【正文】 能夠確保不會由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動而引入新的缺陷 。 應用 HASS的目的是要在極短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)批量生產(chǎn)的成品是否存在生產(chǎn)質(zhì)量上的 隱患 。 HASS是 產(chǎn)品通過 HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線上做高加速應力篩選。要求 100%的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱患的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷 ,HASS就是通過加速應力以期在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品，縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產(chǎn)品 。 HASS包含如下內(nèi)容： * 進行預篩選，剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷； * 進行探測篩選，找出明顯缺陷； * 故障分析； * 改進措施。 HASS研發(fā) 訂定 HASS規(guī)格底線。 HASS驗證： 剔除疵病效益的驗證。 不損及太多使用壽命的驗證。 HASS生產(chǎn) 監(jiān)控生產(chǎn)的篩選效益 。 HASS 高 加速應力篩選 三個主要試程： * HASS Development （ HASS試驗計劃階段）； * ProofofScreen（計劃驗證階段）； * Production HASS（ HASS執(zhí)行階段）。 HASS的好處： 省去以后為尋找產(chǎn)品失效而導致的額外費用 省去耗費時間很長的“老化試驗” 降低現(xiàn)場費用： ——售后服務 ——維修 （ 1） HASS Development HASS試驗計劃必須參考前面 HALT試驗所得到的結(jié)果。一般是將溫度及振動合并應力中的高、低溫度的可操作界限縮小 20％，而振動條件則以破壞界限 G值的 50％做為HASS試驗計劃的初始條件。然后再依據(jù)此條件開始執(zhí)行溫度及振動合并應力測試，并觀察被測物是否有故障出現(xiàn)。如有故障出現(xiàn)，須先判斷是因過大的環(huán)境應力造成的，還是由被測物本身的質(zhì)量引起的。屬前者時應再放寬溫度及振動應力 10%再進行測試，屬后者時表示目前測試條件有效。如無故障情況發(fā)生，則須再加嚴測試環(huán)境應力 10%再進行測試。 （ 2） ProofofScreen 在建立 HASS Profile（ HASS 程序）時應注意兩個原則：首先，須能檢測出可能造成設備故障的隱患；其次，經(jīng)試驗后不致造成設備損壞或 內(nèi)傷 。為了確保 HASS試驗計劃階段所得到的結(jié)果符合上述兩個原則，必須準備 3個試驗品，并在每個試品上制作一些未依標準工藝制造或組裝的缺陷，如零件浮插、空焊及組裝不當?shù)?。?HASS試驗計劃階段所得到的條件測試各試驗品，并觀察各試品上的人造缺陷是否能被檢測出來，以決定是否加嚴或放寬測試條件，而能使 HASS Profile達到預期效果。 在完成有效性測試后，應再以新的試驗品，以調(diào)整過的條件測試 30～ 50次，如皆未發(fā)生因應力不當而被破壞的現(xiàn)象，此時即可判定 HASS Profile通過計劃驗證階段測試，并可做為 Production HASS之用。反之則須再檢討，調(diào)整測試條件以求獲得最佳的組合。 （ 3） Production HASS 任何一個經(jīng)過 ProofofScreen考驗過的 HASS Profile皆被視為快速有效的質(zhì)量篩選利器，但仍須配合產(chǎn)品經(jīng)客戶使用后所回饋的異常再做適當?shù)恼{(diào)整。另外，當設計變更時，亦相應修改測試條件。 高加速壽命試驗 什么是 HASS ？ 在 研發(fā) 的 DVT階段 ， 將 振動 、 溫度 、 電及濕度 等應力 ， 進行各種不同的整合 ， 并以階梯應力的方式 ， 依序或同時施加在待測物體上面 。 HALT : Highly Accelerated Life Testing HASS : Highly Accelerated Stress Screen DVT stage 設計驗證階段 Design Verification Testing 目的作用： 運用比一般環(huán)境更高的應力 ， 有次序地加載在測試物上 ， 目的是發(fā)掘出新開發(fā)設計出的產(chǎn)品的設計弱點 ， 而能使負責設計與開發(fā)的工程師 ， 能夠針對這項被暴露出的弱點，進行評估 ， 在必要的狀況下 ， 能夠準確地進一步改善在設計及制程上 的 這項弱點 ， 進而提升產(chǎn)品 的可靠度。 這種方法就是所謂的加速或加速應力試驗 （ＡＳＴ），是可靠度 試驗 的重要一 環(huán) 。 加速 產(chǎn)品 上市 提升產(chǎn)品 可靠度 加速壽命試驗 “加速試驗”是“為了縮短測試時間執(zhí)行比標準條件更嚴酷的條件下進行的測試 ”。 評估 產(chǎn)品 在規(guī)定 環(huán)境下的使用壽命，耗時 較久 ，且需投入大量的金錢和時間，而產(chǎn)品可靠度的結(jié)果又不能及時 獲得并 加以改善，導致失去許多商機與競爭力。因此，如何以 加速壽命試驗（ Accelerated Life Testing)的方法 ,在可接受的實驗時間內(nèi)評估產(chǎn)品 的使用壽命 ,便成為整體可靠度試驗工作中相當重要的一環(huán)，同時也是最具挑戰(zhàn)性 的課題 . 基本上 ,加速壽命試驗是在物理與時間上 ,加速產(chǎn)品的劣化肇因 ,以較短的 時間試驗 ,并據(jù)已推定產(chǎn)品在正常使用狀態(tài)的壽命或失效率 . 一般來說，加速壽命試驗考慮的三個要素為環(huán)境應力、試驗樣本數(shù)及試 驗時間。假設產(chǎn)品及復雜又昂貴，則樣本數(shù)可較少，相對的須增加試驗 時間或環(huán)境應力。但加速壽命的失效模式必須于正常環(huán)境下的壽命試驗 相同，其結(jié)果才有實際意義 . 溫度導致產(chǎn)品失效的原因 低溫： ； 。 高溫： ； ； ， 散熱，半導體 的導電性產(chǎn)生明顯影響； 溫度沖擊 當溫度突然變化時，由于物質(zhì)熱容量存在，材料要與環(huán)境進行能量交換，不同材料吸熱，導熱，散熱的能力不一致，造成不同材料之間的溫差，形成強大的內(nèi)應力。從而產(chǎn)生溫度沖擊效應。 不同 程度的振動會對電子產(chǎn)品造成不同的物理損壞，如開裂，掉件，錯位等。 外界激勵會使電子元器件響應出不同的振動能量與共振頻率。元件體積越小共振頻率越高，元件體積越大共振頻率越小。 變壓器，電解電容共振頻率 ： 0600HZ； 一般元件共振頻率 ： 6002023HZ； die， bondingwire共振頻率 ： 20235000HZ 振動導致產(chǎn)品失效的原因 溫度加速 溫度對半導體的壽命影響是很大的，因此使用溫度加速壽命的加速試驗的最常見的方法 。 溫濕度加速 大規(guī)模集成電路在高溫高濕環(huán)境為了解暴露在高溫、 高濕下進行測試半導體的壽命。 高溫高濕偏壓測試，蒸汽壓力測試，溫濕度環(huán)境應力高加速試驗等，通常都被用于濕度加速試驗。濕度很少被用作確認防潮的唯一加速因子，而一般應用溫度和濕度應力的組合。這為了促進濕度 （水） 的反應，并導致增加濕度壽命的加速。 電壓加速 根據(jù)器件特征電壓加速試驗有很大的不同（ MOS 雙極和其他過程，電路配置 ).對 MOS 集成電路和通常用于評估柵氧化膜的抵抗來說電壓加速試驗是有效的。然而很難對雙極大型集成電路做電壓加速。 溫差加速 半導體包括各種各樣的材料的組合，并且這些材料的熱膨脹系數(shù)也廣泛的變化。每次器件經(jīng)歷溫差因每種材料的熱脹系數(shù)之間的差異導致?lián)p壞 （內(nèi)部力量） 累積 （或突然崩潰），導致最終失效。根據(jù)溫度區(qū)別的加速測試被用于知道壽命。 應用對試驗器件是有效的比那些通常遇到更大的溫度差的溫度循環(huán)加速測試評價由溫度差異所引起的損壞。 當暴露于高低溫，溫度循環(huán)試驗用于評估器件抵抗的測試，和抗暴露于在兩個極限溫度的溫度變化的能力。這些測試允許確認半導體產(chǎn)品抗市場上溫度的應力。(例如 ,經(jīng)歷白天到夜間汽車內(nèi)遺留的設備所經(jīng)歷的溫度 變化 。 HALT技術比起傳統(tǒng)的可靠性檢測方法在實際運用過程中更具有成效。 。 /高周期轉(zhuǎn)換至高應力 /低周期，使暴露故障的時間大大短于正?？煽啃詰l件下的所需時間。 ，必須結(jié)合溫度與振動應力。 （ 6DOF (Degree Of Freedom)）比單軸振動能更有效的檢測出故障點。 ，通過實踐與 HALT試驗得出的結(jié)果很具相關性。 產(chǎn)品 強化 過程 檢測 設計 階段 生產(chǎn) 階段 HALT HASS 執(zhí)行 HALT 未執(zhí)行 HALT 產(chǎn)品壽命 產(chǎn)品壽命 失效率 失效率 失效率下降 DVT ?驗證產(chǎn)品符合規(guī)格 。 ?驗證產(chǎn)品于 所 遭遇 環(huán)境 內(nèi)可 發(fā)揮 功能。 ?當產(chǎn)品 通過所有試驗 ， 且 沒有發(fā)生失效 時 ，它 才算成功 。 DVT是一 種 “ 通過 /不 通過 ” 試驗 。 HALT ?對產(chǎn)品 施加超出 規(guī)格 的 應力 。 ?對產(chǎn)品持續(xù)施加應力 ，直到 弱點變成失效 。 ?決定操作及 破壞 界限。 ?當產(chǎn)品 失效被 促發(fā) 、 獲悉 失效 模式 、 已 采取 CA且消除 以及 界限已被 決定 ，它才算成功。 各種因素對系統(tǒng)可靠性的影響程度 影 響 因 素 影響程度 固有可靠性 使用可靠性 零 、 部件材料 30% 設計技術 40% 制造技術 10% 使用 (運輸、操作安裝、維修 ) 20% 美國 Hughes航空公司研究技術資料顯示了各種環(huán)境應力對產(chǎn)品失效的影響 ,圖中可看出溫濕度所引發(fā)的失效占了 60﹪ 40% 28% 18% 6% 4% 2% 2% 溫度 振動 濕度 沙塵 鹽霧 高度 溫度沖擊 應力 ： 引起零組件失效的因素。 單位面積上所承受的作用力大小 。 如 拉伸應力 、 剪切應力 、 彎曲應力 、 動態(tài)應力 。 應力為隨機變量 ，以 統(tǒng)計分布來描述 。 強度 ：阻止 零組件失效的因素 。 單位面積上所承受的作用力大小 。 如 拉伸應力 、 剪切應力 、 彎曲應力 、 動態(tài)應力 。 應力為隨機變量 ，以 統(tǒng)計分布來描述 。 產(chǎn)品失效機理 產(chǎn)品為何會失效？ 應力 強度 應力 老化，強度衰減 不可靠區(qū)域 產(chǎn)品 因 退化 而 強度 降低 ， 失效 t F(t) 應力 強度 不可靠區(qū)域 應力 強度時， 失效 或 不可靠 產(chǎn)品為何會失效？ 防止后期失效的方法 ESS或 HASS剔除 潛在 疵病 所引起的早夭期失效 。 RET或 HALT提升產(chǎn)品強度 。 不可靠 區(qū)域：應力 ≥ 強度 不可靠區(qū)域變 小：強度 ≥ 應力 t F(t) 應力 強度 不可靠區(qū)域 t F(t) 應力 強度 不可靠區(qū)域變小 HALT ESS篩選剔除瑕疵產(chǎn)品 ESS HALT 允許的失效率 ESS剔除早期失效 率高的 產(chǎn)品 如何促發(fā)失效？ 施加 加速 應力 ， 促使?jié)撛?疵病或脆弱 設計 成失效 QB/T 40652023 工業(yè)用縫紉機平縫機電磁鐵技術 條件 （中華人民共和國輕工行業(yè)標準） 倒縫電磁鐵：驅(qū)動倒縫機構(gòu) 剪線電磁鐵：驅(qū)動剪線機構(gòu) 松線電磁鐵：驅(qū)動松線機構(gòu) 撥線電磁鐵：驅(qū)動撥線機構(gòu) 低溫存儲： 40176。 C， 16小時 高溫高濕 存儲： 75176。 C，濕度 93%， 16小時 耐濕熱 運行： 45176。 C，相對濕度 85%，連續(xù) 48h，試驗中電磁鐵正常工作 環(huán)境試驗 絕緣電阻：不小于 30M歐姆，濕熱試驗后不小于 1M歐姆；直流500VDC，兆歐表在引線與外殼之間測量；濕熱試驗后，測量繞組與金屬外殼間電阻 耐 壓：交流 1000VAC， 10mA， 60S，無擊穿；按照 溫升：繞組溫升不大于 70K，外殼溫升不大于 50K 外殼防護等級： IP5X；按照 GB/T42082023試驗 機械壽命：不小于 100萬次 技術規(guī)格 檢驗水平 S2 抽樣方案 一次抽樣 不合格分類 A B C AQL 15 25 批量 樣本量字碼 樣本量 Ac/Rc Ac/Rc Ac/Rc 225 A 2 1,2 26150 B 3 1,2 2,3 1511200 C 5 0,1 2,3 3,4 12013500 D 8 3， 4 5,6 檢驗水平 Ⅱ 抽樣方案 一次抽樣 不合格分類 A B C RQL 65 150 200 樣本量 Ac/Rc Ac/Rc Ac/Rc 2 0,1 2,3 3,4 A類不合格以不合格品數(shù)計， B， C類不合格以不合格數(shù)計 ORT出廠試驗抽樣方案 型式試驗抽樣方案 演講完畢，謝謝觀看！