【正文】 表 參數(shù) 圖象 數(shù)據(jù)流 。 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 GeoTech公司簡介 北京吉奧特能源科技有限責(zé)任公司 是北京市高新技術(shù)企業(yè) ， 多年來一直從事常規(guī)測井解釋 、 聲電成像 、 核磁共振 、 陣列感應(yīng) 、 陣列聲波、 地層傾角等特殊方法測井技術(shù)的研究工作 ， 在國內(nèi)石油界享有盛譽(yù)。Gas Reservior Well Logging Analysis amp。 主要包括以下三個大部分： ? Borehole Geology:稱為井眼地質(zhì)包 ， 可以處理解釋傾角 、 成象資料 。 Elan是 Element Analysis的縮寫 ， 意思是元素 （ 組分 ） 分析 。 ? Well Edit：用于單井?dāng)?shù)據(jù)編輯 ， 可以對曲線進(jìn)行補(bǔ)接和校深 ， 錯誤數(shù)據(jù)點(diǎn)的編輯 。 測井處理軟件簡介 156 測井處理軟件簡介 ? P包 （ Petrophisics） 主要用于測井資料的常規(guī)處理和波形的數(shù)據(jù)處理 。 mnNmnNxFR i n c???????)()( ?第六節(jié) 測井處理軟件簡介 154 測井處理軟件簡介 ? GeoFrame： GeoFrame一體化綜合地學(xué)平臺是 Schlumberger公司開發(fā)的集綜合數(shù)據(jù)管理 、 測井資料處理解釋 、 地震資料綜合解釋 、 地質(zhì)綜合研究以及工業(yè)圖件編制等功能為一體的系統(tǒng)平臺 。 149 最優(yōu)化解釋的原理框圖 儲層參數(shù) 初始值 X0 響應(yīng)方程 理論測井值 實(shí)際測井值 比 較 充分逼 近否？ 輸出最優(yōu)化 解釋結(jié)果 X＊ 用最優(yōu)化方法調(diào)整未知量 X， X0＝ X Y N 150 五、 最優(yōu)化程序的質(zhì)量控制方法 ? １ ． 置信度曲線 由概率統(tǒng)計(jì)理論，)( *xf i ?落在置信區(qū)間 ? ?iiii aa ?? ?? ,內(nèi)的概率為 %（22iii ??? ??） 。 141 ? 響應(yīng)方程誤差主要來源于 : – ① 對地層簡化處理帶來的誤差； – ② 公式中對每個區(qū)域參數(shù)取不準(zhǔn)引起的誤差； – ③ 地層中某些隱參量在模型中未曾考慮進(jìn)去而出現(xiàn)的誤差 。 – 殘差平方最小化 – epsi2＝ （ ai－ fi） 2 140 ? 2) 規(guī)格化處理 ? 實(shí)際測井值與用響應(yīng)方程計(jì)算的理論測井值之間是有誤差的 ,其誤差來自兩方面： (1)測井值誤差： (2)響應(yīng)方程誤差 。問由每個產(chǎn)地到每個銷售地運(yùn)輸量各為多少時，既保證需要量，又使總運(yùn)費(fèi)最少？ 135 產(chǎn)地 銷地??產(chǎn)量銷量x 11x 12x n1x mna1a2am bnb2b1產(chǎn)量銷量解 : 設(shè)由 a i 到 b j 的運(yùn)輸量為 x ij ( 噸 ) ，則要求總運(yùn)費(fèi) ? ?? ?minjijijxC1 1 達(dá)到最小，其中 x ij 要滿足約束條件 : 產(chǎn)量：????njiijmiax1, . . . ,2,1 銷量：????mijijnjbx1, . . . ,2,1 數(shù)學(xué)約束：njmix ij ,...,2,1。 ? 解：無蓋容器的容積為： a x xxaxf 2)2()( ??133 令0)( ?? xf，可得6,221axax ?? 顯然21ax ?無實(shí)際意義 同時由 axxf 824)( ????得：04)6( ????? aaf 故：當(dāng)6ax ?時 f (x) 有極大值，此時做成的無蓋容器容積最大。 達(dá)到最優(yōu)目標(biāo)的方案 ， 稱為最優(yōu)方案 ， 搜索最優(yōu)方案的方法 ， 稱為最優(yōu)化方法 。 – ② 便于引用新的探測儀器 、 新的測井信息和新的解釋模型 。 常規(guī)方法都是建立在以中子－密度組合為主的交會技術(shù)基礎(chǔ)之上 ， 計(jì)算過程是仿效經(jīng)典的“ 人工 ” 解釋步驟進(jìn)行的 ,即先對中子－密度測井值進(jìn)行泥質(zhì)校正 ，再進(jìn)行油氣校正 ， 最后求解地層儲集參數(shù) （ 孔隙度 、 飽和度等 ） ，它們對新發(fā)展起來的一些探測儀器的測量信息 ， 無法應(yīng)用 。 1???????? SHttt fga??125 計(jì)算滲透率 21 w i r rSK??通過標(biāo)示符 XKM，用兩種方式計(jì)算滲透率： 23?????????w i r rSX KMK?XKM=0時 XKM≠0時 孔隙度和飽和度均為百分?jǐn)?shù) 孔隙度為小數(shù)，飽和度為百分?jǐn)?shù) XKM常取 25000。 121 計(jì)算含水飽和度 Sw和 SXO shwtww RRSHRRS2 ?? ?從下列三種方法中任選一種： 1） Simandoux公式 ntmwwRaRS??2） Archie公式 這里程序規(guī)定 a=1， n=2， m=+， 當(dāng)Ф， m=。 ?程序按標(biāo)準(zhǔn)四礦物設(shè)計(jì) ， 但可按指定雙礦物法使用 107 ФCNL/% 密度ρ b 0 20 40 60 80 100 水點(diǎn) C1 C3 C4 C2 1 2 3 C1— 石英 C2— 方解石 C3— 白云石 C4— 硬石膏 108 109 對中子 密度交會圖，按含水泥質(zhì)雙礦物模型，其響應(yīng)方程為： 211 ccsh VVV ???? ?2211 ccccfshshb VVV ?????? ????2211 NccNccNfN s hshC N L VVV ????????? ?這是個 3個方程， 4個未知數(shù)的方程組，怎么解？ 110 ?如果把 Vsh看成已知量 ， 則方程組可解； ?這個已知量的可以利用其他方法求得 ， 再代入上面的方程組 ， 但這樣求解起來將非常麻煩 。 ?可按標(biāo)準(zhǔn) 4礦物法或指定雙礦物法確定礦物成分和孔隙度 。 ? SARABAND： Schlumberger公司含油氣泥質(zhì)砂巖處理程序 。 ? 是對 POR程序的改進(jìn) 。 用 NEU計(jì)算 POR=(NEUNMA)/(NFNMA)VSH*(NSHNMA)/(NFNMA) 當(dāng) NSH =NMA時，不作泥質(zhì)校正。 iiiii G M I NG M A X G M I NSH L GSH ??? 12 12 * ? ?? G C U RSHG C U Ri iVshi— 曲線編號； SHLGi— 第 i種測井曲線值； GMINi— 第 i條曲線純砂巖數(shù)值；GMAXi— 第 i條曲線純砂巖數(shù)值； Shi— 第 i條曲線計(jì)算的泥巖相對值； GCUR—經(jīng)驗(yàn)系數(shù)，公式（ 1118b）； Vshi— 第 i種曲線計(jì)算的泥質(zhì)含量 ? Vsh輸出結(jié)果： Vsh=min(Vshi) Vsh=if (Vsh=SHCT, 1, Vsh) 88 第三節(jié) POR程序（泥質(zhì)砂巖）方法原理 二 、 計(jì)算孔隙度 ? 可以選用任何一種孔隙度測井曲線 ， PEG=（ 1密度 ， 2聲波 ， 3中子 ） ； ? POR程序采用含水泥質(zhì)砂巖模型計(jì)算孔隙度： ? 當(dāng) DSH=DG時 ， 不作泥質(zhì)校正 ? 當(dāng) TSH=TM時 ， 不作泥質(zhì)校正 。 85 小結(jié)： ?了解測井資料處理系統(tǒng)的具體組成； ?了解資料預(yù)處理的方法包括測井曲線深度校正的方法 、 斜井曲線校正方法 、 平滑濾波處理方法 、環(huán)境影響校正的方法 ， 交會圖的一些知識； ?掌握測井解釋處理系統(tǒng)的 3個組成部分 ， 資料預(yù)處理包含的內(nèi)容 ， 為什么要進(jìn)行數(shù)據(jù)處理 ， 為什么要作測井曲線的環(huán)境校正 ， 常用交會圖有哪幾種 ， 交會圖的作用 ， 頻率交會圖和 Z值圖上數(shù)字的含義 。 ?第三條曲線常選用 GR， SP， 電阻率或井徑曲線 82 直方圖 ?表示繪圖井段內(nèi)某測井值或地層參數(shù)的頻數(shù)或頻率分布的圖形 。 ?圖中的數(shù)字代表落在該處采樣點(diǎn)的個數(shù) /次數(shù) /頻率 78 表示在該解釋井段上 ，滿足 ФN=15， ρb=的采樣點(diǎn)有 2個 79 Z值圖 ?是在頻率交會圖的基礎(chǔ)上引入第三條曲線 Z（ 稱為 Z曲線 ） 做成的數(shù)據(jù)圖形 。 75 交會圖圖板 ?定義： ?用來表示給定巖性的兩種測井參數(shù)之間關(guān)系的解釋圖版 。 TNPHO= R3+ R2++ TNPH5= R3+ + TNPH10= R3+ + TNPH15= R3+ + 優(yōu)點(diǎn)：簡單、全面、迅速、有效。 72 環(huán)境影響校正的方法： ?解釋圖板法 ?由理論計(jì)算和實(shí)驗(yàn)結(jié)果做出的少受環(huán)境影響 、 更真實(shí)反映地層性質(zhì)的測井值 。 21110 )(???? ??? taaTQ ti00???aQ01???aQ)(31 110 ??????? iiii TTTaT即位 Ti點(diǎn)的滑動平均值。 64 最小二乘滑動平均法 ?原理：根據(jù)最小二乘法原理對當(dāng)前采樣點(diǎn)附近幾個點(diǎn)作擬合曲線 ， 算出擬合曲線在當(dāng)前采樣點(diǎn)處的滑動平均值 ， 作為該點(diǎn)的采樣值；用此方法進(jìn)行逐點(diǎn)計(jì)算 ， 便得到一條平滑的曲線 。 45 ?設(shè)窗長為 N個采樣點(diǎn) ， x(i)為標(biāo)準(zhǔn)曲線的第 i個采樣點(diǎn)測井?dāng)?shù)據(jù) ， y(i)為對比曲線相應(yīng)長度內(nèi)的第 i個測井?dāng)?shù)據(jù) 。 ? 為什么要作深度校正 ？ 42 一、測井曲線的深度校正 利用深度控制曲線進(jìn)行深度校正 ?通常是用 GR曲線作為深度控制曲線 ， 每次測量都帶測一條 GR曲線 ， 并以某次測量的 GR曲線為基準(zhǔn) ， 把其他次測量的曲線深度向它對齊 。 41 ? 在測井時 ， 由于儀器情況及上提情況不同 ， 各次測量時電纜的受力情況也不同 ， 再加上儀器操作不當(dāng)?shù)仍?， 使各次測量的曲線 ， 有時甚至是同一次測量的曲線在深度上可能發(fā)生不同程度的錯動而導(dǎo)致計(jì)算錯誤 ， 因此需要仔細(xì)檢查曲線的深度并做必要的校正 。 形式為： 文件名 起始深度 1，終止深度 1 參數(shù)名 11=參數(shù)值 11，參數(shù)名 12=參數(shù)值 12， …… …… 參數(shù)名 1n=參數(shù)值 1n …… 起始深度 n，終止深度 n 參數(shù)名 n1=參數(shù)值 n1，參數(shù)名 n2=參數(shù)值 n2， …… …… 參數(shù)名 nn=參數(shù)值 nn 解釋井段1 解釋井段2 38 測井分析程序的基本流程： 開始 系統(tǒng)服務(wù)程序（ RDFLNM/IN/OUT/CONST） 讀測井?dāng)?shù)據(jù) /IN 處理完？ 作某些校正 處理 輸出 /OUT No 結(jié)束 Yes 第二節(jié) 測井資料預(yù)處理 40 第二節(jié) 測井資料預(yù)處理 ?為什么要做資料的預(yù)處理 ？ ?測井?dāng)?shù)據(jù)處理是按深度逐點(diǎn)進(jìn)行計(jì)算的 ， 對測井曲線的深度和幅度的準(zhǔn)確性要求嚴(yán)格 。 每個數(shù)據(jù)記錄塊包含有 NOLOG條曲線的 SPCPR 個樣點(diǎn) ,其記錄長度為 : ? 數(shù)據(jù)記錄塊長度 = NOLOG x SPCPR x 4(字節(jié) ) ? 其在記錄塊中的記錄順序如圖 2 : 30 第一個數(shù)據(jù)記錄塊的第一個采樣點(diǎn)的深度為 STDEP, 下一個采樣點(diǎn)的深度為 STDEP + / RL EV(取決于測井方向是上提或下放 ) 。 ? (11 ) 服務(wù)表號 ( ISERV) :6 位 ASCII 碼 。 ? (7 ) 起始深度 (STDEP) :4 字節(jié)浮點(diǎn)數(shù) 。 ? (3 ) 井名 ( IWELL) : 80 字節(jié) ASCII 碼表示的字符 。 ? XTF： Atlas公司 ECL IPS5 70 0數(shù)控測井系統(tǒng)和 e Xpress解釋軟件所使用的數(shù)據(jù)格式 。 25 數(shù)據(jù)管理（測井?dāng)?shù)據(jù)格式） ? 在測井資料解釋處理工作中 , 了解測井?dāng)?shù)據(jù)的記錄格式是十分重要的 , 只有知道了所用的測井?dāng)?shù)據(jù)的記錄格式 , 才能正確地進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀取 、 計(jì)算 、 格式轉(zhuǎn)換等處理 。 平臺開發(fā)工具 SDK為從事測井評價軟件開發(fā)的程序人員提供了施展才華的舞臺； 生產(chǎn)測井解釋平臺 （ WATCH） ； Visual Studio .工具開發(fā)的新一代網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用平臺 。