中國ic設(shè)計(jì)公司八大變化趨勢分析-資料下載頁
2025-06-28 22:53本頁面
【正文】 微米工藝技術(shù)帶來的競爭優(yōu)勢和可集成更多功能的好處。從調(diào)查統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以看出，%、進(jìn)行模擬IC設(shè)計(jì)的只占1%，說明只有很少一部分中國IC設(shè)計(jì)公司開始向基于納米級工藝的設(shè)計(jì)領(lǐng)域推進(jìn)。 隨著設(shè)計(jì)工藝向亞微米和深亞微米推進(jìn)，中國IC設(shè)計(jì)公司在EMI/信號完整性、時(shí)序收斂、可測試設(shè)計(jì)、模擬電路仿真、IP復(fù)用、時(shí)序收斂、ASIC仿真/快速原型生成、電源管理等領(lǐng)域面臨的全面挑戰(zhàn)(圖8)。與2002年相比，在測試基準(zhǔn)生成、FPGA綜合、形式驗(yàn)證、邏輯綜合、原理圖捕獲和行為級綜合等與EDA工具使用相關(guān)的問題反而出現(xiàn)了下降趨勢，真正屬于設(shè)計(jì)領(lǐng)域的挑戰(zhàn)呈現(xiàn)增加的趨勢。 這種現(xiàn)象表明，中國IC設(shè)計(jì)公司對EDA工具掌握的程度有所加強(qiáng)，另一方面，也說明，工具提供商、大學(xué)課程、各種研討會以及一系列的合作培訓(xùn)計(jì)劃，已經(jīng)對提升中國本地IC設(shè)計(jì)工程師在EDA工具使用的技能方面發(fā)揮了重要作用。 業(yè)界一種觀點(diǎn)認(rèn)為，出現(xiàn)如此全面的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，主要原因在于缺乏有經(jīng)驗(yàn)的設(shè)計(jì)工程師對設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)的帶領(lǐng)作用。此外，無論是教科書、還是專題研討會，對一些經(jīng)過實(shí)踐驗(yàn)證的解決辦法論述得不夠完整和深入也是一個(gè)原因。真正有經(jīng)驗(yàn)的設(shè)計(jì)專家，往往又認(rèn)為很多問題對他來說其實(shí)不值一提。因此，在一定程度上沒有形成有利于設(shè)計(jì)工程師成長的培訓(xùn)和實(shí)踐環(huán)境。 一些專家認(rèn)為，目前中國IC設(shè)計(jì)公司的設(shè)計(jì)流程存在問題，表現(xiàn)在過去許多IC設(shè)計(jì)工程師主要采用后向設(shè)計(jì)方法，現(xiàn)在轉(zhuǎn)為前向設(shè)計(jì)，許多過去不那么突出的問題或者過去沒有弄清楚的問題就陡然暴露了出來。加上先進(jìn)的EDA工具通常都要通過收費(fèi)的、嚴(yán)格的逐級授權(quán)才能使用(例如驗(yàn)證和測試過程中，只要2%的地方?jīng)]有測試和驗(yàn)證到，就會出現(xiàn)問題)，如果此時(shí)由于資金支持不上，EDA工具的支持可能就無法到位，自然就會面臨許多根本無法解決的設(shè)計(jì)問題。 本次調(diào)查揭示，在未來5年內(nèi)，三成以上中國IC設(shè)計(jì)公司將開發(fā)數(shù)字消費(fèi)類ASIC、專用微控制器/嵌入式CPU，接近兩成以上的公司將研發(fā)網(wǎng)絡(luò)IC/芯片組、數(shù)據(jù)通信IC、DSP和通用CPU/處理器等芯片，三成設(shè)計(jì)公司表示以ASIC方式提供上述產(chǎn)品。此外，有15%左右的公司研發(fā)電信、計(jì)算機(jī)芯片組，10%左右的公司研發(fā)電視、圖形和傳真/調(diào)制解調(diào)器/語音芯片組，不到10%的公司開發(fā)交換/多路復(fù)用、存儲、I/O控制、協(xié)處理器和多媒體芯片組，還有很少一部分公司開發(fā)邏輯IC和門陣列。 據(jù)此我們分析，中國IC設(shè)計(jì)公司未來5年的研發(fā)重心是數(shù)字消費(fèi)領(lǐng)域的通用/專用微處理器/嵌入式CPU，以及基于DSP的數(shù)據(jù)通信芯片。網(wǎng)絡(luò)、電信、計(jì)算機(jī)與電視、圖形、語音是第二層次的研發(fā)重心。與此同時(shí)，積極向多媒體、協(xié)處理器、高速I/O和高速存儲器等由國外頂級IC設(shè)計(jì)公司所壟斷的領(lǐng)域邁進(jìn)。三成的IC設(shè)計(jì)公司將以ASIC方式為中國整機(jī)或系統(tǒng)用戶提供貼近市場需求的全面解決方案。 只有會員可看 相關(guān)專題? 2001第九屆全國可靠性物理學(xué)術(shù)討論會論文集目錄 ? 第三屆電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)經(jīng)驗(yàn)交流會論文集目錄 ? 電子信息系統(tǒng)質(zhì)量可靠性 ? 網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)可靠性技術(shù)初討 ? 復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的完成性研究探討 ? 數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)可用性與可靠性芻議7 / 7
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