cpld第2章-資料下載頁
2024-12-31 05:58本頁面
【正文】 邊界掃描測試技術(shù)主要解決芯片的測試問題。 邊界掃描測試 (BST—Boundary—Scan Testing)是針對器件密度及 I／ O口數(shù)增加，信號注入和測取難度越來越大而提出的一種新測試技術(shù)。它是由聯(lián)合測試活動組織(JTAG)提出來的，后來 IEEE對此制定了測試標(biāo)準(zhǔn)，稱為 IEEE 。35數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與 CPLD應(yīng)用應(yīng)用 BST結(jié)構(gòu)不需要使用外部的物理測試探針來獲得功能數(shù)據(jù)，它可以在器件 (必須是支持 JTAG技術(shù)的 ISP可編程器件 )正常工作時進(jìn)行。器件的邊界掃描單元能夠迫使邏輯追蹤引腳信號，或是從引腳、器件核心邏輯信號中捕獲數(shù)據(jù)。強行加入的測試數(shù)據(jù)串行的移入邊界掃描單元，捕獲的數(shù)據(jù)串行移出并在器件外部同預(yù)期的結(jié)果進(jìn)行比較。 圖 。36數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與 CPLD應(yīng)用應(yīng)用圖 邊界掃描測試方法示意圖 37數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與 CPLD應(yīng)用應(yīng)用38數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與 CPLD應(yīng)用應(yīng)用 通過 JTAG測試端口實現(xiàn)對 ISP器件的在系統(tǒng)編程，可以很容易的完成電路測試。 標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測試只需要四根信號線，即 TDI(測試數(shù)據(jù)輸入 )、 TDO(測試數(shù)據(jù)輸出 )、 TMS(測試模式選擇 )和 TCK(測試時鐘輸入 )，能夠?qū)﹄娐钒迳纤兄С诌吔鐠呙璧男酒瑑?nèi)部邏輯和邊界管腳進(jìn)行測試。 應(yīng)用邊界掃描技術(shù)能夠增強芯片、電路板甚至系統(tǒng)的可測試性 。39數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與 CPLD應(yīng)用應(yīng)用l No. Reference Description Min Max Unitl Tc(TCK) TCK_RET period 35 200 nsl Tw(TCKH) TCK_RET highpulse duration 15 nsl Tw(TCKL) TCK_RET lowpulse duration 15 nsl Td(TMS) Delay time. TMS/TDI valid from 6 20 nsl TCK_RET lowl Tsu(TDO) TDO setup time to TCK_RET high 3 nsl Th(TDO) TDO hold time from TCK_RET high 12 ns40數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與 CPLD應(yīng)用應(yīng)用l TCK – Test Clock Inputl A clock separate from the system clockl TDI – Test Data Inl Data is shifted into the JTAGpliant device via TDIl TDO – Test Data Outl Data is shifted out of the JTAGpliant device via TDOl TMS – Test Mode Selectl TMS mands select test modes as defined in the JTAG specificationl TRST – Test Reset Input (active low)l Provides asynchronous initialization of the TAP controller41數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與 CPLD應(yīng)用應(yīng)用謝謝觀看 /歡迎下載BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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