【正文】 能夠確保不會(huì)由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動(dòng)而引入新的缺陷 。 應(yīng)用 HASS的目的是要在極短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)批量生產(chǎn)的成品是否存在生產(chǎn)質(zhì)量上的 隱患 。 HASS是 產(chǎn)品通過 HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線上做高加速應(yīng)力篩選。要求 100%的產(chǎn)品參加篩選。其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱患的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷 ,HASS就是通過加速應(yīng)力以期在短時(shí)間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品，縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產(chǎn)品 。 HASS包含如下內(nèi)容： * 進(jìn)行預(yù)篩選，剔除可能發(fā)展為明顯缺陷的隱性缺陷； * 進(jìn)行探測(cè)篩選，找出明顯缺陷； * 故障分析； * 改進(jìn)措施。 HASS研發(fā) 訂定 HASS規(guī)格底線。 HASS驗(yàn)證： 剔除疵病效益的驗(yàn)證。 不損及太多使用壽命的驗(yàn)證。 HASS生產(chǎn) 監(jiān)控生產(chǎn)的篩選效益 。 HASS 高 加速應(yīng)力篩選 三個(gè)主要試程： * HASS Development （ HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段）； * ProofofScreen（計(jì)劃驗(yàn)證階段）； * Production HASS（ HASS執(zhí)行階段）。 HASS的好處： 省去以后為尋找產(chǎn)品失效而導(dǎo)致的額外費(fèi)用 省去耗費(fèi)時(shí)間很長(zhǎng)的“老化試驗(yàn)” 降低現(xiàn)場(chǎng)費(fèi)用： ——售后服務(wù) ——維修 （ 1） HASS Development HASS試驗(yàn)計(jì)劃必須參考前面 HALT試驗(yàn)所得到的結(jié)果。一般是將溫度及振動(dòng)合并應(yīng)力中的高、低溫度的可操作界限縮小 20％，而振動(dòng)條件則以破壞界限 G值的 50％做為HASS試驗(yàn)計(jì)劃的初始條件。然后再依據(jù)此條件開始執(zhí)行溫度及振動(dòng)合并應(yīng)力測(cè)試，并觀察被測(cè)物是否有故障出現(xiàn)。如有故障出現(xiàn)，須先判斷是因過大的環(huán)境應(yīng)力造成的，還是由被測(cè)物本身的質(zhì)量引起的。屬前者時(shí)應(yīng)再放寬溫度及振動(dòng)應(yīng)力 10%再進(jìn)行測(cè)試，屬后者時(shí)表示目前測(cè)試條件有效。如無故障情況發(fā)生，則須再加嚴(yán)測(cè)試環(huán)境應(yīng)力 10%再進(jìn)行測(cè)試。 （ 2） ProofofScreen 在建立 HASS Profile（ HASS 程序）時(shí)應(yīng)注意兩個(gè)原則：首先，須能檢測(cè)出可能造成設(shè)備故障的隱患；其次，經(jīng)試驗(yàn)后不致造成設(shè)備損壞或 內(nèi)傷 。為了確保 HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段所得到的結(jié)果符合上述兩個(gè)原則，必須準(zhǔn)備 3個(gè)試驗(yàn)品，并在每個(gè)試品上制作一些未依標(biāo)準(zhǔn)工藝制造或組裝的缺陷，如零件浮插、空焊及組裝不當(dāng)?shù)取Ｒ?HASS試驗(yàn)計(jì)劃階段所得到的條件測(cè)試各試驗(yàn)品，并觀察各試品上的人造缺陷是否能被檢測(cè)出來，以決定是否加嚴(yán)或放寬測(cè)試條件，而能使 HASS Profile達(dá)到預(yù)期效果。 在完成有效性測(cè)試后，應(yīng)再以新的試驗(yàn)品，以調(diào)整過的條件測(cè)試 30～ 50次，如皆未發(fā)生因應(yīng)力不當(dāng)而被破壞的現(xiàn)象，此時(shí)即可判定 HASS Profile通過計(jì)劃驗(yàn)證階段測(cè)試，并可做為 Production HASS之用。反之則須再檢討，調(diào)整測(cè)試條件以求獲得最佳的組合。 （ 3） Production HASS 任何一個(gè)經(jīng)過 ProofofScreen考驗(yàn)過的 HASS Profile皆被視為快速有效的質(zhì)量篩選利器，但仍須配合產(chǎn)品經(jīng)客戶使用后所回饋的異常再做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整。另外，當(dāng)設(shè)計(jì)變更時(shí)，亦相應(yīng)修改測(cè)試條件。 高加速壽命試驗(yàn) 什么是 HASS ？ 在 研發(fā) 的 DVT階段 ， 將 振動(dòng) 、 溫度 、 電及濕度 等應(yīng)力 ， 進(jìn)行各種不同的整合 ， 并以階梯應(yīng)力的方式 ， 依序或同時(shí)施加在待測(cè)物體上面 。 HALT : Highly Accelerated Life Testing HASS : Highly Accelerated Stress Screen DVT stage 設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段 Design Verification Testing 目的作用： 運(yùn)用比一般環(huán)境更高的應(yīng)力 ， 有次序地加載在測(cè)試物上 ， 目的是發(fā)掘出新開發(fā)設(shè)計(jì)出的產(chǎn)品的設(shè)計(jì)弱點(diǎn) ， 而能使負(fù)責(zé)設(shè)計(jì)與開發(fā)的工程師 ， 能夠針對(duì)這項(xiàng)被暴露出的弱點(diǎn)，進(jìn)行評(píng)估 ， 在必要的狀況下 ， 能夠準(zhǔn)確地進(jìn)一步改善在設(shè)計(jì)及制程上 的 這項(xiàng)弱點(diǎn) ， 進(jìn)而提升產(chǎn)品 的可靠度。 這種方法就是所謂的加速或加速應(yīng)力試驗(yàn) （ＡＳＴ），是可靠度 試驗(yàn) 的重要一 環(huán) 。 加速 產(chǎn)品 上市 提升產(chǎn)品 可靠度 加速壽命試驗(yàn) “加速試驗(yàn)”是“為了縮短測(cè)試時(shí)間執(zhí)行比標(biāo)準(zhǔn)條件更嚴(yán)酷的條件下進(jìn)行的測(cè)試 ”。 評(píng)估 產(chǎn)品 在規(guī)定 環(huán)境下的使用壽命，耗時(shí) 較久 ，且需投入大量的金錢和時(shí)間，而產(chǎn)品可靠度的結(jié)果又不能及時(shí) 獲得并 加以改善，導(dǎo)致失去許多商機(jī)與競(jìng)爭(zhēng)力。因此，如何以 加速壽命試驗(yàn)（ Accelerated Life Testing)的方法 ,在可接受的實(shí)驗(yàn)時(shí)間內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品 的使用壽命 ,便成為整體可靠度試驗(yàn)工作中相當(dāng)重要的一環(huán)，同時(shí)也是最具挑戰(zhàn)性 的課題 . 基本上 ,加速壽命試驗(yàn)是在物理與時(shí)間上 ,加速產(chǎn)品的劣化肇因 ,以較短的 時(shí)間試驗(yàn) ,并據(jù)已推定產(chǎn)品在正常使用狀態(tài)的壽命或失效率 . 一般來說，加速壽命試驗(yàn)考慮的三個(gè)要素為環(huán)境應(yīng)力、試驗(yàn)樣本數(shù)及試 驗(yàn)時(shí)間。假設(shè)產(chǎn)品及復(fù)雜又昂貴，則樣本數(shù)可較少，相對(duì)的須增加試驗(yàn) 時(shí)間或環(huán)境應(yīng)力。但加速壽命的失效模式必須于正常環(huán)境下的壽命試驗(yàn) 相同，其結(jié)果才有實(shí)際意義 . 溫度導(dǎo)致產(chǎn)品失效的原因 低溫： ； 。 高溫： ； ； ， 散熱，半導(dǎo)體 的導(dǎo)電性產(chǎn)生明顯影響； 溫度沖擊 當(dāng)溫度突然變化時(shí)，由于物質(zhì)熱容量存在，材料要與環(huán)境進(jìn)行能量交換，不同材料吸熱，導(dǎo)熱，散熱的能力不一致，造成不同材料之間的溫差，形成強(qiáng)大的內(nèi)應(yīng)力。從而產(chǎn)生溫度沖擊效應(yīng)。 不同 程度的振動(dòng)會(huì)對(duì)電子產(chǎn)品造成不同的物理損壞，如開裂，掉件，錯(cuò)位等。 外界激勵(lì)會(huì)使電子元器件響應(yīng)出不同的振動(dòng)能量與共振頻率。元件體積越小共振頻率越高，元件體積越大共振頻率越小。 變壓器，電解電容共振頻率 ： 0600HZ； 一般元件共振頻率 ： 6002023HZ； die， bondingwire共振頻率 ： 20235000HZ 振動(dòng)導(dǎo)致產(chǎn)品失效的原因 溫度加速 溫度對(duì)半導(dǎo)體的壽命影響是很大的，因此使用溫度加速壽命的加速試驗(yàn)的最常見的方法 。 溫濕度加速 大規(guī)模集成電路在高溫高濕環(huán)境為了解暴露在高溫、 高濕下進(jìn)行測(cè)試半導(dǎo)體的壽命。 高溫高濕偏壓測(cè)試，蒸汽壓力測(cè)試，溫濕度環(huán)境應(yīng)力高加速試驗(yàn)等，通常都被用于濕度加速試驗(yàn)。濕度很少被用作確認(rèn)防潮的唯一加速因子，而一般應(yīng)用溫度和濕度應(yīng)力的組合。這為了促進(jìn)濕度 （水） 的反應(yīng)，并導(dǎo)致增加濕度壽命的加速。 電壓加速 根據(jù)器件特征電壓加速試驗(yàn)有很大的不同（ MOS 雙極和其他過程，電路配置 ).對(duì) MOS 集成電路和通常用于評(píng)估柵氧化膜的抵抗來說電壓加速試驗(yàn)是有效的。然而很難對(duì)雙極大型集成電路做電壓加速。 溫差加速 半導(dǎo)體包括各種各樣的材料的組合，并且這些材料的熱膨脹系數(shù)也廣泛的變化。每次器件經(jīng)歷溫差因每種材料的熱脹系數(shù)之間的差異導(dǎo)致?lián)p壞 （內(nèi)部力量） 累積 （或突然崩潰），導(dǎo)致最終失效。根據(jù)溫度區(qū)別的加速測(cè)試被用于知道壽命。 應(yīng)用對(duì)試驗(yàn)器件是有效的比那些通常遇到更大的溫度差的溫度循環(huán)加速測(cè)試評(píng)價(jià)由溫度差異所引起的損壞。 當(dāng)暴露于高低溫，溫度循環(huán)試驗(yàn)用于評(píng)估器件抵抗的測(cè)試，和抗暴露于在兩個(gè)極限溫度的溫度變化的能力。這些測(cè)試允許確認(rèn)半導(dǎo)體產(chǎn)品抗市場(chǎng)上溫度的應(yīng)力。(例如 ,經(jīng)歷白天到夜間汽車內(nèi)遺留的設(shè)備所經(jīng)歷的溫度 變化 。 HALT技術(shù)比起傳統(tǒng)的可靠性檢測(cè)方法在實(shí)際運(yùn)用過程中更具有成效。 。 /高周期轉(zhuǎn)換至高應(yīng)力 /低周期，使暴露故障的時(shí)間大大短于正?？煽啃詰?yīng)力條件下的所需時(shí)間。 ，必須結(jié)合溫度與振動(dòng)應(yīng)力。 （ 6DOF (Degree Of Freedom)）比單軸振動(dòng)能更有效的檢測(cè)出故障點(diǎn)。 ，通過實(shí)踐與 HALT試驗(yàn)得出的結(jié)果很具相關(guān)性。 產(chǎn)品 強(qiáng)化 過程 檢測(cè) 設(shè)計(jì) 階段 生產(chǎn) 階段 HALT HASS 執(zhí)行 HALT 未執(zhí)行 HALT 產(chǎn)品壽命 產(chǎn)品壽命 失效率 失效率 失效率下降 DVT ?驗(yàn)證產(chǎn)品符合規(guī)格 。 ?驗(yàn)證產(chǎn)品于 所 遭遇 環(huán)境 內(nèi)可 發(fā)揮 功能。 ?當(dāng)產(chǎn)品 通過所有試驗(yàn) ， 且 沒有發(fā)生失效 時(shí) ，它 才算成功 。 DVT是一 種 “ 通過 /不 通過 ” 試驗(yàn) 。 HALT ?對(duì)產(chǎn)品 施加超出 規(guī)格 的 應(yīng)力 。 ?對(duì)產(chǎn)品持續(xù)施加應(yīng)力 ，直到 弱點(diǎn)變成失效 。 ?決定操作及 破壞 界限。 ?當(dāng)產(chǎn)品 失效被 促發(fā) 、 獲悉 失效 模式 、 已 采取 CA且消除 以及 界限已被 決定 ，它才算成功。 各種因素對(duì)系統(tǒng)可靠性的影響程度 影 響 因 素 影響程度 固有可靠性 使用可靠性 零 、 部件材料 30% 設(shè)計(jì)技術(shù) 40% 制造技術(shù) 10% 使用 (運(yùn)輸、操作安裝、維修 ) 20% 美國(guó) Hughes航空公司研究技術(shù)資料顯示了各種環(huán)境應(yīng)力對(duì)產(chǎn)品失效的影響 ,圖中可看出溫濕度所引發(fā)的失效占了 60﹪ 40% 28% 18% 6% 4% 2% 2% 溫度 振動(dòng) 濕度 沙塵 鹽霧 高度 溫度沖擊 應(yīng)力 ： 引起零組件失效的因素。 單位面積上所承受的作用力大小 。 如 拉伸應(yīng)力 、 剪切應(yīng)力 、 彎曲應(yīng)力 、 動(dòng)態(tài)應(yīng)力 。 應(yīng)力為隨機(jī)變量 ，以 統(tǒng)計(jì)分布來描述 。 強(qiáng)度 ：阻止 零組件失效的因素 。 單位面積上所承受的作用力大小 。 如 拉伸應(yīng)力 、 剪切應(yīng)力 、 彎曲應(yīng)力 、 動(dòng)態(tài)應(yīng)力 。 應(yīng)力為隨機(jī)變量 ，以 統(tǒng)計(jì)分布來描述 。 產(chǎn)品失效機(jī)理 產(chǎn)品為何會(huì)失效？ 應(yīng)力 強(qiáng)度 應(yīng)力 老化，強(qiáng)度衰減 不可靠區(qū)域 產(chǎn)品 因 退化 而 強(qiáng)度 降低 ， 失效 t F(t) 應(yīng)力 強(qiáng)度 不可靠區(qū)域 應(yīng)力 強(qiáng)度時(shí)， 失效 或 不可靠 產(chǎn)品為何會(huì)失效？ 防止后期失效的方法 ESS或 HASS剔除 潛在 疵病 所引起的早夭期失效 。 RET或 HALT提升產(chǎn)品強(qiáng)度 。 不可靠 區(qū)域：應(yīng)力 ≥ 強(qiáng)度 不可靠區(qū)域變 小：強(qiáng)度 ≥ 應(yīng)力 t F(t) 應(yīng)力 強(qiáng)度 不可靠區(qū)域 t F(t) 應(yīng)力 強(qiáng)度 不可靠區(qū)域變小 HALT ESS篩選剔除瑕疵產(chǎn)品 ESS HALT 允許的失效率 ESS剔除早期失效 率高的 產(chǎn)品 如何促發(fā)失效？ 施加 加速 應(yīng)力 ， 促使?jié)撛?疵病或脆弱 設(shè)計(jì) 成失效 QB/T 40652023 工業(yè)用縫紉機(jī)平縫機(jī)電磁鐵技術(shù) 條件 （中華人民共和國(guó)輕工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)） 倒縫電磁鐵：驅(qū)動(dòng)倒縫機(jī)構(gòu) 剪線電磁鐵：驅(qū)動(dòng)剪線機(jī)構(gòu) 松線電磁鐵：驅(qū)動(dòng)松線機(jī)構(gòu) 撥線電磁鐵：驅(qū)動(dòng)撥線機(jī)構(gòu) 低溫存儲(chǔ)： 40176。 C， 16小時(shí) 高溫高濕 存儲(chǔ)： 75176。 C，濕度 93%， 16小時(shí) 耐濕熱 運(yùn)行： 45176。 C，相對(duì)濕度 85%，連續(xù) 48h，試驗(yàn)中電磁鐵正常工作 環(huán)境試驗(yàn) 絕緣電阻：不小于 30M歐姆，濕熱試驗(yàn)后不小于 1M歐姆；直流500VDC，兆歐表在引線與外殼之間測(cè)量；濕熱試驗(yàn)后，測(cè)量繞組與金屬外殼間電阻 耐 壓：交流 1000VAC， 10mA， 60S，無擊穿；按照 溫升：繞組溫升不大于 70K，外殼溫升不大于 50K 外殼防護(hù)等級(jí)： IP5X；按照 GB/T42082023試驗(yàn) 機(jī)械壽命：不小于 100萬次 技術(shù)規(guī)格 檢驗(yàn)水平 S2 抽樣方案 一次抽樣 不合格分類 A B C AQL 15 25 批量 樣本量字碼 樣本量 Ac/Rc Ac/Rc Ac/Rc 225 A 2 1,2 26150 B 3 1,2 2,3 1511200 C 5 0,1 2,3 3,4 12013500 D 8 3， 4 5,6 檢驗(yàn)水平 Ⅱ 抽樣方案 一次抽樣 不合格分類 A B C RQL 65 150 200 樣本量 Ac/Rc Ac/Rc Ac/Rc 2 0,1 2,3 3,4 A類不合格以不合格品數(shù)計(jì)， B， C類不合格以不合格數(shù)計(jì) ORT出廠試驗(yàn)抽樣方案 型式試驗(yàn)抽樣方案 演講完畢，謝謝觀看！