穿透式電子顯微鏡tem-wenkub.com
2025-07-17 07:00 本頁面
【正文】 aql=amp。q=tem+%E8%A9%A6%E7%89%87amp。sec=123 ? ?hl=zhTWamp。 資料來源 ? rdpress/?p=1599 ? ? D/ADImages/%E5%BB%A3%E5%91%8A/MCLM100/download/equipment/EM/FETEM/FE ? 3/no3/ ? VERSION=unvamp。 ? (d)精準的定點觀察時， 試片製備困難度高，成功率相對降低，薄區(qū)有限 。 (2)化學組成 TEM分析具有以下的優(yōu)點 (2/3) ? (e)在有限厚度內的多層次結構具有透視能力，能得到重疊影像 – 商用產(chǎn)品分析的逆向工程。 ? (b)原子結構的觀察 – 晶格影像 ? (c)搭配試片基座的傾斜功能，可以進行結構性缺陷的特性分析 : (1)離子佈值後的殘餘缺陷。 TEM分析具有以下的優(yōu)點 (1/3) ? (a)在形象觀察方面 , 對材料有敏銳的分析力： (1)晶粒方向。 成像系統(tǒng) (5/5) ? 電磁透鏡系統(tǒng) 由 兩組電磁透鏡 組成。系統(tǒng)只容許能量在某個狹窄範圍的電子通過，使電子束內的電子具有 特定的 能量。
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