【正文】 控制結(jié)果 :α risk 。β risk ?控制限的設(shè)置要使兩類(lèi)錯(cuò)誤造成的損失最小 85 3σ方式 :是兩類(lèi)錯(cuò)誤造成的總損失最小的控制界限 ， μ為總體均值 ， σ 為總體標(biāo)準(zhǔn)差 ,此時(shí)犯第 I類(lèi)錯(cuò)誤的概率或顯著性水平 α= 。 為了減少第 Ⅱ 類(lèi)錯(cuò)誤 ,對(duì)于控制圖中的界內(nèi)點(diǎn)增添了第 Ⅱ 類(lèi)判異準(zhǔn)則 ,即 “ 界內(nèi)點(diǎn)排列不隨機(jī)判異 ” 。 控制結(jié)果 3σ 方式 P（ μσ≤x≤μ+σ） =2[φ（ 0） φ（ 1） ] 模式 1:點(diǎn)子接近控制界限 (1)連續(xù) 3個(gè)點(diǎn)中 ,至少有 2點(diǎn)接近控制界限 。 (2)連續(xù) 5個(gè)點(diǎn)中至少有 4點(diǎn)接近控制界限 模式 2:中心線一側(cè)出現(xiàn)長(zhǎng)為 9的鏈 模式 3:連續(xù) 6點(diǎn)的傾向 ，即上升或下降 模式 4:點(diǎn)子集中在中心線附近。 86 正常點(diǎn)子之動(dòng)態(tài)之管制圖，如圖。 1. 多數(shù)的點(diǎn)子，集中在中心線附近，且兩邊對(duì)稱(chēng)。 2. 少數(shù)的點(diǎn)子，落在管制界限附近。 3. 點(diǎn)子之分布呈隨機(jī)狀態(tài)，無(wú)任何規(guī)則可尋。 4. 沒(méi)有點(diǎn)子超出管制界限外 (就是有也很少 )。 37 管制圖的判定方法 87 ?不正常點(diǎn)子之動(dòng)態(tài)之管制圖 : 1. 在中心線附近無(wú)點(diǎn)子 。 此種型態(tài)稱(chēng)之為 ” 混合型 ” ， 因樣本中可能 包括兩種 群體 ， 其中一種偏大 ， 另一種偏小 ， 如圖二 。 管制圖的判定方法 88 ?不正常點(diǎn)子之動(dòng)態(tài)之管制圖 2. 在管制界限附近無(wú)點(diǎn)子 。 此種型態(tài)稱(chēng)之為 ” 層別型 ” ， 因?yàn)?原群體可能已經(jīng) 加以檢剔過(guò) 。 管制圖的判定方法 89 ?不正常點(diǎn)子之動(dòng)態(tài)之管制圖 3. 有點(diǎn)子逸出管制界限之現(xiàn)象 。 此種稱(chēng)之為 ”不穩(wěn)定型” 如圖四。 管制圖的判定方法 90 管制圖之不正常型態(tài)之鑒別是 根據(jù)或然率之理論而加以判定的 ， 出現(xiàn)下述之一項(xiàng)者 ， 即為不正常之型態(tài) ， 應(yīng)調(diào)查可能原因 。 40 A、管制圖的判讀法 91 1. 1 點(diǎn)超出從中心線起算 3 個(gè) Sigma 。 2. 3 點(diǎn)中有 2點(diǎn)分怖于從中心線起算 2 Sigma以上 (同側(cè) ) 。 3. 5 點(diǎn)中有 4點(diǎn)分怖于從中心線起算 1 Sigma以上 (同側(cè) ) 。 4. 6 點(diǎn)以遞增或遞減的趨勢(shì)分布在同一側(cè)。 5. 8 點(diǎn)在同一側(cè)但沒(méi)有點(diǎn)落在 1 sigma的范圍 (兩側(cè) ) 。 6. 9 點(diǎn)在同一側(cè)。 7. 14 點(diǎn)在同一側(cè)分布呈現(xiàn)上下交替。 8. 15 點(diǎn)分布于同側(cè)從中心線起算 1 Sigma 的范圍 (兩側(cè) ) 計(jì)量值管制圖判讀 92 計(jì)量值管制圖判讀 93 計(jì)量值管制圖判讀 94 計(jì)數(shù)值管制圖判讀 1. 1 點(diǎn)超出從中心線起算 3 個(gè) Sigma 。 2. 6 點(diǎn)以遞增或遞減的趨勢(shì)分布在同一側(cè)。 3. 9 點(diǎn)在同一側(cè)。 4. 14 點(diǎn)在同一側(cè)分布呈現(xiàn)上下交替。 95 計(jì)量值管制圖判讀 96 B、數(shù)據(jù)分配之連串理論判定法 管制圖上諸點(diǎn) ， 以中心線 (CL)為主 ， 劃分兩部份 ， (一在上方 ，一在下方 )， 若一點(diǎn)或連續(xù)數(shù)點(diǎn)在管制圖中心線之一方 ， 該點(diǎn)或連續(xù)數(shù)點(diǎn)為一串 (run)， 加總中心線上方的串?dāng)?shù)及中心線下方的串?dāng)?shù) ，便可判定 此管制圖是否呈隨機(jī)性 。 例如有一管制圖如下： UCL CL LCC 45 1: 3: 4: 1: 2. 3: 4: 97 首先計(jì)算此管制圖之總串?dāng)?shù)如下： 在管制中心線上方者： 單獨(dú)１點(diǎn)為一串者 …………… ４串 ３點(diǎn)構(gòu)成一串者 ……………… １串 計(jì)１１點(diǎn) ４點(diǎn)構(gòu)成一串者 ……………… １串 ６串 在管制中心線下方者： 單獨(dú)１點(diǎn)為一串者 …………… ２串 ２點(diǎn)構(gòu)成一串者 ……………… ２串 ３點(diǎn)構(gòu)成一串者 ……………… １串 計(jì)１３點(diǎn) ４點(diǎn)構(gòu)成一串者 ……………… １串 ６串 46 B、數(shù)據(jù)分配之連串理論判定法 98 在此管制圖之總串?dāng)?shù)為６＋６＝１２串 由 ， r=11，s=13（ 管制圖中心線上方共１１點(diǎn) ， 下方共１３點(diǎn) ， 取大者為 s， 小者為 r， 令 s≧r ） ， 得界限值在 6(表 p=)， 在 8(表 p=)， 因?yàn)榇斯苤茍D 總串?dāng)?shù) 12分別大于 6或 8， 故判定此管制圖數(shù)據(jù)之分配具隨機(jī)性 。 47 B、數(shù)據(jù)分配之連串理論判定法 99 表 p= 當(dāng)機(jī)率 p=，成串之最低總數(shù)表 48 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 6 2 7 2 3 8 3 3 3 9 3 3 3 4 10 3 3 4 4 5 11 3 4 4 5 5 5 12 3 4 4 5 5 6 6 13 3 4 5 5 5 6 6 7 14 4 4 5 5 6 6 7 7 7 15 4 4 5 6 6 7 7 7 8 8 16 4 5 5 6 6 7 7 8 8 9 9 17 4 5 5 6 7 7 8 8 8 9 9 10 18 4 5 6 6 7 7 8 8 9 9 10 10 11 19 4 5 6 6 7 8 8 9 9 10 10 10 11 11 20 4 5 6 7 7 8 8 9 9 10 10 10 11 12 12 r s B、數(shù)據(jù)分配之連串理論判定法 100 表 p= 當(dāng)機(jī)率 p=，成串之最低總數(shù)表 49 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 6 3 7 4 4 8 4 4 5 9 4 5 5 6 10 5 5 6 6 6 11 5 5 6 6 7 7 12 5 6 6 7 7 8 8 13 5 6 6 7 8 8 9 9 14 5 6 7 7 8 8 9 9 10 15 6 6 7 8 8 9 9 10 10 11 16 6 6 7 8 8 9 10 10 11 11 11 17 6 7 7 8 9 9 10 10 11 11 12 12 18 6 7 8 8 9 10 10 11 11 12 12 13 13 19 6 7 8 8 9 10 10 11 12 12 13 13 14 14 20 6 7 8 8 9 10 11 11 12 12 13 13 14 14 15 r s B、數(shù)據(jù)分配之連串理論判定法 101 過(guò)程能力研究 102 品質(zhì)的一致性 乙選手 甲選手 誰(shuí)的成績(jī)好呢 ? 您的工廠 /服務(wù)品質(zhì) /供貨商若有問(wèn) 題 ,您希望是甲狀況還是乙狀況呢 ? 誰(shuí)較有潛力呢 ? 你會(huì)選誰(shuí)當(dāng)選手呢 ? 過(guò)程能力研究 103 過(guò)程能力研究 ?過(guò)程能力 :過(guò)程中各種條件 (5M1E)已充分標(biāo)準(zhǔn)化 。過(guò)程中已在統(tǒng) 計(jì)的控制狀態(tài)下所呈現(xiàn)的 質(zhì) ,量 之能力，過(guò)程能力 可以是產(chǎn)量、效率、質(zhì)量特性、不良率或缺點(diǎn)數(shù)。 ?過(guò)程能力分析（研究）：利用管制圖、次數(shù)分配圖及其他統(tǒng)計(jì) 手法以決定過(guò)程能力之一種系統(tǒng)性工 作，包括： 。 ，測(cè)量其特性，一般需搜集 100－ 250個(gè)數(shù)據(jù)。 ，計(jì)算其平均值于標(biāo)準(zhǔn)差。 ，判定是否異常，及采取措施。 1－ 4過(guò)程，已獲得滿意的過(guò)程－真正的過(guò)程能力。 104 過(guò)程能力研究 準(zhǔn)確度好 精密度好 系統(tǒng)誤差小 偶然誤差小 準(zhǔn)確度差 精密度高 系統(tǒng)誤差大 偶然誤差小 準(zhǔn)確度高 精密度差 系統(tǒng)誤差小 偶然誤差大 準(zhǔn)確度差 精密度差 系統(tǒng)誤差大 偶然誤差大 Ca（準(zhǔn)確度， Accuracy） ； CP（精密度， Precision） 若過(guò)程能力越高，則產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分散就會(huì)越小； 若過(guò)程能力越低，則產(chǎn)品質(zhì)量特性值的分散就會(huì)越大。 105 過(guò)程能力研究 ?過(guò)程能力分析之用途： ，使其能盡量利用目前的過(guò)程能 2. 力設(shè)計(jì)新產(chǎn)品。 。 、材料、于作業(yè)方法。 ，安排適當(dāng)?shù)墓ぷ?，使其得到最佳?yīng) 6. 用 。 。 106 過(guò)程能力研究 過(guò)程固有變差于過(guò)程總變差 (僅有共同原因 )產(chǎn)生的過(guò)程變差 ,短期的 過(guò)程變差 表示 (控制圖估算 ) 估計(jì) Sigma 2? dR?s4? cS?s :由 共同原因及特殊原因 所產(chǎn)生的變差 ,長(zhǎng) 期變差 ,利用所有 樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 s估計(jì) : 計(jì)算 Sigma nkmnkmxxSmi i*,1)(12????? ? ?，則為個(gè)子組，每個(gè)子組容量s107 過(guò)程能力研究 過(guò)程能力與過(guò)程性能 ?過(guò)程能力（ Process Capability,PC）： 控制狀態(tài)下的實(shí)際加工能力 ，過(guò)程的固有能力；利用控制 2. 狀態(tài)下的短期數(shù)據(jù)計(jì)算的，又稱(chēng)《短期過(guò)程能力》。 （短期的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差） σ的 6倍。 PC=6σ(即 μ＋ 3σ) USL LSL 3σ2σ1σ +1σ+2σ+3σ 估計(jì) Sigma 2?dR?s4?cS108 過(guò)程能力研究 過(guò)程能力與過(guò)程性能 ?過(guò)程性能（ Process Performance,PP）： 長(zhǎng)期運(yùn)行中的實(shí)際加工能力 ，不考慮過(guò)程是否受控制 (因?yàn)殚L(zhǎng)期內(nèi)的數(shù)據(jù)很難保證具有正態(tài)性 )；因此過(guò)程性能，又稱(chēng)《長(zhǎng)期過(guò)程能力》。 （長(zhǎng)期的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差） σ的 6倍。 PP=6σ(即 μ＋ 3σ) USL LSL 3σ2σ1σ +1σ+2σ+3σ 計(jì)算 Sigma 109 過(guò)程能力研究 過(guò)程的度量 :產(chǎn)品規(guī)格中心值 設(shè)定的目的 ,希望每個(gè)工程生產(chǎn)出來(lái)的每各產(chǎn)品的實(shí)際規(guī)格 ,能以 規(guī)格中心為中心 ,呈左右對(duì)稱(chēng)之常態(tài)分配生產(chǎn) ,若從生產(chǎn)過(guò)程中所獲得之資料其實(shí)際平均值與規(guī)格之間的偏差 ,稱(chēng)為準(zhǔn)確度 :各產(chǎn)品規(guī)格上下限 之設(shè)定目的 ,希望生產(chǎn)出來(lái)的每個(gè)產(chǎn)品的品質(zhì)水準(zhǔn)都能在 規(guī)格上下限之容許公差范圍內(nèi) ,利用抽樣的方式計(jì)算樣本標(biāo)準(zhǔn)推定群體的標(biāo)準(zhǔn)差 ,確認(rèn)過(guò)程分散寬度與規(guī)格公差范圍間的差異。 X110 過(guò)程能力研究 過(guò)程的度量 (不合格率 P%):生產(chǎn)過(guò)程實(shí)際是否良好達(dá)到規(guī)格的要求 ,是要 Ca及 Cp均好 , Cp好， Ca不好：在規(guī)格外；Cp不好， Ca好：不良率高 。綜合評(píng)價(jià)就是用 Ca及 Cp判斷整個(gè)過(guò)程的品質(zhì) . :CPK是總和 Ca及 Cp二值之指數(shù) :也是衡量過(guò)程能力的方法 : ?Cr與 Cp是相同的 ,解釋不同 。 ?Cr目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)是 。越小越好 。 ?Cp目標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)是 8σ 。越大越好 111 Ca— 過(guò)程 準(zhǔn)確度指標(biāo) Ca= X 100% 制程平均值 – 規(guī)格中心值 規(guī)格容差 (公差 ) USL Sc Ca ＝ ( ) X 100 % － Sc （ T/2） Sc 3σ +3σ LS