電子設備可靠性預計-資料下載頁
2025-08-15 22:59本頁面
【正文】 ，及其對電子產(chǎn)品可靠性的影響程度， GJB／ Z299B規(guī)定了 17類應用環(huán)境。 ? 電子設備及元器件處于不同類別的環(huán)境中其可靠性則不相同。手冊中以環(huán)境系數(shù) πＥ表示不同環(huán)境類別的環(huán)境應力對元器件失效率的影響程度。亦即， πΕ值表示該環(huán)境相對于基準環(huán)境的嚴酷倍數(shù)。 ? 因此， GJB／ Z299B分別列有環(huán)境系數(shù)表，提供了各種類元器件的環(huán)境系數(shù)值 。 元器件質量等級與質量系數(shù) ? 元器件質量直接影響其失效率，不同質量等級對元器件失效率的影響程度用質量系數(shù) πＱ 來表示。所謂質量等級是指元器件裝機使用之前，在制造、檢驗及篩選過程中其質量的控制等級。質量系數(shù)則反映了不同質量等級的元器件其失效率的差異程度。 ? 根據(jù)我國電子元器件標準的制訂、實施情況，及按不同標準或技術文件組織生產(chǎn)和試驗的產(chǎn)品的實際可靠性水平，手冊中將各類元器件劃分為 A、B、 C三個質量層次。每個層次包含若干個質量等級，每個質量等級分別給出與其對應的質量系數(shù)值。（見 GJB299) 元器件的選用 晶體管失效率計算示例 ? 設有一符合 GJB3385《 半導體分立器件總規(guī)范 》 JP級的硅 NPN單管在惡劣地面固定設備的線性電路中使用，實際功耗是額定功耗（ )的 ,工作環(huán)境溫度為 40℃ ， TS＝ 25℃ ， TM=175℃ , 外加電壓 VCE是額定電壓 VCEO的 60％，其工作失效率可用下式計算。 λp=πEπQπAπS2πrπTπC λb ? 其應力比為 S=,環(huán)境溫度為 40℃ ， ? 基本失效率 λb=(106/h)。 ? GP級的質量系數(shù) πQ＝ 。 ? 惡劣地面固定的環(huán)境系數(shù) πE＝ 5。 ? 電壓應力系數(shù) πS2＝ ? 應用系數(shù) πA＝ 1， (若開關狀態(tài)， πA＝ ) ? 額定功率或額定電流系數(shù) πr＝ 1 ? 種類 (結構 )系數(shù) πC＝ 1 ? 溫度應力系數(shù)， 本例 不用此參數(shù)，取 πT＝ 1 ? λp=λbπEπQπAπS2πrπTπC ＝ 5 1 1 1 1 =(106/h) 計算過程 設 備 可 靠 性 預 計 示 例 應力預計法 示例 p1 示例 p2清單 示例 p3清單 示例 p4清單 示例 p6 示例 p7預計表 示例 p8預計表 示例 p9預計表 示例 p10計算單元失效率 示例 p11計算設備 MTBF 示例 p12分析改進 降額曲線 謝謝
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