電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告要求-資料下載頁
2024-10-25 12:01本頁面
【正文】 能性。在電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽中，可行性是必須優(yōu)先考慮的。理論分析與計(jì)算對(duì)不同的賽題要求不同，如控制類賽題通常需要作為一個(gè)章節(jié)來寫，有些賽題如“寬帶DC放大器”也可以放在系統(tǒng)方案設(shè)計(jì)或者是單元電路設(shè)計(jì)與計(jì)算中。在單元電路設(shè)計(jì)與計(jì)算中不需要進(jìn)行多個(gè)方案的比較與選擇，只需要對(duì)已確定的各單元電路的工作原理進(jìn)行介紹，對(duì)各單元電路進(jìn)行分析和設(shè)計(jì)，并對(duì)電路中的有關(guān)參數(shù)進(jìn)行計(jì)算及元器件的選擇等。應(yīng)注意的是：在單元電路設(shè)計(jì)中，理論的分析和計(jì)算是必不可少的。在理論分析和計(jì)算時(shí)，要注意公式的完整性，參數(shù)和單位的匹配，計(jì)算的正確性。在許多競(jìng)賽作品中，會(huì)使用到單片機(jī)、FPGA、ARM、DSP等需要編程的器件，程序設(shè)計(jì)是作品的重要組成部分。應(yīng)注意介紹程序設(shè)計(jì)的平臺(tái)、開發(fā)工具和實(shí)現(xiàn)方法，應(yīng)詳細(xì)地介紹程序的流程方框圖、實(shí)現(xiàn)的功能以及程序清單等。通常在正文部分僅介紹程序的流程方框圖和實(shí)現(xiàn)的功能，程序清單通常在附錄中列出。5．系統(tǒng)測(cè)試 系統(tǒng)測(cè)試包括測(cè)試方案與測(cè)試結(jié)果，包含有測(cè)試設(shè)備、功能測(cè)試、性能測(cè)試、整機(jī)測(cè)試的測(cè)試方法與測(cè)試數(shù)據(jù)，以及數(shù)據(jù)的分析與處理（包括誤差分析與改善措施等）。應(yīng)詳細(xì)介紹系統(tǒng)的性能指標(biāo)或功能的測(cè)試方法、步驟，所用儀器設(shè)備名稱、型號(hào)，測(cè)試記錄的數(shù)據(jù)和繪制圖表、曲線。應(yīng)注意的是：要根據(jù)競(jìng)賽題目的技術(shù)要求和所制作的作品，正確的選擇測(cè)試儀器儀表和測(cè)試方法。例如：作品是一個(gè)采用高頻開關(guān)電源方式的數(shù)控電源，如果選擇的示波器是低頻示波器，所測(cè)試的一些參數(shù)是會(huì)有問題的。應(yīng)對(duì)作品的測(cè)試的結(jié)果和數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和計(jì)算，這些測(cè)試結(jié)果是對(duì)作品的最好表述；也可以利用MATLAB等軟件工具制作一些圖表，對(duì)利用各種儀器設(shè)備獲得的測(cè)試數(shù)據(jù)以及得到各種圖譜要進(jìn)行分析解讀，例如指出產(chǎn)生誤差的原因等。在電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽的設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告中的結(jié)論部分，必須對(duì)整個(gè)作品作一個(gè)完整的、結(jié)論性評(píng)價(jià)，也就是說要有一個(gè)結(jié)論性的意見。但也可以在結(jié)論中，報(bào)道在作品設(shè)計(jì)與制作過程中的經(jīng)驗(yàn)或教訓(xùn)以及不足，指出需要加以改進(jìn)的地方，提出建議及研究設(shè)想。應(yīng)注意的是：結(jié)論的內(nèi)容與摘要有很多相似之處，一是文字表述不要完全重復(fù)雷同，二是注意不要前后矛盾，特別是一些數(shù)據(jù)和結(jié)果。在設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告中，參考文獻(xiàn)是必不可少的組成部分，其要求與科技論文中對(duì)參考文獻(xiàn)的要求是完全相同的。參考文獻(xiàn)部分應(yīng)列出在設(shè)計(jì)過程中參考的主要書籍、刊物、雜志等。常見的參考文獻(xiàn)的格式如下：（1）雜志[1] 倪巍，[J].復(fù)旦學(xué)報(bào)（自然科學(xué)版）.2004年2月第43卷第1期，P72P76[2] 王文峰，耿力，基于射頻識(shí)別的實(shí)時(shí)定位系統(tǒng)技術(shù)研究[J].集成電路，2007年第7期，P21～P24（2）圖書[1] （第2版）[M].北京：北京航空航天大學(xué)出版社，[2] （第2版）[M].北京：北京航空航天大學(xué)出版社，（3）網(wǎng)絡(luò)電子文獻(xiàn)[1] Texas Instruments (SoC)with MCU[EB/OL].[].～[2] Samsung – 200MHz amp。 266MHz 32Bit RISC Microprocessor USER39。SMANUAL Revision .[EB/OL].[].://第五篇：1電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)和組成電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)和組全國大學(xué)生電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽作品由基本制作部分、發(fā)揮制作部分和設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告3部分組成，總分150分設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告是電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽作品的一個(gè)重要組成部分，占總分的1/3，即50分。注意：從2007年開始有一個(gè)變化，不同賽題的設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告的評(píng)分項(xiàng)目和評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)是不同的。從2007年開始，競(jìng)賽分為本科組和高職高專組分別出題進(jìn)行比賽，高職高專組的設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告為20分。具體評(píng)分要求可以參考?xì)v屆賽題。設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告的評(píng)分是一個(gè)獨(dú)立環(huán)節(jié)，評(píng)分過程是在作品通過專家測(cè)試后進(jìn)行。學(xué)生的設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告是以密封的形式提供給專家組，專家參照由全國大學(xué)生電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽組委會(huì)提供的評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)分。設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告的評(píng)分項(xiàng)目由方案設(shè)計(jì)與論證、理論計(jì)算、電路圖及設(shè)計(jì)文件、測(cè)試方法與數(shù)據(jù)、結(jié)果分析、設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告的工整性等六個(gè)方面組成。設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告是每個(gè)參賽小組都必須提供的文件。電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽的設(shè)計(jì)總結(jié)報(bào)告由前置部分、主體部分和附錄部分3個(gè)部分組成。① 前置部分包括：題名，中文摘要，中文關(guān)鍵詞，英文摘要，英文關(guān)鍵詞，目錄② 主體部分包括：系統(tǒng)方案比較與設(shè)計(jì)，理論分析與計(jì)算，單元電路設(shè)計(jì)與計(jì)算，程序設(shè)計(jì)，系統(tǒng)測(cè)試，結(jié)論，參考文獻(xiàn)③ 附錄部分包括：系統(tǒng)操作說明，元器件明細(xì)表，儀器設(shè)備清單，電原理圖，PCB圖，程序清單以上內(nèi)容摘自“全國大學(xué)生電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽“十二五規(guī)劃”教材 全國大學(xué)生電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽技能訓(xùn)練（第2版）”（黃智偉編著，）本文摘自: 大學(xué)生電子設(shè)計(jì)聯(lián)盟(://
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