【正文】 k: 組數(shù) ) CL = Pn = Σd / k = 65 / 25 = P= Σd /( k*100)= (因 n值為一定數(shù) ,故取組數(shù)為分母 ,此為與 P管制圖最大不同點(diǎn) ) UCL = Pn + 3 √Pn (1 P) = + = LCL = Pn 3 √Pn (1 P) = = (管制下限不予考慮 ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 23 OF 83 Pn 管 制 圖 之 例0123456781 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25組 號(hào)dLCL CL UCL SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 24 OF 83 2. 點(diǎn)繪管制圖 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (C管制圖 ) 一 ,有些產(chǎn)品雖然有缺點(diǎn) ,但不致因?yàn)橛猩贁?shù)之 缺點(diǎn) ,使該產(chǎn)品成 為廢品 ,只是缺點(diǎn)之多少影響其品質(zhì)之高低而已 ,因而用缺點(diǎn) 之?dāng)?shù)目 ,表示其品質(zhì) ,在這種場(chǎng)合 ,常用缺點(diǎn)數(shù)管制圖 . 二 ,用途 : C管制圖應(yīng)用在同大小的樣本組內(nèi)所含缺點(diǎn)數(shù)的管制 ,自同一 大小單位 (可以為單件製品 或一組製品 ,例如 :一臺(tái)電視機(jī)或幾 臺(tái)電視機(jī) ) 的缺點(diǎn)數(shù)為 C群體 (即送驗(yàn)批 ),隨機(jī)抽取同一大小單 位的樣本所出現(xiàn)的缺點(diǎn)數(shù) (C)的分配為卜氏分配 ,分配的帄均 值 (UC)等于 C, 分配的標(biāo)準(zhǔn)差 (δc) 等于 C 群體單位缺點(diǎn) C 未知時(shí) 因此 C管制圖的中心線(xiàn)與管制界限公式為 : CLC = ΣC / K = C UCLC = C+3√ C LCLC = C3√ C 使用 C管制圖的工作例子為 : (1)玻璃所含的氣泡數(shù) (2)一匹布內(nèi)的跳紗數(shù) ,斑點(diǎn)數(shù) … 等等 (3)一張紙上的污點(diǎn)數(shù) ,破損數(shù) … 等等 . SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 25 OF 83 (4)一定長(zhǎng)度漆包線(xiàn)的針孔 (pin hole)數(shù) . 三 ,管制圖製作實(shí)例 : 例 :某 PCB廠(chǎng)用 C管制圖管制其產(chǎn)品品質(zhì) ,下列表中每批 PCB之 缺點(diǎn)之記錄 ,計(jì)有 20組樣本繪製 C管制圖 . 組號(hào) 樣本 缺點(diǎn)數(shù) 組號(hào) 樣本 缺點(diǎn)數(shù)1 1批 5 11 1批 22 1批 4 12 1批 73 1批 3 13 1批 14 1批 5 14 1批 85 1批 6 15 1批 26 1批 4 16 1批 27 1批 7 17 1批 38 1批 3 18 1批 79 1批 2 19 1批 410 1批 3 20 1批 4SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 26OF 83 ΣC=84 CLC = C = ΣC/K = 84/20 = 2. 代入公式求得 UCLC 及 LCLC UCLC = C+3 √ C = +3 √ = += UCLC = C 3 √ C = 3 √ = = 0 解 :(1)先計(jì)算樣本缺點(diǎn)數(shù)的帄均值 ( C ) SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 27 OF 83 帄均值與全距管制圖 (XR CHART) 一 ,在計(jì)量管制圖中 XR CHART 系最實(shí)用之一種品質(zhì)控制工具 , 仍系 X CHART 與 R CHART之合並使用 .帄均值管制圖系管 制帄均值的變化 ,即分配之集中趨勢(shì)變化 .全距管制圖則管制變 異之程度 ,即分配之散布狀況 ,離中趨勢(shì) .均可協(xié)助我們判斷製 造工程之實(shí)際狀況 ,藉以明瞭品質(zhì)變化之趨勢(shì) . 二 ,用途 : XR用在管制分組之計(jì)量數(shù)據(jù) ,每組同時(shí)取數(shù)個(gè)數(shù)據(jù) ,如 :長(zhǎng)度 ,重量 ,內(nèi) ,外徑 ,濃度 ,抗張力 ,深度等 . 三 ,取樣法 : 此管制圖系由樣本之?dāng)?shù)據(jù) ,推測(cè)製造工程是否在穩(wěn)定之管制 狀態(tài)中選取樣本 ,頇有代表性 ,原則上以在各工作線(xiàn)上按不同 機(jī)器 ,操作人員 ,原料分別取樣 ,樣本數(shù)據(jù)為 45件 . N=4或 5 K= 25組以上 X1,XC2,X3,X4,X5 X 樣組間變異 X 製程 組內(nèi)變異 ζ SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 28 OF 83 四 ,建立步驟 : (1)搜集 25個(gè)以上的數(shù)據(jù) (依測(cè)定時(shí)間順序或群體數(shù)據(jù)依序排列 ) (2)把 26個(gè) (一般採(cǎi) 45個(gè) )數(shù)據(jù)分為一組 . (3)把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表 . (4)計(jì)算各組帄均值 X. (5)計(jì)算各組的全距 R. (6)計(jì)算總帄均 X = ΣX / K (K =組數(shù) ) (7)計(jì)算全距帄均 R = ΣR / K(K= 組數(shù) ) (8)計(jì)算管制界限 (此為 u與 δ 未知狀況 ) X 管制圖 :中心線(xiàn) CLX = X 上限 UCLX = X +A2R 下限 LCLX = X A2R R管制圖 :中心線(xiàn) CLR = R 上限 UCLR = D4R 下限 LCLR = D3R SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 29 OF 83 樣組 A2, D3 D42 3 4 5 6 7 A2,D3,D4　可查表： 到X年X月X日樣 樣組 X X X X X 組 X X X X X1 50 50 49 52 51 3 14 53 48 47 52 51 62 47 53 53 45 50 8 15 53 48 49 51 52 53 46 45 49 48 49 4 16 46 50 53 51 53 74 50 48 49 49 52 8 17 50 52 49 49 49 35 46 48 50 54 50 8 18 50 49 50 49 51 26 50 49 52 51 54 5 19 52 49 52 53 50 47 47 49 50 48 52 5 20 50 47 50 53 52 68 48 50 46 49 51 5 21 52 49 51 53 50 49 50 50 49 51 53 4 22 55 54 51 51 50 510 49 51 51 46 48 5 23 50 51 52 50 49 511 51 50 49 46 50 5 24 47 50 51 52 52 512 50 50 49 52 51 3 25 53 51 59 50 51 313 49 49 49 50 55 6 1254 120R測(cè)定值X R 例:某PCB工廠(chǎng)應(yīng)用XR管制圖來(lái)控製其無(wú)塵室的濕度,濕度單位為RH,利用下列數(shù)據(jù)表之資料,求得其管制界限並繪圖.名稱(chēng):無(wú)塵室濕度測(cè)定單位:RH測(cè)定地點(diǎn):外層課測(cè)定者:A 日測(cè)定日期:自X年X月X日測(cè)定值XSPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 30 OF 83 解 : X及 R算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi) . X與 R X=ΣX / K = 1254/25 = R = Σ R / K = 120/25 = A2, D4, D3. A2 = , D4 = , D3 = 負(fù)值 (以 0代表 ) X管制圖 CLX = X = UCLX = X+ A2 R = +*= LCLX = X A2 R = * = R管制圖 CLR = R = UCLR = D4 R = * = LCLR = D3R = 0* = 0 解 將每樣組之 及 算出記入數(shù)據(jù)表內(nèi)求 與Σ查系數(shù)負(fù)值 以 代表求管制界線(xiàn)管制圖管制圖SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 31OF 83 . . x ＵＣＬ ()管 cl ()制圖 ＬＣＬ ()R管 ＵＣＬ ()制 ＣＬ ()圖 ＬＣＬ (0)SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 32 OF 83 觀察上圖得知所有點(diǎn)子均在管制界限內(nèi)隨機(jī)跳動(dòng)故判斷製程 為安定 . 五 ,使用注意事項(xiàng) : ,表示製程能力不足 ,對(duì)原 數(shù)據(jù)應(yīng)按原料別 ,機(jī)械別 ,時(shí)間別 ,人員別加以層別 ,分別檢討其 分配情況找出變異 . ,則應(yīng)檢討規(guī)格界 限是否可以放寬 ,以獲較經(jīng)濟(jì)之生產(chǎn) . CHART 上有點(diǎn)超限 ,則顯示製程帄均發(fā)生變化或變異增大 R CHCART 上有點(diǎn)超限 ,則顯示製程變異增大 . ,重新計(jì)算管 制界限以符合製程現(xiàn)況 . R CHART ,再看集中趨勢(shì) X CHATRT. SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 33 OF 83 管制上限 管制下限X X+A2R XA2RR D 4 R D3R中位值與全距 X X X+M3A2R XM3A2R缺 點(diǎn)不良率 P P P+3 √ P(1P)/n P3 √ P(1P)/n不良個(gè)數(shù) Pn Pn Pn+3 √ Pn(1P) Pn3 √ Pn(1P)缺點(diǎn)數(shù) C C C+3 √ C C3 √ C缺 點(diǎn)計(jì)量值a. 單靠此種管制圖 , 有時(shí)無(wú)法尋求不良之真正原因 , 而不能及時(shí)採(cǎi)取處理措施 ,延誤時(shí)機(jī) .管 制 圖 中 心 線(xiàn) CL管 制 界 限a. 只在生產(chǎn)完成后 , 才抽取樣本 , 將區(qū)分為良品與不良品 , 所需數(shù)據(jù)能以簡(jiǎn)單方法獲得 .平均值與全距 Xb. 對(duì)于工廠(chǎng) ( 或生產(chǎn)線(xiàn) ) 整個(gè)品質(zhì)情況了解非常方便 .優(yōu) 點(diǎn)a. 在製造過(guò)程中 , 需要經(jīng)常抽樣並予以測(cè)定以及計(jì)算 , 但需點(diǎn)管制圖 , 較為麻煩 ,費(fèi)時(shí) .計(jì)數(shù)值優(yōu) 點(diǎn)b. 能及時(shí)並正確地找出不良原因 , 可使品質(zhì)穩(wěn)定 , 為較佳之管制工具 .管制圖之管制界限公式 ,較靈敏 ,很容易調(diào)查事故發(fā)生原因 ,因此可以預(yù)測(cè)將發(fā)生之不良狀況 . ~ ~ SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 34 OF 83 柏拉圖 (PLATO) : 柏拉圖為意大利經(jīng)濟(jì)學(xué)家所發(fā)明 ,系根據(jù)收集之?dāng)?shù)據(jù) ,項(xiàng)目 ,而按其大小順序 ,自左而右排列的圖 .從柏拉圖中可看出那一項(xiàng)目有問(wèn)題 ,其影響程度如何 ,以判斷問(wèn)題的徵結(jié)點(diǎn) ,並可針對(duì)問(wèn)題點(diǎn)采取改善措施 . : ,收集數(shù)據(jù) . (1).決定收集期間 ,方法 ,分類(lèi) . (2).原因別分類(lèi) :材料 ,機(jī)械 ,作業(yè)者 ,作業(yè)方法別等 . 內(nèi)容別分類(lèi) :不良項(xiàng)目 ,場(chǎng)所 ,工程 ,時(shí)間別等 . (3).收集數(shù)據(jù)的期間 ,考慮發(fā)生問(wèn)題的狀況 ,一星期 ,一個(gè)月 或一季 . 3/6 3/7 3/8 3/9 3/10 合計(jì)無(wú)光澤 13 8 12 10 12 56氣泡 3 2 2 3 5 15異物 7 9 7 5 10 38脹大 1 1 2 3 1 8擦傷 2 3 1 1 3 10臟污 1 1 1 1 4割紋 1 1 2疵點(diǎn) 1 1 2凹擊 1 1滴點(diǎn) 1 1例 : 射出部品外觀不良狀況記錄表檢核人:xxx 期間:3/610日日期項(xiàng)目SPC講義 講師 DAVID KUO 頁(yè)數(shù) 35 OF 83 ,計(jì)算累積數(shù)及比率 (1)各項(xiàng)目依數(shù)據(jù)的大小順序排列 ,其他排在最后一項(xiàng) ,並 求其累積數(shù) . (2)求各項(xiàng)目數(shù)據(jù)的比率及累積比率 . 例:數(shù)據(jù)整理.No 不良項(xiàng)目 不良數(shù) 累積數(shù) 比率 累積比率1 無(wú)光澤 56 56 % %2 異物 38 94 % %3 氣泡 15 109 % %4 擦傷 10 119 % %5 脹大 8 127 % %6 臟污 4 131 % %7 其他 6 137 % % (1)用