【正文】 值：各子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值：各子組極差的平均值：各子組中位數(shù)的平均值：各子組移動極差的平均值λ：EWMA因子（0λ1）SQRT：開平方運(yùn)算 均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 按理論值計(jì)算均值圖： UCL=μ+Nσ/3*A1*σ CL=μ LCL=μN(yùn) /3*A1*σ標(biāo)準(zhǔn)差圖：UCL=(C4+Nσ*SQRT(1C4))* σ CL=C4*σ LCL=(C4Nσ*SQRT(1C4))* σ按樣本計(jì)算均值圖： UCL=+Nσ/3*A3* CL= LCL=Nσ/3*A3*標(biāo)準(zhǔn)差圖：UCL=+* Nσ/3 *(B41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(B31) 均值極差圖 按理論值計(jì)算均值圖： UCL=μ+Nσ/3*A1*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ/3*A1*σ極差圖： UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ 按樣本計(jì)算均值圖： UCL=+Nσ/3*A2* CL= LCL=Nσ/3*A2*極差圖： UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31) 位數(shù)極差圖按理論值計(jì)算中位數(shù)圖：UCL=μ+Nσ/3*d2*m3A2*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ/3*d2*m3A2*σ極差圖： UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ按樣本計(jì)算中位數(shù)圖：UCL=+Nσ/3*m3A2* CL= LCL=Nσ/3*m3A2*極差圖： UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31) 單值移動極差圖按理論值計(jì)算單值圖： UCL=μ+Nσ*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ*σ移動極差：UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ按樣本計(jì)算單值圖： UCL=+Nσ/d2* CL= LCL=Nσ/d2*移動極差：UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31)其中：MRi=Max(Xi,Xi+1,..Xi+k) Min(Xi,Xi+1,..Xi+k) .k為移動子組大小 EWMA圖UCL=μ+3*SQRT(λ/(2λ))* σ CL=μLCL=μ3*SQRT(λ/(2λ))* σ 合格數(shù)據(jù)類的控制線設(shè)數(shù)據(jù)Ki,Di表示第I批的批量為Di,不合格數(shù)為Ki p:不合格率q:合格率 q=1p P圖 按理論值計(jì)算UCL=p+Nσ*SQRT(p*(1p)/Di)CL=p LCL= pNσ*SQRT(p*(1p)/Di)按樣本計(jì)算UCL=+Nσ*SQRT(*(1)/Di) CL= LCL= Nσ*SQRT(*(1)/Di)其中=∑Ki/ ∑Di Pn圖對于Pn圖,Di=D,I=1,2,3….按理論值計(jì)算UCL=p*D+Nσ*SQRT(p*(1p)*D) CL=p*D LCL= p*DNσ*SQRT(p*(1p)*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*(1)*D) CL=*D LCL= *D Nσ*SQRT(*(1)*D)其中=∑Ki/ ∑Di Q圖按理論值計(jì)算 UCL=q+Nσ*SQRT(q*(1q)/Di) CL=q LCL= qNσ*SQRT(q*(1q)/Di)按樣本計(jì)算UCL=+Nσ*SQRT(*(1)/Di) CL= LCL= Nσ*SQRT(*(1)/Di)其中=∑(DiKi)/ ∑D Qn圖對于Qn圖,Di=D,I=1,2,3….按理論值計(jì)算 UCL=q*D+Nσ*SQRT(q*(1q)*D) CL=q*D LCL= q*DNσ*SQRT(q*(1q)*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*(1)*D) CL=*D LCL= *D Nσ*SQRT(*(1)*D) 其中=∑(DiKi)/ ∑Di 缺陷數(shù)據(jù)類的控制線設(shè)數(shù)據(jù)Ki,Di表示第I批的批量為Di,缺陷個(gè)數(shù)為Ki C圖對于C圖,Di=D,I=1,2,3…n.按理論值計(jì)算 UCL=p*D+Nσ*SQRT(p*D) CL=p*D LCL= p*DNσ*SQRT(p*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*D) CL=*D LCL= *DNσ*SQRT(*D)其中=∑Ki/ ∑Di U圖單位缺陷數(shù)圖按理論值計(jì)算 UCL=p +Nσ*SQRT(p/Di) CL=p LCL= p Nσ*SQRT(p/Di)按樣本計(jì)算UCLi=+Nσ*SQRT(/Di) CL= LCLi= Nσ*SQRT(/Di)其中=∑Ki/ ∑Di7 分析工具 過程能力分析——過程能力是指過程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力決定于質(zhì)量因素4M1E。過程能力指數(shù)表示過程能力滿足產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)(產(chǎn)品規(guī)格)的程度。一般記以Cp。Cp值越大，表明加工精度越高，但相應(yīng)的加工成本也越高，所以對于Cp值的選擇應(yīng)根據(jù)技術(shù)要求與經(jīng)濟(jì)性綜合考慮來決定。另外，過程能力指數(shù)對瞬時(shí)的質(zhì)量變化是不靈敏的，一個(gè)階段度量一次才有意義。 過程能力變動分析——對不同時(shí)間段上的過程能力指數(shù)進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)過程能力指數(shù)隨時(shí)間的變化趨勢,綜合反映過程能力的變動趨勢及其過程的改善情況，評估企業(yè)改進(jìn)的效果，使過程能力不斷得到改善。 產(chǎn)品直通率分析——一般情況下，企業(yè)面向最終用戶的產(chǎn)成品都是經(jīng)過多道工序加工形成的。每道工序都有一個(gè)投入產(chǎn)出比例，稱之為良品率。一個(gè)產(chǎn)品的直通率就是所有工序的良品率的乘積。通過產(chǎn)品的直通率分析，用戶可以了解每個(gè)特性參數(shù)的良品率和該產(chǎn)品總的直通率。通過分析使用戶清楚地認(rèn)識到產(chǎn)品加工過程中的薄弱環(huán)節(jié)和可改進(jìn)空間。最終達(dá)到整體提升企業(yè)的良品率，提高企業(yè)整體加工質(zhì)量。 多參數(shù)對比分析——比較兩個(gè)或多個(gè)質(zhì)量特性值在不同子組，日，周，月的變動情況，以利于對這些質(zhì)量特性質(zhì)的變動作橫向的比較，認(rèn)識到差距，以做出相應(yīng)的質(zhì)量改進(jìn)。 正態(tài)概率紙 采用正態(tài)概率紙可以直觀地判斷一組數(shù)據(jù)是否服從正態(tài)分布。從概率紙上還可以得到正態(tài)分布參數(shù)均值和標(biāo)準(zhǔn)差。而且概率紙對小樣本數(shù)據(jù)更適合。 DPMO轉(zhuǎn)換表——DPMO是指百萬計(jì)缺陷率，通過對它的分析可以直觀的了解產(chǎn)品再生產(chǎn)過程中的不良狀況并進(jìn)行過程能力（CpK）評價(jià)，從而使企業(yè)不僅可以準(zhǔn)確的掌握生產(chǎn)過程的整體狀況，同時(shí)還可以深入研究過程的不良現(xiàn)象，原因以及糾正措施，為質(zhì)量管理提供決策支持。DPMO分析表不僅提供與DPMO相關(guān)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，而且提供影響DPMO的缺陷類別圖以及 各類卻顯得明細(xì)圖，深入分析影響DPMO的原因，以便有的放矢的解決缺陷問題，改善過程的DPMO.