顯微分析技術(shù)電子顯微鏡-wenkub.com
2025-05-09 18:43 本頁面
【正文】 通過BEEM圖．可以觀察到界面結(jié)構(gòu)以及由于界面結(jié)構(gòu)的缺陷和界面雙方元素的互擴(kuò)散或化學(xué)作用形成的電子態(tài)不均勻性狀態(tài)。 通常，把以掃描隧道和原子力電子顯微鏡為基礎(chǔ)，兼帶上述其他功能顯微鏡的儀器統(tǒng)稱為原子力電子顯微鏡。在量子隧穿效應(yīng)中，原于間距離與隧穿電流關(guān)系相應(yīng)。 兩者在應(yīng)用上的主要區(qū)別： 原子力電子顯微鏡簡稱 AFM 在真空環(huán)境下測量，其橫向分辨率可達(dá) ，縱向分辨率達(dá) ，主要用于測量絕緣材料表面形貌。 在性能上，其分辨率通常在 ，故可用來確定表面的原子結(jié)構(gòu)。 微區(qū)定性和定量分析 與常規(guī)的定性、定量分析 方法 不同的是，掃描電子顯微鏡系統(tǒng)是在微觀形貌觀測的基礎(chǔ)上，針對(duì)感興趣區(qū)域進(jìn)行特定的定性或定量分析。 溶劑刻蝕是用某些溶劑選擇溶解高聚物材料中的一個(gè)相，而暴露出另一相的結(jié)構(gòu)。 應(yīng)用對(duì)象是包含合晶相和非晶相兩個(gè)組成部分的樣品。高分子中各組分之間的平均原子序數(shù)差別不大；所以只有 — 些特殊的高分子多相體系才能利用這種襯度成像。 SEM的放大倍數(shù)與屏幕分辨率有關(guān)， SEM的最大放大倍數(shù)為 2萬左右。 對(duì)同樣品距的二個(gè)顆粒，電子束直徑越小，越隨得到好的分辨效果。在 18900倍下對(duì) PVC糊樹脂近行觀測 應(yīng)用實(shí)例 在 26000倍下觀測碳酸鈣粉末 掃描電鏡 Scanning Electron Microanalyzer 掃描電鏡(SEM) SEM的基本原理 ★ 焦深大，圖像富有立體感，特別適合于表面形貌的研究
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