光纖測試儀器otdr簡介和常規(guī)曲線分析-全文預覽
【正文】 過??；對策：確認束管內(nèi)的余長，減少束管內(nèi)的余長；i、如圖現(xiàn)象：尾纖與過渡纖有部分曲線出現(xiàn)有規(guī)則的曲線不良，但被測光纖后半部分曲線正 常，整根被測光纖衰減指標基本正常；原因：一般是由設備本身和測試方法綜合造成的；對策：關機，重新起動，對各個光纖接觸部分進行清潔；13。如圖所示，外力作用前曲線斜率恒定，在外力作用下可出現(xiàn)如下情況之一：a) 曲線斜率不變，衰減不變，b) 斜率變化，衰減線性增加，c) 整個長度呈弓形彎曲，各處斜率不同：衰減連續(xù)增加， d) 沿長度斜率增加，有限區(qū)域衰減線性增加。機械式接頭界面往往產(chǎn)生這種反射。d) 區(qū)域（d）即后向散射曲線有時出現(xiàn)弓形彎曲。因此可獲得相應的常數(shù)。為了確認異常情況是否對產(chǎn)品質量產(chǎn)生影響，最簡單的方法可采用兩種不同寬度的脈沖對持有懷疑的區(qū)域進行觀察，如果損耗或可視增益形狀隨脈寬不同而變化，則屬故障點應去分析找原因。光纖衰減的測試M/DIVDB/DIV第一個菲涅爾反射峰后沿第二個菲涅爾反射峰前沿尾纖BA如圖所示：將光標A置于第一個菲涅爾反射峰后沿，曲線平滑的起點，將光標B置于第二個菲涅爾反射峰前沿，光標A與光標B間顯示衰減系數(shù)就是光纖A、B間衰減系數(shù)，但非整根光纖的衰減系數(shù)。d. OTDR的測試模式（MODE） OTDR的測試光纖衰減模式分為2PT（兩點法）、LSA（最小兩乘法），測試接頭模式5 SPLICE（五點法）分為自動、手動，選用合理的模式可以減少測試誤差； 2PT：當所測光纖曲線上有臺階、曲線不良等情況時，必須兩點法測試光纖衰減； LSA：當所測光纖曲線斜率均勻時，用LSA測試光纖衰減； 5 SPLICE：測試接頭損耗原則上采用自動模式，可以減少人為誤差。 P(0)注入光功率。2)影響盲區(qū)的因素：a、入射光的脈沖寬度、b、反射光的脈沖寬度、c、入射光的脈沖后端形狀、d、所用脈沖越小，盲區(qū)越大。13測試儀器OTDR簡介和常規(guī)曲線分析一、OTDR英文：Optical Time Domain Reflectomenten中文：光時域反射測試儀 (照英文譯
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