光纖測(cè)試方案-資料下載頁(yè)
2025-08-05 02:21本頁(yè)面
【正文】 子系統(tǒng)需要測(cè)試端的參數(shù)； 2）沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm或1300nm處測(cè)試衰耗值： 3）多模光纖主干系統(tǒng)及混合方式需要測(cè)試的參數(shù)； 4）沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm及1300nm處測(cè)試衰耗值 5）單模光纖水平子系統(tǒng)需要測(cè)試端的參數(shù)；（注：由于不同方向的測(cè)試的數(shù)值之差，一般會(huì)很小，而且多半由測(cè)試儀器的精度或測(cè)試手法而引起，所以單方向測(cè)試已足夠而水平子系統(tǒng)的距離標(biāo)準(zhǔn)極限很短（90米），所以其在不同波長(zhǎng)處測(cè)試值的差別不大，因而單波長(zhǎng)測(cè)試已足夠。 l1）光纖線纜的損耗=光纖線纜長(zhǎng)度（km）() l2）耦合器的衰耗(ST或SC連接器)=(連接器的數(shù)目)+l3）耦合器的衰耗(LC連接器)=(連接器的數(shù)目)+ 4）光熔接頭的衰耗值(CSL或熔接)=接頭數(shù)目l光功率比校正值如下表：計(jì)劃所用時(shí)間 根據(jù)測(cè)試內(nèi)容和工作量，完成測(cè)試需用5個(gè)公歷日。
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