng)在 177。 有推靠器的儀器 , 測(cè)井前必須用井徑刻度器對(duì)井徑儀進(jìn)行兩點(diǎn)刻度 , 測(cè)井后必須用套管內(nèi)徑對(duì)儀器進(jìn)行檢查 。 ? 套管檢查 – 通過(guò)測(cè)量套管的內(nèi)徑 ， 可以幫助判斷套管的變形 、磨損或腐蝕 。 第二部分 井徑測(cè)井－ CAL 主要應(yīng)用 ? 輔助判斷巖性 – 井孔直徑的變化，也是巖石性質(zhì)的一種間接反映，主要根據(jù)擴(kuò)徑、縮徑等現(xiàn)象判斷。 ? 右圖是滑線電阻式井徑儀結(jié)構(gòu)示意圖 。目前使用的井徑儀，就其結(jié)構(gòu)來(lái)講，主要有兩種形式。 井徑曲線 CAL是最常見(jiàn)的測(cè)井曲線之一，基本上每口井必測(cè)。 圖 22 ◆ 側(cè)向測(cè)井 （ LateroLog） （ Dual LateroLog) (Micro LateroLog) (Azimuthal Resistivity Imager ARI) ◆ 感應(yīng)測(cè)井 （ Induction log) (Dual Induction log) (High ◆ 地層傾角測(cè)井 ◆ 微電阻率掃描成像測(cè)井 ◆ 自然電位測(cè)井 （ SP－ Spontaneous Potential) ◇ 井徑測(cè)井 （ CAL－ Caliper) 第二部分 電法測(cè)井技術(shù)介紹 井徑測(cè)井－ CAL 在鉆井過(guò)程中，由于地層受泥漿的沖洗、浸泡以及鉆具的沖擊碰撞等原因，實(shí)際的井徑往往和鉆頭的直徑不同。m（ 18℃ ） ,第二次測(cè)井時(shí)泥漿電阻率為 m,由于屏藏作用 ,井內(nèi)自然電流密度增加 ,因而在 a點(diǎn)以下自然電位幅度也隨之增大。左圖是高阻層實(shí)例 ,巖性剖面中有泥灰?guī)r ,在 a點(diǎn)以上電阻率大都小于 100Ω 6． 曲線干擾幅度應(yīng)小于 。 4． 自然電位極性的 “ 正 ” 、 “ 負(fù) ” 變化應(yīng)與鉆井液濾液電阻率 Rmf和地層水電阻率 Rw的關(guān)系一致 。 2． 大段泥巖處 ， 測(cè)量 100m井段曲線基線偏移應(yīng)小于 10mv。 （ 2） 計(jì)算自然電位系數(shù) K ； （ 3） 計(jì)算比值 Rmfe/Rwe； （ 4） 確定地層溫度下的地層水電阻率 Rw。通常不進(jìn)行層厚度校正 ， 必要時(shí)可用圖 216進(jìn)行校正 。 第二部分 自然電位測(cè)井－ SP （ 1） 確定含水純巖石靜自然電位 SSP 在地層水含鹽量或 Rw基本相同的解釋井段內(nèi) ， 選擇巖性純 （ 不含泥質(zhì)或 Vsh很小 ） ，厚度較大 ， 深探測(cè)電阻率低 ， SP異常幅度最大 ， 各種資料證明不含油氣的地層為完全含水的純水層 ， 通常稱為標(biāo)準(zhǔn)水層 。 (D) SP曲線分層簡(jiǎn)單 ， 便于計(jì)算砂泥巖厚度 、 一個(gè)沉積體的總厚度 、 沉積體內(nèi)砂巖總厚度 、 沉積體的砂泥比等參數(shù) ， 按一個(gè)沉積體繪出等值圖 ， 也是研究沉積環(huán)境和沉積相的重要資料 。 (B) 多層曲線形態(tài)反映一個(gè)沉積單位的縱向沉積序列 ， 可作為劃分沉積亞相的標(biāo)志之一 。 如柱形表示粒度穩(wěn)定 ， 砂巖與泥巖突變接觸；鐘形表示粒度由粗到細(xì) ， 是水進(jìn)的結(jié)果 ， 頂部漸變接觸 ， 底部突變接觸；漏斗形表示粒度由細(xì)到粗 ， 是水退的結(jié)果 ， 底部漸變接觸 ， 頂部突變接觸；曲線光滑或齒化的程度是沉積能量穩(wěn)定或變化頻繁程度的表示 。 地質(zhì)學(xué)有研究沉積相的系統(tǒng)方法 ， 在此基礎(chǔ)上 ， SP曲線常常作為單層劃相 ， 井間對(duì)比 ， 繪制沉積體等值圖的手段之一 。 通常把泥質(zhì)含量表示為： SSPSPSSPSSPSPVsh???? 1第二部分 自然電位測(cè)井－ SP （ 5） 地層對(duì)比和研究沉積相 沉積相是一個(gè)沉積單位中所有原生沉積特征的總和 ， 包括巖石 、 古生物和地球化學(xué)等特征 。一般說(shuō)來(lái)，油氣層的 SP異常略小于水層；完全含水、巖性較純、厚度較大的純水層 SP異常最大；下部含水飽和度明顯升高的油水同層， SP異常由上往下有漸大的趨勢(shì)；注入淡水水淹后的油水同層，被水淹的底部或頂部的 SP異常明顯小于未被水淹部分的 SP異常，使該層上下部泥巖基線發(fā)生明顯偏移， （ 4） 估算泥質(zhì)含量 碎屑巖泥質(zhì)含量增加 ， 將使其自然電動(dòng)勢(shì)減小 ， 從而使 SP幅度減小 。如果砂泥巖剖面夾有孔隙性滲透性好的生物灰?guī)r或其它碳酸巖鹽，夾有致密灰質(zhì)砂巖或其它致密碳酸巖鹽，則對(duì)儲(chǔ)集層再區(qū)分砂巖和生物灰?guī)r等，在非儲(chǔ)集層中再區(qū)分泥巖和其它致密巖石，如后者電阻率明顯高于泥巖。 第二部分 （ 2） 判斷巖性 在劃分儲(chǔ)集層與非儲(chǔ)集層的基礎(chǔ)上，依據(jù)本地巖性剖面的組成情況，本地解釋經(jīng)驗(yàn)和其它測(cè)井曲線的顯示，可進(jìn)一步劃分巖性。如果上下界面幅度大小不同，應(yīng)分別用其半幅點(diǎn)確定界面。 對(duì)于巖性均勻、厚度較大、界面清楚（如泥巖與砂巖的突變界面）的儲(chǔ)集層，通常用 SP異常幅度的半幅點(diǎn)（泥巖基線算起 1/2幅度處）確定儲(chǔ)集層界面。 自然電位影響因素 第二部分 自然電位測(cè)井－ SP 三、溫度 Kda=Kda|t=18℃ （ 273+t） /291 四、地層水和泥漿化學(xué)成分 不同離子的遷移率不同，直接影響擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì) 五、地層電阻率 自然電位幅度異常 ΔUSP=SSP(1/(1+(R砂 +R泥 ） /R泥漿柱 六、地層厚度 ΔUSP隨厚度的減薄而減小，且平緩 七、井徑擴(kuò)徑和侵入影響 井徑擴(kuò)大使井的截面加大，自然電流在井內(nèi)的電位降變小， ΔUSP降低；泥漿侵入相當(dāng)于擴(kuò)徑影響。因此，這種方法只能用于儲(chǔ)集層與泥巖交替出現(xiàn)的巖性剖面，最常見(jiàn)的是砂泥巖剖面，其中也可以包括碎屑巖以外的其它巖性儲(chǔ)集層，如生物灰?guī)r、鮞狀灰?guī)r等。 wmfmfwmfwd
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