緒論近代光學測試技術20xx-資料下載頁
2025-08-05 15:44本頁面
【正文】 410 44 894 3 光 學 存 儲 消費性光驅 26 461 25 852 26 276 27 237 27 993 1 信息用光驅 10 843 9 948 10 085 10 237 10 338 1 可錄型光驅 3 139 4 133 4 979 5 676 5 893 17 預錄型光驅 7 116 6 593 6 813 6 475 6 445 2 小計 47 558 46 526 48 153 49 625 50 669 2 2022— 2022年全球光電產(chǎn)業(yè) 主要產(chǎn)品產(chǎn)值 (單位：百萬美元 ) 續(xù)表 近代光學測試技術 領 域 產(chǎn)品 /年份 2022 2022 2022 2022 2022 平均增 長率 /% 光 通 信 光纖 986 1 559 1 848 1 978 2 116 21 光纜 5 665 5 865 6 107 6 697 7 367 7 光通信組件 2 264 2 409 2 753 3 485 4 500 19 光通信設備類 13 484 15 575 16 421 17 180 18 177 8 小計 22 399 25 408 27 129 29 340 32 160 9 其 他 精密光電組件 6 854 8 130 9 757 11 220 12 342 16 激光器 1 837 1 966 2 104 2 198 2 297 6 小計 8 691 10 096 11 861 13 418 14 639 14 合計 176 328 203 072 223 160 247 246 266 816 11 續(xù)表 2022— 2022年全球光電產(chǎn)業(yè) 主要產(chǎn)品產(chǎn)值 (單位：百萬美元 ) 近代光學測試技術 近代光學測試技術 光學產(chǎn)業(yè)發(fā)展狀況 光源 光設計 光傳感 光學材料 光學零件 光機元件 光加工 光計測 光產(chǎn)品加工 光應用系統(tǒng) 光電子 光研究 環(huán)境系統(tǒng) 圖像設備 光信息 光學 機械 微電子計算機 近代光學測試技術 近代光學測試技術支撐分學科 光學測試技術 光電探測 位相探測 飛點探測 圖像探測 譜探測 機電掃描 光掃描 光電效應 光效應 干涉法 光柵法 全息與散斑 TV及CCD 相關處理 激光譜 譜分析 近代光學測試技術 近代光學測試技術支撐基礎 光計測與控制 精密機械 電子技術 計算機 電子器件 電路技術 導軌與軸系 傳動副 精密零件 數(shù)字電路 操作系統(tǒng) 應用軟件 近代光學測試技術 測試方法的選擇 測定類型 測定范圍 10mm以下 10～ 500mm 500mm以上 長度和位置 掃描顯微鏡，光學投影儀，全息與散斑衍射計量 干涉儀，測長機，莫爾條文，光掃描 激光測距，紅外測距，雙頻干涉儀 角度測量 1176。 以下 10176。 以上 360176。 自準直法，衍射計量， ,激光三角法，外差干涉法 干涉計量，工具顯微鏡，多面體法 光學轉臺（分度頭），光學經(jīng)緯儀，光學編碼器，莫爾條文 近代光學測試技術 測試方法的選擇 表面形狀 及三維測 量 納米（ nm） 微米 (um)級 毫米 (mm)級 分米 (cm)級以上 外差干涉法、 原子力顯微 鏡 數(shù)字干涉法、 全息法 莫爾條紋技術， 光掃描 激光掃描技術， CCD成像技術 應變及位 移測量 光衍射技術，光干涉技術， 外差干涉法，倏逝波法， 近場探測法，等離子體共振法 全息法，散斑法，分 布式光纖法，拓撲法 成像 CCD法，圖像處 理法 近代光學測試技術 測試方法的選擇 速度，加速度，振動 近距 中距 遠距 光纖技術， 零差及外差技術 光散斑法 激光多普勒法 壓力、溫度、流場等 光纖技術 光傳感器 全息法 紅外技術 實時全息 紅外技術 圖像技術 近代光學測試技術 測試環(huán)境及經(jīng)濟性選擇 經(jīng)濟性好，環(huán)境要求低 經(jīng)濟性中等，環(huán)境要求一般 經(jīng)濟性偏高，有環(huán)境要求 衍射計量 掃描計量 散斑計量 光纖計量 莫爾與拓撲法 圖像計測法 共路干涉計量 全息計量 光譜計量 納米計量 近代光學測試技術 測試方法的尺寸分辨率 飛點時間法 相位測量 (大測量范圍 ) 投影三角法 莫爾及拓撲法 光掃描法 散斑條紋法 衍射法 全息法 干涉法 干涉法 共焦掃描法 隧道顯微法 近場掃描顯微法 倏逝波法 SPR法 原子力顯微法 1 mm 103 106 近代光學測試技術 謝 謝 ！
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