qc七大手法培訓(xùn)課件(ppt78頁)-資料下載頁
2025-02-14 14:28本頁面
【正文】 點連續(xù)上升或下降A(chǔ)BCCBAUCLLCL220。異常二：連續(xù)九點在中心線同一側(cè)ABCCBAUCLLCL220。異常三：連續(xù) 14點一上一下交錯著LCLABCCBAUCLPage 65220。 異常四：連續(xù) 3點中有 2點落在 A區(qū)ABCCBAUCLLCL220。 異常五：連續(xù) 5點中有 4點落在 B區(qū)或以外UCLLCLABCCBAPage 66管制圖不良檢定規(guī)則 :1. (2/3A)UCLCLLCLABABCC.LCLUCLCLABABCC2. (4/5B)UCLCLLCLABABCC3. (6連串 )UCLCLLCLABABCC..4. (8缺 C)UCLCLLCLABABCC5. (9單側(cè) )UCLCLLCLABABCC6. (14升降 )UCLCLLCLABABCC7. (15C)UCLCLLCLABABCC8. (1界外 )Page 67重點重點220。件對件232。在不同的產(chǎn)品個體中進(jìn)行數(shù)據(jù)收集220。流對流232。針對相同的條件進(jìn)行取樣220。時間對時間232。定義固定的取樣週期Page 68QC七大手法 比較借用其他圖形，本身無圖形應(yīng)用層別區(qū)分法，找出數(shù)據(jù)差異的原因以 5M1E層別比較作用層別法幫助每個人在最短的時間內(nèi)完成必要的數(shù)據(jù)收集日常管理收集數(shù)據(jù)改善管理簡單有效 查檢表能以前面幾項為改善要點，可忽略最后幾項決定改善目標(biāo)明了改善結(jié)果掌握重點分析把握重點柏拉圖可應(yīng)用反轉(zhuǎn)法，由找要因變換為找對策方法管理教育改善、解析源流管理現(xiàn)場操作標(biāo)準(zhǔn)分類清楚特性要因圖備 注用 途圖 形手 法100%5……4……3……2……1……54321100% 100%Page 69QC七大手法 比較了解一批產(chǎn)品品質(zhì)之好壞了解分布了解制程能力與規(guī)格比較同批品質(zhì)情況了解品質(zhì)直方圖籍由上下界線限定 ,判斷生產(chǎn)品質(zhì)是否在受控範(fàn)圍內(nèi)掌握制程現(xiàn)況的品質(zhì)發(fā)現(xiàn)異狀即時采取行動趨勢明朗管制圖應(yīng)用范圍較受限制用來檢定特性 (結(jié)果 ) 與要因 (原因 )的關(guān)係相關(guān)易懂散布圖備 注用 途圖 形手 法Page 70QC 七大手法示例如何降低 SMT焊接不良率 :1. 選定改善項目 (1) 占不良率第一位 (2) 有能力改善A: 電晶體腳短路B: 焊接不良C: 零件插錯D: 上錯料E: 其他Page 71目標(biāo)設(shè)定 2. 活動目標(biāo) 改良前不良佔有率 % 目標(biāo) : 改善後降為 % 降幅 %%=% 計劃時間 : X月 X日 ~ X月 X日 Page 72分析問題的原因 採用特性要因圖找出造成電晶體腳短路的主要原因 (運用腦力激盪法 )方法裝配鬆動裝配偏差 沒力氣沒壓緊手痛距離太近視覺吃力人活動性高疏忽間隙不足裝兩個材料 晶體腳 過短加工剪裁不良材料設(shè)備銲錫火爐調(diào)整不佳模板定位不良為何電晶體腳短路人員支配不足Page 73設(shè)計查檢表 根據(jù)特性要因圖所圈出來的主要原因設(shè)計查檢表 ,收集數(shù)據(jù) .收集人 :XXX 收集方式 : 抽檢 收集時間 : 10/315Page 74統(tǒng)計數(shù)據(jù) ,做出不良柏拉圖 Page 75制定改善對策 從做出的柏拉圖中可以看出 ,影響電晶體短路不良較大的原因在於模板定位不良及間隙不足 ,因此需對此兩項採取改善對策 Page 76效果確認(rèn) 做出柏拉圖 (或推移圖 )對效果進(jìn)行確認(rèn) A: 電晶體腳 短路B: 焊接不良C: 零件插錯D: 上錯料E: 其他總的不良數(shù)已經(jīng)從 200降至 50,且電晶體腳短路所佔不良的比例已經(jīng)降至第三位 .Page 77PDCA P (Plan) D (Do) C (Check) A (Action)Page 78THANKS謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
研究報告相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1