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2025-02-18 07:41 本頁面
【正文】 如果「再現(xiàn)性」的變異大於「重覆性」的變異代表 ?測量員需要進一步訓練，來了解如何使用量具及讀取數(shù)據(jù)。 而對於重覆性與再現(xiàn)性的比數(shù)，如果「重覆性」的變異大於「再現(xiàn)性」的變異代表 ?測量設備需要加以保養(yǎng)或校驗。 Datech Electronic Corp. Ltd Statistical Process Control Introduction 量測系統(tǒng)分析 : 測量系統(tǒng)分析目的主要是計算測量員產(chǎn)生的變異（重覆性）與測量工具本身的變異 (再現(xiàn)性 )占製程變異的百分比，以判定測量系統(tǒng)的品質(zhì)水準。在我們可以接受的品質(zhì)系統(tǒng)必須具有以下幾點要求： ?測量系統(tǒng)必須是在統(tǒng)計的穩(wěn)定之中，也就是其變異僅來自一般機遇原因 的變異而沒有特殊原因的變異。 Datech Electronic Corp. Ltd Statistical Process Control Introduction uChart : 樣本：在 uChart中樣本大小可以是變動或固定的，並以單位的不良數(shù) u = c/n，作 為圖上的標示點。 pK K CLnnnddddp ?????????......21321ndp? ? ?n pppUCL p ??? 13 ?pLCL p ?? 3樣本點 : 中心線 : 上界限 : 下界限 : Datech Electronic Corp. Ltd Statistical Process Control Introduction pChart之解釋 : 如果樣本點落在管制界限的上方 (下方 )，或連續(xù) 7點都在中心線的上方 (下方 )，或連續(xù) 7點遞增 (遞減 )，代表 ?生產(chǎn)的變異程度增加了 (降低了 )。 第五級 ＞ Cpk ：量測值落在規(guī)格內(nèi)的機率小於 %。 Datech Electronic Corp. Ltd Statistical Process Control Introduction 製程能力的解釋 : 第一級 Cpk ：量測值落在規(guī)格內(nèi)的機率接近 100%。 第二級 ＞ Cp ：理想的狀態(tài)故維持現(xiàn)狀。 X – Chart 之解釋 : 樣本點超出了上下管制界限或連續(xù) 7點都在中心線的同一側(cè)，或連續(xù) 7點遞增(減 )，則代表 ?製程的中心值或平均值偏移了 。 ?計算錯誤或標圖錯誤。 ：管制的目的是要偵測出製程的變化，因此抽樣頻率的選擇必 須能反映出製程可能變化的時機，如換機種時、作業(yè)員精神較差時。 ?考慮客戶 (含下製程 )的需求。 Datech Electronic Corp. Ltd Statistical Process Control Introduction X 及 R Chart : ：管理者必須指派特定的人員負責，並支持改善的動作。 ?減少一般原因的變異。 CASE4：一般機遇原因及特殊原因所造成的變異都太大。 ?通?？山鉀Q 85%的製程問題。 ?通?？山鉀Q 15%的製程問題。Datech Electronic Corp. Ltd Statistical Process
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