【正文】 離別在即，站在人生的又一個轉(zhuǎn)折點(diǎn)上，心中難免思緒萬千，一種感恩之情油然而生。她嚴(yán)肅的科學(xué)態(tài)度，嚴(yán)謹(jǐn)?shù)闹螌W(xué)精神，精益求精的工作作風(fēng)，深深地感染和激勵著我。隨著塑料薄膜不斷增加，提離值距離點(diǎn)數(shù)也隨之增加。阻抗圖在2000KHz左右顯示效果最佳，說明DP點(diǎn)式探頭在這個范圍的頻率對特種復(fù)合材料試塊涂層具有良好的滲透性，能夠比較精確的反映材料的特性。 在測試帶涂層試塊時，發(fā)現(xiàn)5不同點(diǎn)的膜層提離點(diǎn)值均不同，故認(rèn)為試塊每處涂層厚度都不一樣，均存在差異。5. 結(jié)論與展望 結(jié)論利用渦流法測量基底與帶 SiC 涂層的特種碳釬維復(fù)合材料試塊，只要選取合適的工作頻率、增益及相位，所得到的渦流信號的提離軌跡并不重合，而且兩者的距離點(diǎn)數(shù)較大，說明渦流法對特種碳纖維復(fù)合材料涂層厚度測量的靈敏度高，有利于涂層測厚。（1）利用渦流法測量基底與帶 SiC 涂層的特種碳釬維復(fù)合材料試塊，只要選取合適的工作頻率、增益及相位，所得到的渦流信號的提離軌跡并不重合，而且兩者的距離點(diǎn)數(shù)較大，說明渦流法對特種碳纖維復(fù)合材料涂層厚度測量的靈敏度高，有利于涂層測厚。（2）SiC 涂層厚度差異較小的特種復(fù)合材料之間的提離點(diǎn)信號并不重合且有一定的差異，說明利用渦流法實施帶 SiC 涂層的特種復(fù)合材料涂層厚度的測量是有望可行的，且有較高的測量精度。所以，綜合上述試驗可知，2000KHZ左右的檢測頻率為特種復(fù)合材料涂層厚度測量的最佳檢測頻率。同樣，在以上實驗的基礎(chǔ)上，再通過實驗來分析DP點(diǎn)式探頭在不同頻率對涂層厚度的分辨能力。實驗結(jié)果如下： ： 現(xiàn)場實驗圖 ：多通道提離信號對比圖從實驗結(jié)果可以看出：多次的實驗結(jié)果說明提離信號強(qiáng)度隨著頻率的增加慢慢增加，當(dāng)頻率達(dá)到2000KHz時提離軌跡長且精細(xì)、強(qiáng)度達(dá)到最大，再增加頻率時，信號就會慢慢變小。利用EEC2004特有的多通道分析功能，選取矩形試塊5試塊進(jìn)行實驗。 在5工件不同點(diǎn)測試其提離值（1） 首先將5，然后將探頭放在基體中心位置即為基準(zhǔn)，最后在不同位置測試其提離值，：： 5不同點(diǎn)的膜層提離點(diǎn)值A(chǔ)1=43A2=33 A3=14 A4=12A5=19A6=19A7=34A8=21A9=5A10=21A11=20A12=40A13=22A14=15A15=7A16=11A17=10A18=25 ：在A5時的測量結(jié)果 ：在A11時的測量結(jié)果：：5不同點(diǎn)的膜層提離點(diǎn)值的關(guān)系曲線 將 4試塊覆蓋薄膜（約為8090um)與5對比取80um,得距離點(diǎn)數(shù)為30經(jīng)測試，4工件在大約20um的薄膜能分辨 4工件在多少厚度的薄膜能分辨1） 首先將探頭放在基體中心位置即為基準(zhǔn)，再加上1張薄膜（一張5um），測試其提離值，并記錄數(shù)據(jù)。1） 首先進(jìn)行特種碳纖維復(fù)合材料基體材料（1 ）與帶碳化硅涂層的塊（2 ）之間的提離點(diǎn)差異的對比試驗，： 1與2對比 1與3對比 2與3對比 ：測量結(jié)果同理，將1與3，2與3進(jìn)行對比試驗，： 圓形試塊提離點(diǎn)值1與2 1與3 2與3122 13624：1與2與3 試塊對比試驗值 基于4基體不同點(diǎn)的不均勻性測試不同點(diǎn)的提離值1）首先將4，然后將探頭放在基體中心位置即為基準(zhǔn)，然后在不同點(diǎn)測試提離值，如此往復(fù)操作，：：4試塊 ：試件分割圖形示意圖A1A2A3A4A5A6A7A7A8A19A11A12A13A14A15A16A17A18 ： 4基體的不均勻度（距離點(diǎn)數(shù)）A1=77A2=34A3=40A4=39A5=45A6=22A7=20A6=11A9=22A10=8A11=37A12=21A13=57A14=39A15=71A16=24A17=14A18=25 ：位置為A10的測量圖 ：位置為A1的測量圖 ：：4基體不同點(diǎn)的提離值關(guān)系曲線 以薄膜為模擬涂層的特種碳纖維復(fù)合材料涂層厚度測量試驗1）首先將探頭放在基體中心位置即為基準(zhǔn)，再加上2張薄膜（一張5um），測試其提離值，并記錄數(shù)據(jù)。使用儀器自帶的標(biāo)定工具，先調(diào)節(jié)標(biāo)定線 1 讓其同時通過兩個提離點(diǎn)，然后調(diào)節(jié)儀器使標(biāo)定線 2 和標(biāo)定線 3 分別經(jīng)過一個提離點(diǎn)，由于標(biāo)定線 3 同時垂直標(biāo)定線 1，兩個提離點(diǎn)信號之間的距離點(diǎn)數(shù)即為標(biāo)定線 3 間的距離點(diǎn)數(shù)，該距離點(diǎn)數(shù)可以從儀器上直接讀出，即A 值。 用EEC2004電磁檢測儀的實驗研究方案（1） 在以半圓形試塊b面為基體的前提下，利用提離效應(yīng)測量在基底試塊和帶有碳化硅涂層試塊上的渦流信號，比較不同試塊上測量所得渦流信號的提離點(diǎn)的距離點(diǎn)數(shù)差異，并且通過反復(fù)調(diào)節(jié)，尋找最佳測量工作頻率，相位，增益等。（3）基于最佳檢測參數(shù)的條件下，利用厚度已知的超薄絕緣膜層（如厚度為20μm 的超薄塑料膜層），在4特種碳纖維復(fù)合材料基體上進(jìn)行模擬涂層測厚靈敏度試驗，研究渦流法實施特種碳纖維復(fù)合材料碳化硅涂層測厚的靈敏度大小。 3. 試驗研究 特種碳纖維復(fù)合材料的涂層厚度實施渦流法測量在理論上是可行的。探頭的提離效應(yīng)能很大程度的影響渦流檢測的信號，因此在利用渦流進(jìn)行探傷時需要盡量抑制提離效應(yīng)的發(fā)生，所以在測量電導(dǎo)率時需要盡量避免在人為操作過程中探頭與被檢試件接觸不緊密和探頭晃動的情況發(fā)生，從而避免因提離效應(yīng)對探頭檢測線圈阻抗的影響而導(dǎo)致的電導(dǎo)率的測量的不準(zhǔn)確。而非鐵磁性材料的磁導(dǎo)率通常為常數(shù)并且約等于 1，因此，為了消除磁導(dǎo)率對檢測線圈阻抗的巨大影響，通常通過高強(qiáng)度磁化材料至磁飽和狀態(tài)并使其磁導(dǎo)率趨于常數(shù)的條件下來抑制材料磁導(dǎo)率的影響。 這種有效方法的提出在渦流檢測技術(shù)的發(fā)展過程中起到了突破性作用，為渦流檢測法很好的提供了一整套完整、系統(tǒng)的理論體系。因此，當(dāng)通過測定試驗線圈阻抗發(fā)生變化，就可以推出被檢試件性能的變化及有無缺陷的結(jié)論。而同時也將產(chǎn)生一個相同頻率的磁場，但這個磁場的方向與原磁場的方向相反，這個反相磁場就會使得檢測線圈的阻抗發(fā)生變化，渦流檢測技術(shù)就是通過利用阻抗分析法進(jìn)行渦流定量分析來進(jìn)行工件檢測的。2．理解了隨著涂層厚度的增加，提離值也隨之增加。在國內(nèi)測厚領(lǐng)域，渦流法也經(jīng)已被廣泛運(yùn)用，但測量對象皆為非磁性或磁性金屬基體上絕緣層或非磁性覆層厚度。但是在X射線光譜儀和β射線反向散射法應(yīng)用上,因為檢測設(shè)備價格太高,往往作為檢測的高檔設(shè)備供實驗室使用,而在現(xiàn)場大量使用基于磁性方法和電渦流方法的測厚儀。例如:金屬覆蓋層厚度的測量方法主要有X射線光譜測量法、β射線反向散射法、橫斷面厚度顯微鏡測量方法、磁性法等等。 我國于20世紀(jì)60年代才開始開展渦流檢測的研究工作，70年代中期成功研制了FQR7503型和FQR7504型膜層測厚儀、FQR7501型和FQR7502型渦流電導(dǎo)儀以及FQR7505型渦流探傷儀等一系列渦流檢測設(shè)備。隨著新型工程材料的開發(fā)，微電子技術(shù)應(yīng)用和標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進(jìn)程，尤以近十年來，渦流測厚技術(shù)得到迅猛的發(fā)展，渦流涂鍍層測厚儀在電路設(shè)計、新型傳感器應(yīng)用、測頭的多制式與通用性和量值顯示與數(shù)據(jù)打印，測控功能擴(kuò)展及其智能化諸方面，都不斷取得突破與創(chuàng)新。超聲測厚有共振法、脈沖反射法，從測量精度來將，可以滿足生產(chǎn)中的各種要求，但超聲法需要耦合劑，并且被測厚度需大于2mm。例如，飛機(jī)機(jī)翼厚度以及化工容器的厚度，核反應(yīng)燃料棒包覆層等。但這種測厚技術(shù)還是不夠成熟，其測量的涂層對象主要為基體材料的電導(dǎo)率與涂層材料電導(dǎo)率差異很大的涂層厚度或者是非磁性或磁性金屬基體上的絕緣層厚度，而本次課題所研究的對象則是采用三向編織工藝制成的帶 SiC 涂層的特種碳纖維復(fù)合材料的基體材料，這種材料雖然是屬于非磁性金屬基體上金屬涂層范疇，但是不同于一般金屬材料，這種材料的基體和涂層都屬于低電導(dǎo)率材質(zhì)并且存在電導(dǎo)率不均勻分布的性質(zhì)。但其中的一些測厚方法都難以滿足超薄涂層（幾十個μm）的測量要求。超聲測厚法測厚具有比較高的靈敏度，雖然可以滿足目前工業(yè)生產(chǎn)中的測量精度要求，但這種方法的測量范圍比較大，一般為 1~200mm，所以難以實現(xiàn)對于μm 級超薄涂層的測量，而且在測試過程中還需要使用耦合劑，導(dǎo)致操作不便。為此，要求采取一定的有效檢測方法對涂鍍層的厚度進(jìn)行測量是十分有必要的，所以涂鍍層測厚技術(shù)也因此隨之發(fā)展起來。在對零部件進(jìn)行表面處理時所采用的是表面覆層技術(shù)。C 以上尤其是超過 2000176。測量鍍在鐵磁性金屬物質(zhì)表面的非鐵磁性金屬鍍層的厚度應(yīng)用的是磁感應(yīng)技術(shù)；金屬表面的非金屬層厚度的測量應(yīng)用的是渦流的提離效應(yīng)。渦流檢測技術(shù)用于螺紋、鈦管等金屬管道的檢測；用于軍工兵器的炮筒、炮彈底座、導(dǎo)彈發(fā)射架、彈殼，戰(zhàn)機(jī)的發(fā)動機(jī)機(jī)翼、葉片、起落架和輪轂等的役前和在役檢測；渦流檢測技術(shù)用于各種金屬管、棒材的在線、離線檢測。主要儀器有：EEC3SMART200EMS2000。同時，渦流檢測能夠有效的抑制探頭晃動、材質(zhì)不勻等引起的干擾信號等問題。從而為特種碳纖維復(fù)合材料涂層厚度的渦流法測量提供了可靠的理論依據(jù)和技術(shù)支持。 作者簽名： 日期：導(dǎo)師簽名： 日期：南昌航空大學(xué)科技學(xué)院2014屆學(xué)士學(xué)位論文 1南昌航空大學(xué)科技學(xué)院2014屆學(xué)士學(xué)位論文 特種復(fù)合材料的膜層厚度的渦流測量的研