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正文內(nèi)容

基于矢量自由軸法的rlc測量儀設(shè)計軟件畢業(yè)論文-資料下載頁

2025-06-27 20:25本頁面
  

【正文】 制為才可以被改變,所以在進(jìn)行轉(zhuǎn)換之前ENC位必須設(shè)為1。 ADC10控制寄存器0 ADC10控制寄存器1,在采樣過程中,用戶必須保證在轉(zhuǎn)換結(jié)束前所選擇的ADC10CLK都保持在活動狀態(tài)。如果在轉(zhuǎn)換期間時鐘丟失或關(guān)閉,轉(zhuǎn)換將無法完成,本次轉(zhuǎn)換結(jié)果將無效。為了使測量結(jié)果更加精確,采用平均值濾波方法,進(jìn)行多次采樣求平均值。 ADC10轉(zhuǎn)換過程圖 ADC10模塊的結(jié)構(gòu)框圖ADC10初始化設(shè)置實(shí)例程序如下:void ADC10_init(void){ ADC10CTL0|=ADC10ON+MSC+ADC10SHT_2+SREF_0。 //非中斷模式 ADC10AE0|= BIT0。 //A0 ADC10CTL1|=INCH_0 +CONSEQ_0。 //序列通道單詞}ADC10單通道單次轉(zhuǎn)換的實(shí)例程序如下;void ADC10_sample() //AD轉(zhuǎn)換{ while(ADC10CTL1amp。ADC10BUSY)。 //是否繁忙 ADC10CTL0|=ADC10SC+ENC。 //開始轉(zhuǎn)換 while(ADC10CTL1amp。ADC10BUSY)。 //等待轉(zhuǎn)換結(jié)束 a=ADC10MEM。 //讀出結(jié)果}AD采樣值軟件濾波實(shí)例程序:for(i=0。i99。i++){ ADC10_sample()。 val1=val1+a。}val1=val1/100。、顯示部分軟件設(shè)計 與MSP430G2553單片機(jī)相同Nokia5110液晶也具有低電壓、低功耗、性價比高等特點(diǎn),使用單片機(jī)的I/O資源少,非常適合于電池供電的便攜式通信設(shè)備和測試設(shè)備中使用。 數(shù)據(jù)將以字節(jié)的格式下載到Nokia5110的48*84位顯示數(shù)據(jù)RAM矩陣,通過地址指針尋址。在水平尋址模式(V=0),X地址在每個字節(jié)之后遞增,經(jīng)最后的X地址(X=83)之后,X繞回0,Y遞增到下一行的地址。經(jīng)最后地址之后(X=83,Y=5),地址指針繞回原始地址(X=0,Y=0)。如果D/C(模式選擇)置為低,當(dāng)前字節(jié)為命令字節(jié)。如果D/C置為高,為數(shù)據(jù)字節(jié),同時接下來的字節(jié)將存儲到顯示數(shù)據(jù)RAM。 Nokia5110指令集系統(tǒng)測試及結(jié)果分析、測試儀器 數(shù)字萬用表(DT830B)、雙蹤示波器(GDS1062A)、自制直流穩(wěn)壓源、高頻導(dǎo)納電橋(LCR829)。、測試方案 將待測的電阻、電感、電容先由高頻導(dǎo)納電橋測量并記錄其精確值,再將待測元件接入本設(shè)計的RLC測量儀。記錄測量結(jié)果并分析。、測試結(jié)果及分析 在整個測試過程中,系統(tǒng)測試數(shù)據(jù)將自動分辨從Nokia5110液晶顯示出來。 測量時液晶顯示、電阻測試 在測試前將每個電阻元件經(jīng)高頻導(dǎo)納電阻測量其精確值,然后再由系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)試測量得出電阻值,再進(jìn)行誤差分析誤差值α為 ()設(shè)計采用了八個標(biāo)準(zhǔn)電阻檔位,其它檔位間距相應(yīng)減小,測量結(jié)果更加精確。如將1KΩ的精確電阻接入系統(tǒng)進(jìn)行測量。 電阻測量結(jié)果 電阻測試待測值R0(Ω)測量值R1(Ω)誤差α1010%2222%100100%200200%328329%432433%500501%770771%10001002%14981497%21982192%38243827%51005099%100009986%2015020197%2216022135%4640046378%5618056169%6310063051%9266092281%179500178430%300500300600%471700470200%682000680800%10030001005347%、電容測試 和電阻測量一樣,電容測量也是先由高頻導(dǎo)納電橋進(jìn)行測量,在進(jìn)行測試。雖然測量精度有所不同,但整體在5%以下,達(dá)到設(shè)計要求。 電容測量結(jié)果 電容測量數(shù)據(jù)記錄類型待測值C0(pF)測量值C1(pF)誤差α極性電容47%101100%213214%321%472%10551053%21502166%101309911%2112020628%4428043674%9680096930%228400229032%285500291600%953000932700%電解電容10300001083000%45200004401500%95000009390000%、電感測量如將精確的990uH電感接入測量系統(tǒng)。從表中可以看出電感的測量出現(xiàn)了較大的誤差,主要是在小電感測量時。但在是整體測試上達(dá)到設(shè)計要求。 電感測量結(jié)果 電感測量記錄表 待測值(uH)測量值(uH)誤差137127%365334%650563%990845%44004366%81908169%結(jié)論 本設(shè)計是基于矢量自由軸法了一個簡易RLC測量儀,整體采用低功耗、低電壓的特點(diǎn)。能用普通的鋰電池進(jìn)行供電,實(shí)現(xiàn)了便攜式設(shè)計。與市場上同等的RLC測量儀相比,該系統(tǒng)具有超低功耗、操作簡單、結(jié)構(gòu)簡單、性能穩(wěn)定、使用便捷、成本低、通用性好等特點(diǎn),具有較好的市場化前景。采用MSP430G2553作為微處理器控制整個系統(tǒng)進(jìn)行。系統(tǒng)在對微電感的測量存在比較大的誤差,測量微電感采用的是10KHz的激勵信號,濾波后,波形出現(xiàn)一定的失真,對測量電路帶來了影響??梢允褂酶呔鹊恼也òl(fā)生器產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)的正弦波,后續(xù)的測量電路和相敏檢波電路信號的效果會更好,如果能同時改用更高位的AD代替MSP430G2553單片機(jī)內(nèi)部AD為10位會有更佳的效果。通過這次畢業(yè)設(shè)計,提高了對整個專業(yè)學(xué)科綜合知識在實(shí)際情況下的利用。掌握了整個硬件、軟件的開發(fā)及系統(tǒng)調(diào)試流程,提高了動手能力。參考文獻(xiàn)[1] 高吉祥,[M]. 北京:電子工業(yè)出版社,[2] 高吉祥,(第二版)[M]. 北京:高等教育出版社,.[3] [M]. 北京:電子工業(yè)出版社,.[4] [M]. 北京:高等教育出版社,. [5] 高吉祥,[M]. 北京:電子工業(yè)出版社, [6] [M]. 北京:電工業(yè)出版社,.[7] 譚浩強(qiáng). C程序設(shè)計(第3版)[M]. 北京:清華大學(xué)出版社 [8] [J]. 電子測量技術(shù),.[9] 全國大學(xué)生電子設(shè)計競賽委員會編. 2007年全國大學(xué)生電子設(shè)計競賽獲獎作品選編[M]. 北京:北京理工大學(xué)出版社,[10] 沈建華,[M]. 北京:北京航空航天大學(xué)出版社 [11] —入門、提高、開發(fā)、拓展全攻略[M]. 北京:電子工業(yè)出版社, 致謝在畢業(yè)設(shè)計和論文完成之際,首先要感謝我的指導(dǎo)老師張仁民老師。從前期的選題,收集資料,寫作、修改,到最后論文定稿,都是在指導(dǎo)老師的悉心指導(dǎo)和嚴(yán)格要求下進(jìn)行的。張仁民老師工作認(rèn)真負(fù)責(zé)、治學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)。他不僅在學(xué)習(xí)給了我很多幫助和啟發(fā),而且讓我學(xué)會了做事、做學(xué)問的態(tài)度和方法,將使我終身受益。在此,再次向指導(dǎo)老師張仁民老師表示衷心的感謝和深深的敬意!同時感謝學(xué)校給我們提供這么好的一個實(shí)驗(yàn)環(huán)境,讓我們在這個平臺自身各方面的能力都得到了提高。最后在此向幫助和指導(dǎo)過我的各位老師表示最忠心的感謝,同時感謝所有任課老師和同學(xué)在四年來給我的指導(dǎo)和幫助,教會我各種技能。正是你們孜孜不倦的教誨使我能夠順利完成學(xué)業(yè),在學(xué)習(xí)生涯中積累了一筆寶貴的財富,這將使我在今后學(xué)習(xí)工作生活中受益終生。附錄39
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