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正文內(nèi)容

現(xiàn)代分析測試技術(shù)te(參考版)

2025-05-13 06:30本頁面
  

【正文】 。 ? Philips CM 30高分辨電鏡 + 控制氣氛樣品室 (ECELL): 動態(tài)原位化學(xué)反應(yīng)的研究??赏?100kV STEM的暗場像的分辨本領(lǐng)提高到 。 TEM最新進(jìn)展 —功能完善 ? 超高壓 TEM分辨本領(lǐng)高 —在原子水平上直接觀察厚試樣三維結(jié)構(gòu);試樣穿透能力強(qiáng) (1MV時約為 100kV的 3倍 ) ; JEMARM 1250/ 1000型超高壓原子分辨率電鏡點(diǎn)分辨本領(lǐng)已達(dá) ;日立公司 3MV超高壓透射電鏡分辨本領(lǐng)為 ; ? 中等電壓 200kV\300kVTEM: 采用球差系數(shù)更小的物鏡和場發(fā)射電子槍;穿透能力分別為 100kV的 ;國際上常規(guī) 200kV TEM的點(diǎn)分辨本領(lǐng)為 左右,放大倍數(shù)約為 50倍~ 150萬倍; ? 120kV\100kV分析電子顯微鏡 :生物、醫(yī)學(xué)以及農(nóng)業(yè)、藥物和食品工業(yè)等領(lǐng)域 —觀察分析反差低以及對電子束敏感的生物試樣 —配有冷凍試樣臺和 EDS,可以在獲得高分辨像的同時還可以得到大視場高反差的低倍顯微像,點(diǎn)分辨本領(lǐng)達(dá) ? 多功能高分辨分析 TEM:配有鋰漂移硅 Si(Li)X射線能譜儀 (EDS), 配有電子能量選擇成像譜儀 —進(jìn)行納米尺度的微區(qū)化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)分析; 掃描透射電子顯微鏡的技術(shù)改進(jìn) ? 場發(fā)射電子槍 FEG: 亮度高約 5個量級 —曲率半徑僅為 100nm左右的鎢單晶針尖在電場強(qiáng)度高達(dá) 100MV/cm的作用下,在室溫時即可產(chǎn)生場發(fā)射電子;電子束聚焦 ~ ; ? 試樣后方兩個探測器組合 :分別逐點(diǎn)接收彈性和非彈性散射電子信息 → 環(huán)狀探測器接收散射角大的彈性散射電子; 重原子的彈性散射電子多,如果入射電子束直徑小于 , 且試樣足夠薄,便可得到單個原子像 ;透射電子通過環(huán)狀探測器中心的小孔,由中心探測器接收,再用能量分析器測出其損失的特征能量,便可進(jìn)行成分分析。圖中可得到有關(guān)界面的 粗糙度、共格性和缺陷結(jié)構(gòu)以及界面的原子結(jié)構(gòu) 等重要信息; HREM圖像獲得信息
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