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2025-02-10 23:57 本頁面
【正文】 LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION31七、散布圖七、散布圖 （（ SCATTER DIAGRAM））將成對的二組數(shù)據(jù)制成圖表，以觀察數(shù)據(jù)相互間之關系將成對的二組數(shù)據(jù)制成圖表，以觀察數(shù)據(jù)相互間之關系 步驟一步驟一 ：收集成對的數(shù)據(jù)，整理成數(shù)據(jù)表（樣本：收集成對的數(shù)據(jù)，整理成數(shù)據(jù)表（樣本數(shù) 數(shù) 25組以上）（原因組以上）（原因 /結果）結果） 步驟二步驟二 ：在方格紙上標示數(shù)據(jù)刻度：在方格紙上標示數(shù)據(jù)刻度 步驟三步驟三 ：將圖表中成對的數(shù)據(jù)作上記號：將圖表中成對的數(shù)據(jù)作上記號 步驟四步驟四 ：記入必要事項（主題、調(diào)查時間．．）：記入必要事項（主題、調(diào)查時間．．） ：看趨勢 用途：看趨勢 →→ 立即看出數(shù)據(jù)變化的情形。標坐標上。步驟三步驟三 ：決定組距：決定組距 h=R（（ 最大值－最小最大值－最小 值）值） 247。LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION22 步驟一步驟一 ：收集數(shù)據(jù)（計量值）：收集數(shù)據(jù)（計量值） 至少要收集 至少要收集 50個以上的數(shù)據(jù)個以上的數(shù)據(jù) (最好最好 100個以上，如個以上，如此較具代表性此較具代表性 )，以，以 n 表示。 總缺點數(shù)總缺點數(shù) ) 100LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION18 步驟四步驟四 ：劃圖：劃圖 縱軸左邊為特性值，右邊為累計影響度，橫軸記縱軸左邊為特性值，右邊為累計影響度，橫軸記 入項目，按數(shù)據(jù)由大到小排列，其它項無論多大入項目，按數(shù)據(jù)由大到小排列，其它項無論多大 都排最后，劃成柱狀圖，如下圖疕都排最后，劃成柱狀圖，如下圖疕不良率A累計影響度項目別項目別LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION19練習：柏拉圖 練習：柏拉圖 請利用下列數(shù)據(jù)制作柏拉圖，并考量應從那些項目著手改善請利用下列數(shù)據(jù)制作柏拉圖，并考量應從那些項目著手改善總檢查數(shù)：總檢查數(shù)： 500LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION17不良率不良率 % = (各項不良率各項不良率 247。圖?！ ? 52層別后所得的信息要結合實際行動層別后所得的信息要結合實際行動 ●● 找到真正原因訂立確實對策找到真正原因訂立確實對策LITE ON G R O U P SILITEK CORPORATION15四、柏拉圖四、柏拉圖 （（ Pareto Diagram））1. 2用途：用途： . 21解決問題的基礎解決問題的基礎 22經(jīng)過層別之后，可以使得造成問題之原因更為經(jīng)過層別之后，可以使得造成問題之原因更為 清楚。 步驟四步驟四 ：決定收集數(shù)據(jù)的方式：決定收集數(shù)據(jù)的方式 ●● 明確收集人：可提高數(shù)據(jù)可靠度明確收集人：可提高數(shù)據(jù)可靠度 ●● 明確收集數(shù)據(jù)的時間（時間、頻率、期間明確收集數(shù)據(jù)的時間（時間、頻率、期間 ….）） ●● 明確檢查方式（全檢或抽檢）明確檢查方式（全檢或抽檢） (2)管理用：發(fā)生很多抱怨、不良品或異常時，為尋采原因找管理用：發(fā)生很多抱怨、不良品或異常時，為尋采原因找取措施時用取措施時用 （腦力激蕩（ Brain Storming））1938年奧斯朋博士提出一種會議方法，這種會議對某一主題年奧斯朋博士提出一種會議方法，這種會議對某一主題
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