dl417—91電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導(dǎo)則-資料下載頁
2025-06-26 09:01本頁面
【正文】 。再以一等值的已知電荷量Q0注入試品Cx兩端，則指示系統(tǒng)響應(yīng)為β′。這兩個不同的響應(yīng)之比即為回路哀減系數(shù)K1，即 則視在放電量 直接法校準(zhǔn)時，加電壓試驗的校準(zhǔn)方波發(fā)生器需脫離試驗回路，不能與試品內(nèi)部放電脈沖直觀比較。間接法校準(zhǔn)時，校準(zhǔn)方波發(fā)生器可接在試驗回路并能與試品內(nèi)部放電脈沖進(jìn)行直觀比較。因此，目前國內(nèi)外的許多檢測儀器均設(shè)計成具有間接校準(zhǔn)的功能。 注：1)當(dāng)雜散電容Cs的影響可忽略時，圖4中的3種接線方式的回路衰減系數(shù)為 計算與實測表明，只要存有很小雜散電容Cs，則回路哀減系數(shù)K1會產(chǎn)生很大的誤差，因此在許多情況下雜散電容是不能忽略的。此時圖4中的3種校準(zhǔn)接線的回路衰減系數(shù)Kls為 直接法接線時，Zm與Ck串聯(lián)接線 直接法接線時，Zm與Ck并聯(lián)接線 平衡法接線時，若Ck和Ck與對地雜散電容Cs接近(以另一類同于Cx的設(shè)備代替Ck或Ck的幾何尺寸及對地距離，均與試品Cx接近)，則當(dāng)電橋平衡時，分布電容Cs對稱，Kls=1。 校準(zhǔn)時的注意事項 校準(zhǔn)方波發(fā)生器的輸出電壓U0和串聯(lián)電容C0的值要用一定精度的儀器定期測定，如U0一般可用經(jīng)校核好的示波器進(jìn)行測定；C0一般可用合適的低壓電容電橋或數(shù)字式電容表測定。每次使用前應(yīng)檢查校準(zhǔn)方波發(fā)生器電池是否充足電。從C0到CX的引線應(yīng)盡可能短直，C0與校準(zhǔn)方波發(fā)生器之間的連線最好選用同軸電纜，以免造成校準(zhǔn)方波的波形畸變。 當(dāng)更換試品或改變試驗回路任一參數(shù)時，必須重新校準(zhǔn)。 6電力設(shè)備的局部放電試驗 電力設(shè)備局部放電試驗前對試品的要求 ，必要時可在耐壓試驗前后各進(jìn)行一次，以資比較。 ，試品在試驗前不應(yīng)受機(jī)械、熱的作用。 ，能進(jìn)行試驗。 背景噪聲水平應(yīng)低于試品允許放電量的50%，當(dāng)試品允許放電量較低(如小于10pC)時，則背景噪聲水平可以允許到試品允許放電量的100%?，F(xiàn)場試驗時，如以上條件達(dá)不到，可以允許有較大干擾，但不得影響測量讀數(shù)。 圖5 變壓器局部放電試驗的加壓時間及步驟 5 /
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