din-en-10228-3德國(guó)探傷標(biāo)準(zhǔn)-資料下載頁(yè)
2025-09-26 14:55本頁(yè)面
【正文】 ≤12≤8≤8≤5≤5≤3≤3≤21）deq = 等值平底孔直徑2）式中：n=1（t≥60mm），n=2（t＜60mm＝） ——底板第n次回波衰減振幅（示波器屏幕所示高度）——與在相同范圍內(nèi)的無缺陷區(qū)域底板第n次回波衰減振幅（示波器屏幕所示高度）。3）如果底板回波衰減超過記錄水平，那么就需要進(jìn)一步研究這個(gè)問題。衰減比率R僅適用于存在單個(gè)缺陷時(shí)引起底板回波快速衰減。表6斜探頭使用DGS技術(shù)采用平底孔試塊時(shí)質(zhì)量等級(jí)、記錄水平及合格標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量等級(jí)1 1）234記錄水平dep（mm）2） ＞5＞3＞2孤立缺陷的合格標(biāo)準(zhǔn)dep（mm）2）≤8≤5≤3條狀或成組缺陷的合格標(biāo)準(zhǔn)depmm1）≤5≤3≤2注意：質(zhì)量等級(jí)1不適用橫波掃描檢驗(yàn)deq——等值平底孔直徑 表7：斜探頭使用DAC技術(shù)時(shí)質(zhì)量等級(jí)、記錄水平及合格標(biāo)準(zhǔn)1)質(zhì)量級(jí)別公稱檢測(cè)頻率2）MHz記錄水平%（DAC）接受標(biāo)準(zhǔn)孤立缺陷1）4）%（DAC）條狀或成組缺陷1）4）%（DAC）12）2150100502100200100325010050410020010042306030450100501）基于3mm直徑的側(cè)面鉆孔。2）橫波掃描不適用于質(zhì)量等級(jí)1。3）對(duì)每個(gè)頻率和探頭均需建立基于3mm直徑的側(cè)面鉆孔試塊掃描獲得距離波幅曲線（DAC）。4）附錄B中給出了以dB為單位相對(duì)于DAC波幅顯示值。15 確定缺陷尺寸買賣雙方需要協(xié)商用下面的一項(xiàng)或幾項(xiàng)方法對(duì)可能存在條狀缺陷進(jìn)行評(píng)估。這些方法應(yīng)該與prEN5835中的要求一致：0 6dB衰減方法1 20dB衰減方法2 最大振幅方法16報(bào)告所有的檢驗(yàn)都必須以書面形式報(bào)告，報(bào)告至少必須包括如下內(nèi)容：供應(yīng)商名稱；A 訂單號(hào)；B 經(jīng)檢驗(yàn)的鍛件識(shí)別號(hào)；C 檢驗(yàn)范圍：檢驗(yàn)區(qū)域及質(zhì)量等級(jí)；D 在生產(chǎn)的哪一階段進(jìn)行超聲波檢驗(yàn)(UT)；E 超聲波檢驗(yàn)前的表面處理狀況；F 使用的超聲波檢驗(yàn)設(shè)備（探傷儀，探頭，標(biāo)定試塊和參考試塊）；G 設(shè)定靈敏度的方法；H 使用的參考標(biāo)準(zhǔn)或檢驗(yàn)程序（如果有的話）；I 檢驗(yàn)結(jié)果；位置，等級(jí)及超過記錄及合格標(biāo)準(zhǔn)的振幅（以平底孔（FBH）等值直徑或側(cè)面鉆孔（SDH）的百分比表示）；J 對(duì)掃描覆蓋范圍要求的控制細(xì)節(jié)以及是否將其應(yīng)用于近表面區(qū)域；K 檢驗(yàn)數(shù)據(jù)；L 檢驗(yàn)員的姓名、資質(zhì)及簽字。 附錄附錄A（介紹）圓周橫波掃描的最大檢測(cè)深度圖A所示為對(duì)給定的探頭和聲束范圍進(jìn)行圓周橫波掃描時(shí)的最大檢測(cè)深度。 D為徑向反射器上的法向入射聲束范圍M為對(duì)特定的探頭角和外半徑下的最大可檢測(cè)深度圖A：圓周橫波掃描的最大檢測(cè)深度探頭角度X最大檢測(cè)深度M聲束范圍D70176。60176。50176。45176。35176。注意：最大檢測(cè)深度M及聲束范圍D均以相對(duì)外半徑R的值給出，R為用作徑向反射器的鍛件半徑。所示光束范圍D的數(shù)值可以加倍計(jì)算。 附件B（介紹）相對(duì)于%DAC的dB波高作為一個(gè)由3mm側(cè)面鉆孔構(gòu)成的DAC（100%DAC）的替代物即相對(duì)DAC。：相對(duì)于%DAC的dB波高DAC(%)相對(duì)于%DAC的波高(dB)30105066041000200+6內(nèi)容總結(jié)
（1）德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)碼： DIN EN 102283：
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