光纖測試儀器otdr簡介和常規(guī)曲線分析-資料下載頁
2025-03-24 07:26本頁面
【正文】 原理和對策a、如圖現(xiàn)象：光纖未端無菲涅爾反射峰，曲線斜率、衰減正常，無法確認(rèn)光纖長度原因：光纖未端面上比較臟或光纖端面質(zhì)量差；對策：清洗光纖未端面或重新做端面；b、如圖現(xiàn)象：曲線成明顯弓形，衰減嚴(yán)重偏大或偏小，無菲涅爾反射峰；原因：量程設(shè)置錯誤（不足被測光纖長度2倍以上）；對策：增大量程；c、 如圖現(xiàn)象：在曲線斜率恒定的曲線中間有一個“小山峰”（背向散射劇烈增強所致）原因：1）光纖本身質(zhì)量原因（小裂紋）； 2）二次反射余波在前端面產(chǎn)生反射；對策：在這種情況下改變光纖測試量程、脈寬、重新做端面，再測試如“小山峰”消失則為原因2），如不消失則為原因1）；d、 如圖 現(xiàn)象：在光纖纖連接器、耦合器、熔接點處產(chǎn)生一個明顯的增益； 原因：模場直徑不匹配造成的； 對策：測試衰減和接頭損耗必須雙向測試，取平均值；e、如圖現(xiàn)象：曲線斜率正常，光纖均勻性合格，但兩端光纖衰減系數(shù)相差很大原因：模場不均勻造成，一般為光纖拉絲引頭和結(jié)尾部分；對策：測試衰減必須雙向測試，取平均值；f、如圖現(xiàn)象：在整根光纖衰減合格，曲線大部分斜率均勻，但在菲涅爾反射峰前沿有一小凹陷原因：未端幾米或幾十米光纖受側(cè)壓；對策：復(fù)繞觀察有無變化，無變化則剪掉；g、如圖1310nm1550nm現(xiàn)象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本不變，衰減指標(biāo)略微偏高；但1550nm光纖衰減斜率增加，衰減指標(biāo)偏高；原因：束管內(nèi)余長過短，光纖受拉伸；對策：確認(rèn)束管內(nèi)的余長，增加束管內(nèi)的余長；1310nm1550nmh、如圖現(xiàn)象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本正常，衰減指標(biāo)正常；但1550nm光纖衰減斜率嚴(yán)重不良，衰減指標(biāo)嚴(yán)重偏高；原因：束管內(nèi)余長過長，光纖彎曲半徑過?。粚Σ撸捍_認(rèn)束管內(nèi)的余長，減少束管內(nèi)的余長；i、如圖現(xiàn)象：尾纖與過渡纖有部分曲線出現(xiàn)有規(guī)則的曲線不良，但被測光纖后半部分曲線正 常，整根被測光纖衰減指標(biāo)基本正常；原因：一般是由設(shè)備本身和測試方法綜合造成的；對策：關(guān)機，重新起動，對各個光纖接觸部分進行清潔；13
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