材料分析測(cè)試技術(shù)期末考試重點(diǎn)知識(shí)點(diǎn)歸納-資料下載頁(yè)
2025-06-28 09:48本頁(yè)面
【正文】 法中，最常用的是（ B ）A．勞厄法 已知X射線定性分析中有三種索引，已知物質(zhì)名稱可以采用（ B ） 電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號(hào)中能用于測(cè)試1nm厚度表層成分分析的信號(hào)是（ B ）A. 背散射電子 測(cè)定鋼中的奧氏體含量，若采用定量X射線物相分析，常用的方法是（ C ） 下列分析方法中分辨率最高的是（ B ） C. 特征X射線表面形貌分析的手段包括（ A ） D. DSC當(dāng)X射線將某物質(zhì)原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個(gè)L層電子打出核外，這整個(gè)過(guò)程將產(chǎn)生（ C ） 透射電鏡的兩種主要功能（ B ） 已知X射線光管是銅靶，應(yīng)選擇的濾波片材料是（ C ） 采用復(fù)型技術(shù)測(cè)得材料表面組織結(jié)構(gòu)的式樣為（ A ） 1在電子探針?lè)治龇椒ㄖ?，把X射線譜儀固定在某一波長(zhǎng)，使電子束在樣品表面掃描得到樣品的形貌相和元素的成分分布像，這種分析方法是（ C ） 1下列分析測(cè)試方法中，能夠進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析的測(cè)試方法是（ D ） +B1在X射線定量分析中，不需要做標(biāo)準(zhǔn)曲線的分析方法是（ C ） B. 內(nèi)標(biāo)法 C. K值法1熱分析技術(shù)不能測(cè)試的樣品是（ C ） 1下列熱分析技術(shù)中，（ B ）是對(duì)樣品池及參比池分別加熱的測(cè)試方法 二、填空題（每空1分，共20分）由X射線管發(fā)射出來(lái)的X射線可以分為兩種類型，即 連續(xù)X射線和 特征X射線 。常見(jiàn)的幾種電子衍射譜為單晶衍射譜、多晶電子衍射譜、多次衍射譜、高級(jí)勞厄帶斑點(diǎn)、菊池線。透射電鏡的電子光學(xué)系統(tǒng)由光學(xué)系統(tǒng)、樣品室、放大系統(tǒng)、供電和真空系統(tǒng)四部分組成今天復(fù)型技術(shù)主要應(yīng)用萃取復(fù)型方法來(lái)截取第二相微小顆粒進(jìn)行分析。掃描電子顯微鏡經(jīng)常用的電子信息是二次電子和背散射電子、吸收電子、特征X射線（任填3個(gè)） 德拜照相法中的底片安裝方法有正裝法、反裝法（倒裝法）、45℃法（不規(guī)則法）產(chǎn)生衍射的必要條件是滿足布拉格定律透射電鏡成像遵循阿貝成像原理原理結(jié)構(gòu)因子是指一個(gè)單胞對(duì)X射線的散射強(qiáng)度，由于衍射強(qiáng)度正比于結(jié)構(gòu)因子模的平方，消光即相當(dāng)于衍射線沒(méi)有強(qiáng)度，因此可通過(guò)結(jié)構(gòu)因子是否為0來(lái)研究消光規(guī)律四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共20分）闡述特征X射線產(chǎn)生的物理機(jī)制答 當(dāng)外來(lái)電子動(dòng)能足夠大時(shí)，可將原子內(nèi)層（K殼層）中某個(gè)電子擊出去，于是在原來(lái)的位置出現(xiàn)空位，原子系統(tǒng)的能量因此而升高，處于激發(fā)態(tài)，為使系統(tǒng)能量趨于穩(wěn)定，由外層電子向內(nèi)層躍遷。由于外層電子能量高于內(nèi)層電子能量，在躍遷過(guò)程中，其剩余能量就要釋放出來(lái)，形成特征X射線。簡(jiǎn)述掃描電鏡的結(jié)構(gòu)。掃描電鏡包括以下幾個(gè)部分：（1）電子光學(xué)系統(tǒng)由電子搶、電磁透鏡、光闌、樣品室等部件組成。（2）信號(hào)收集和顯示系統(tǒng) 二次電子和背反射電子收集器是掃描電鏡中最主要的信號(hào)檢測(cè)器。顯示系統(tǒng)、吸收電子檢測(cè)器 X射線檢測(cè)器 （3）真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)。給出物相定性與定量分析的基本原理定性相分析原理：每一種結(jié)晶物質(zhì)都有其特定的結(jié)構(gòu)參數(shù)，包括點(diǎn)陣類型、晶胞大小、單胞中原子的數(shù)目及其位置等等，這些參數(shù)在X射線衍射花樣上均有所反映，到目前為止還沒(méi)找到兩種衍射花樣完全相同的物質(zhì)；對(duì)于多種物相的X射線譜，其衍射花樣互不干擾，只是機(jī)械地疊加；物相定性分析是一種間接的方法，需利用現(xiàn)有的數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行物相檢索。定量相分析原理：各相的衍射線強(qiáng)度隨該相含量的增加而提高。五、論述題（共25分）電子衍射與X射線衍射相比有如下優(yōu)缺點(diǎn)：（1）由于電子的波長(zhǎng)比X射線短得多，故電子衍射的衍射角也小得多，其衍射譜可視為倒易點(diǎn)陣得二維截面，使晶體幾何關(guān)系的研究變得簡(jiǎn)單方便。（2）物質(zhì)對(duì)電子的散射作用強(qiáng)，約為X射線的一百萬(wàn)倍，因而它在物質(zhì)中的穿透深度有限，適合于用來(lái)研究微晶、表面和薄膜的晶體結(jié)構(gòu)。攝照時(shí)，曝光只需數(shù)秒即可。（3）電子衍射使得在透射電鏡下對(duì)同一試樣的形貌觀察與結(jié)構(gòu)分析同時(shí)來(lái)研究成為可能。此外，還可借助衍射花樣弄清薄晶樣品衍襯成像的襯度來(lái)源，對(duì)各種圖像特征提出確切的解釋。（4）電子衍射譜強(qiáng)度Ie與原子序數(shù)Z接近線形關(guān)系，重輕原子對(duì)電子散射本領(lǐng)的差別??；而X射線衍射強(qiáng)度IX與Z2有關(guān)，因此電子衍射有助于尋找輕原子的位置。（5）電子衍射強(qiáng)度有時(shí)幾乎與透射束相當(dāng)，以致兩者產(chǎn)生交互作用，使電子衍射花樣，特別是強(qiáng)度分析變得復(fù)雜，不能象X射線那樣從測(cè)量衍射強(qiáng)度來(lái)廣泛的測(cè)定結(jié)構(gòu)。（6）此外，散射強(qiáng)度高導(dǎo)致電子透射能力有限，要求試樣薄，這就使試樣制備工作較X射線復(fù)雜；在精度方面也遠(yuǎn)比X射線低。以體心立方（001）(011)的衍射為例，說(shuō)明產(chǎn)生衍射的充分必要條件答：結(jié)構(gòu)因子公式為由于產(chǎn)生衍射的充分必要條件是“反射定律+布拉格方程+F≠0。滿足布拉格方程只是可能產(chǎn)生衍射，但不一定會(huì)產(chǎn)生衍射。對(duì)于體心立方點(diǎn)陣來(lái)說(shuō)：h+k+l為偶數(shù)：F 2=4fa2；h+k+l為奇數(shù)：F2=0其倒易點(diǎn)陣為面心點(diǎn)陣；只有當(dāng)h+k+l為偶數(shù)時(shí)才能產(chǎn)生衍射。（001）面h+k+l為奇數(shù)，不能產(chǎn)生衍射，(011)面為偶數(shù)，可以產(chǎn)生衍射15
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