用orcad測量電子電路的常用方法(參考版)
2024-10-21 17:50本頁面
【正文】 作業(yè)要求 。 其他同學，可從 《 電子電路實驗與虛擬技術 》 教材中的 28個實驗項目中選取，必須自己完成。 2. 完成后 ， 將 OrCAD文件 （ 同名的所有文件 ） 與 Word文件一同存入軟盤 ， 交上 。 所以它在電路設計特別是優(yōu)化設計中得到廣泛的應用 。 結論： 通過以上例子可以看出 ， 用 OrCAD/PSpice9可以很方便地描繪出各種電路性能電路與元器件參數(shù)的關系曲 。 分析 （ 5） ：輸入為正弦信號時 ， 在輸出基本不失真的情況下輸入信號的最大幅度是多少 ？ 分析：將輸入正弦信號 Vs的振幅 Vamp設置成全局變量{ Vamp }， 同時進行 參數(shù)掃描分析 、 瞬態(tài)分析和 電路性能分析 ， 得到如圖 8所示的分析結果 ， 可見當 Vamp = ， Vo進入非線性區(qū) ， 此時 Vo=。 3． 用電路性能分析 （ Performance Analysis） 分析：將 Q1的模型參數(shù) BF（ 即 β ） 設置成變量 ， 變化范圍定為50 ～ 200， 對電路同時進行交流分析 （ AC Sweep Analysis） 和參數(shù)掃描分析 （ Parametric Analysis） 。 屏上出現(xiàn)電路性能分析窗口 （ 與 Probe窗口類似 ， X軸變?yōu)?Rp） ⑥ 在電路性能分析窗口中執(zhí)行 Trace/Add Trace命令 ， 調(diào)用特征函數(shù) Bandwidth（ V（ VO） ， 3） ， 得到電路的 3dB帶寬與 Rp的關系曲線 如圖 5所示 。 2． 用參數(shù)掃描 與其他分析方法相配合 圖 4的分析結果是當 Rp取上述規(guī)定的 6個值時的頻率特性 ， X軸變量是頻率 。 運行結束后屏幕上出現(xiàn)多批運行結果選擇框 ， 按 “ OK”按 。 在參數(shù)分析對話框中將 “ 掃描變量 ” 選為 Rp， 變量的變化范圍定為 10k～ 20k， 步長為 2k。 ② 將 Rp設置成 {Rp}。 分析 （ 3） ：選 Rp=， 分析 Rp從 10k變化到 20k時 ， 電路的頻率特性 。 ② 運行后 ， 選擇 V（ K） 作輸出變量 ， 即得到 V（ K） 與溫度的關系曲線 ， 如圖 3所示 。 分析步驟： ① 按照上述方法 ， 對電路進行 DC Sweep分析 。 ④ 運行后 ， 選擇 V（ K） 作輸出變量 ， 即得到 V（ K） 與 Rp的關系曲線 ， 從圖中可以很容易地看出當 Rp=時 VK=VCC/2=6V。 ③ 對電路進行直流掃描分析 。 然后調(diào)出 PARAM符號 ， 雙擊該符號 ， 在元器件屬性編輯 器中 ， 按 New按鈕 ， 在新增屬性框中鍵入 Rp并按 OK按鈕 。 ② 將 Rp設置成全局變量 { Rp}。 1． 用直流掃描分析 （ DC Sweep） 方法 舉例：實驗 8 帶自舉的 OTL功率放大器如圖所示 ， 分析 （ 1） ： Rp選多大 ， 靜態(tài)時 Vk=Vcc/2。 （ 2） 用參數(shù)掃描分析與 AC 分析 、 DC 分析 、 瞬態(tài)分析等中的一種或幾種聯(lián)合使用 ， 可分析參數(shù)變化對電路各種性能指標的影響 。 七 .電路特性隨元器件參數(shù)變化曲線的作法 可用下述方法作出電路性能指標隨某一元器件參數(shù)的變化關系： （ 1） 用直流掃描分析 （ DC Sweep） 。 （ 3） 進行瞬態(tài)分析 。 清零脈沖 Cr：選用基本信號源符號 STIM1。 000HILOVoCpCr741 6 113456210791413121115CLRABCDCL KENTENPL O A DQAQBQCQDRCOD S T M 3R110R210k131211109876534D B7D B6D B5D B4D B3D B2D B1D B0A G N DO U TRE F10 VC L KD S T M 18位D/ A轉(zhuǎn)換器舉例：計數(shù)器與 A/D轉(zhuǎn)換器組成的階梯波發(fā)生器如圖所示 ， 分析各點波形 。 為了適應不同的分析要求 ， 每個 AtoD和 DtoA子電路模型
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