【正文】 由于存 在較高評價人誤差的風險，應該僅與顧客合作使用。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 2)、測量 15次的偏倚研究數(shù)據(jù)： 偏倚分析結(jié)果： Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 2)、偏倚分析結(jié)果： 測量次數(shù) n(m) 平均值 （ X ） 標準偏差 σ r＝{ max(xi) －min(xi) }/d2* 均值的標準差 σ b ＝ σ r / 測量值 15 基準值＝ ， а ＝ ， g＝ 1， d2*＝ t(統(tǒng)計量 )＝偏倚 /σ b df(自由度 v) 顯著 t值(2尾 ) 偏倚＝觀測平均值－ 基準值 95％偏倚置信區(qū)間 低值 高值 測量值 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge Today’s Learning for tomorrow’s Challenge ■ 如果偏倚從統(tǒng)計上非 0，尋找以下可能的原因： ? 標準或基準值誤差，檢查標準程序； ? 儀器磨損。測量裝置分析表明沒有線性問題，所 以工程師只評價了測量系統(tǒng)偏倚。 nxini??1Today’s Learning for tomorrow’s Challenge Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 6)、確定偏倚的 t統(tǒng)計量： 偏倚 = 觀測測量平均值 － 基準值 σ b＝ σ r / 7)、計算偏倚值： Today’s Learning for tomorrow’s Challenge Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 8)、偏倚值判定接受準則： 如果 0 落在圍繞偏倚值 1а 置信區(qū)間以內(nèi)，偏倚 在 а 水平是可接受的。評審直方圖，用專業(yè)知識確定是否存 在特殊原因或出現(xiàn)異常。 注：可能需要建立預期測量范圍的高、中、低三個數(shù)值的三個標準樣本 是理想的。 ◆ 校準允許對測量儀器、測量系統(tǒng)或標在尺上的刻 度值等的指示的誤差的評價。 ■ 總的可能性應衡量并且要與在進行的測量的重要性和 關鍵性相一致。這些都 是通過高級別測量設備的評定而得到的最好產(chǎn) 品。 如： — 1Kg質(zhì)量標準； — 氦 氖激光長度標準； — 標準量塊； — 銫原子頻率標準； — 100歐姆標準電阻； — Josephson Array電壓標準； — solution of cortisol in human serum as a standard of concentration； — 韋斯登標準電池。 ? 對于具體用途，采用接受的參考方法獲得的一個同意值。它引起由各種已知的或未知的變差源的綜 合影響組成的總誤差，它引起總誤差的原因是在重復采用同樣的測量過程進行 測量時，總是趨向于使所有的測量結(jié)果發(fā)生持續(xù)及可預測的偏移。 因為“ accuracy” 在字面上有好幾種意思，所以建議不要用它來替代“偏倚”。 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 測量系統(tǒng)分析 定義測量系統(tǒng) 分辨率 計量校準 和追溯 偏倚、線性 和穩(wěn)定性 計數(shù)型假設檢驗法 測量系統(tǒng) 比較和分析工具 進行 GR amp。 測量增量（ increments）小于過程變異性和技術規(guī)范寬度 的 1/10。 ?人員 培訓、經(jīng)驗、理解、程序、教育的、體力的、目視標準、態(tài)度。 ■ 要求理解這六個方面的因素，因此可以控制或排除這些因素。有多 種不同的方法可以對這些變差源表述和分類，如因果圖、故障樹圖等， 但測量系統(tǒng)分析（ MSA,第三版）將關注的是測量系統(tǒng)的主要要素。 操作者 B 操作者 C 操作者 A 再現(xiàn)性 基準值 無偏倚 有偏倚 觀測的平均值 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 測量值并不總是精確的 ? 測量系統(tǒng)的變差影響每個測量值和根據(jù)這些測量數(shù)據(jù)所作 的判定 ? 測量系統(tǒng)的誤差或分為五類：偏倚、重復性、再現(xiàn)性、穩(wěn) 定性和線性 ? 必須在使用一個測量系統(tǒng)前知道其測量變差 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 從哪里開始 ? 評估量測系統(tǒng)的組成并盡可能控制量測系統(tǒng)的變差，以確 保量測系統(tǒng)在符合使用它的要求狀態(tài)下 ? 把我們的關注從測量過程變差擴展到測量系統(tǒng)統(tǒng)計特性和 測量不確定性上 ? 使用 SPC的基本原理 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 理想的測量系統(tǒng) ? 每次都能獲得正確的測量值，每個測量值都與真值一致 ? 有以下統(tǒng)計特性： — 零變差 — 零偏倚 — 零概率錯誤分類 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 測量系統(tǒng)數(shù)據(jù) ? 評估量測系統(tǒng)的組成并盡可能控制量測系統(tǒng)的變差，以確 保量測系統(tǒng)在符合使用它的要求狀態(tài)下 ? 使用 SPC的基本原理 Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 變差數(shù)據(jù)表達 ? 過程控制中所收集的數(shù)據(jù)包含二種不同的、相對獨立的變 差來源： — 制造過程變差（ MPV） — 測量系統(tǒng)變差（ MSV） — 總變差（ TV） = MPV + MSV Today’s Learning for tomorrow’s Challenge 測量系統(tǒng)的變差與制造過程變差 ? 測量系統(tǒng)的變差必須小于制造過程變差 MSV MPV MSV MPV 總變差（ TV） 規(guī)范公差 注：測量系統(tǒng)的變差必須盡可能小 Today’s Learning