材料分析測(cè)試復(fù)習(xí)題及答案-資料下載頁
2025-08-05 08:35本頁面
【正文】 上加上正電壓來吸收較低能量的二次電子，使樣品背部及凹坑等處逸出的電子以弧線狀運(yùn)動(dòng)軌跡被吸收，因而使圖像層次增加，細(xì)節(jié)清晰。24. 二次電子像景深很大，樣品凹坑底部都能清楚地顯示出來，從而使圖像的立體感很強(qiáng)，其原因何在?用二次電子信號(hào)作形貌分析時(shí)，在檢測(cè)器收集柵上加以一定大小的正電壓（一般為250500V），來吸引能量較低的二次電子，使它們以弧線路線進(jìn)入閃爍體，這樣在樣品表面某些背向檢測(cè)器或凹坑等部位上逸出的二次電子也對(duì)成像有所貢獻(xiàn)，圖像景深增加，細(xì)節(jié)清楚。25. 電子探針儀與掃描電鏡有何異同？電子探針儀如何與掃拖電鏡和透射電鏡配合進(jìn)行組織結(jié)構(gòu)與微區(qū)化學(xué)成分的同位分析？相同點(diǎn)：1兩者鏡筒和樣品室無本質(zhì)區(qū)別。2都是利用電子束轟擊固體樣本產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)行分析。不同點(diǎn)：1 電子探針檢測(cè)的是特征X射線，掃描電鏡可以檢測(cè)多種信號(hào)，一般利用二次電子信號(hào)進(jìn)行形貌分析。2 電子探針得到的是元素分布的圖像，用于成分分析；掃描電鏡得到的是表面形貌的圖像。電子探針用來成分分析，透射電鏡成像操作用來組織形貌分析，衍射操作用來晶體結(jié)構(gòu)分析，掃描電鏡用來表面形貌分析。26. 波譜儀和能譜儀各有什么缺點(diǎn)?能譜儀：1：能譜儀分辨率比波譜儀低，能譜儀給出的波峰比較寬，容易重疊。在一般情況下，Si（Li）檢測(cè)器的能量分辨率約為160eV，而波譜儀的能量分辨率可達(dá)510eV。2：能譜儀中因Si（Li）檢測(cè)器的鈹窗口限制了超輕元素X射線的測(cè)量，因此它只能分析原子系數(shù)大于11的元素，而波譜儀可測(cè)定原子序數(shù)492之間所有的元素。3：能譜儀的Si（Li）探頭必須保持在低溫狀態(tài)，因此必須時(shí)時(shí)用液氮冷卻。波譜儀：1：波譜儀由于通過分光體衍射，探測(cè)X射線效率低，因而靈敏度低。2：波譜儀只能逐個(gè)測(cè)量每種元素的特征波長(zhǎng)。3：波譜儀結(jié)構(gòu)復(fù)雜。4：波譜儀對(duì)樣品表面要求較高27. 直進(jìn)式波譜儀和回轉(zhuǎn)式波譜儀各有什么優(yōu)特點(diǎn)?答：直進(jìn)式波譜儀優(yōu)點(diǎn)是X射線照射分光晶體的方向是固定的，即出射角ψ保持不變，這樣可以使X射線穿出樣品表面過程中所走的路線相同，也就是吸收條件相同；回轉(zhuǎn)式波譜儀結(jié)構(gòu)比直進(jìn)式波譜儀簡(jiǎn)單，但出射方向改變很大，在表面不平度較大的情況下，由于X射線在樣品內(nèi)行進(jìn)路線不同，往往會(huì)因吸收條件變化而造成分析上的誤差。28. 要分析鋼中碳化物成分和基體中碳含量，應(yīng)該選用哪種電子探針儀？為什么？分析鋼中碳化物成分可用能譜儀；分析基體中碳含量可用波譜儀。分析鋼中碳化物的成分屬于定性分析，用能譜儀靈敏度高且?guī)追昼娋涂傻玫浇Y(jié)果；分析基體中碳含量屬于定量分析，波譜儀的能量分辨率達(dá)5~10eV，而能譜儀能量分辨率約為160eV故用波譜儀分析較好。29. 舉例說明電子探針的三種工作方式(點(diǎn)、線、面)在顯微成分分析中的應(yīng)用定點(diǎn)分析，如需分析ZrO2（Y2O3）陶瓷析出相與基體含量成分高低，用定點(diǎn)分析幾分鐘便可得到結(jié)果。線分析，如需分析BaF2晶界上元素的分布情況，只需進(jìn)行線掃描分析即可方便知道其分布。面分析，如需分析Bi元素在ZnOBi2O3陶瓷燒結(jié)表面的面分布，只需將譜儀固定在接受其元素特征X射線信號(hào)的位置上，即可得到其面分布圖像。6
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