用戶spc理論培訓(xùn)教程(參考版)
2025-06-28 23:06本頁(yè)面
【正文】 DPMO轉(zhuǎn)換表——DPMO是指百萬(wàn)計(jì)缺陷率，通過(guò)對(duì)它的分析可以直觀的了解產(chǎn)品再生產(chǎn)過(guò)程中的不良狀況并進(jìn)行過(guò)程能力（CpK）評(píng)價(jià)，從而使企業(yè)不僅可以準(zhǔn)確的掌握生產(chǎn)過(guò)程的整體狀況，同時(shí)還可以深入研究過(guò)程的不良現(xiàn)象，原因以及糾正措施，為質(zhì)量管理提供決策支持。從概率紙上還可以得到正態(tài)分布參數(shù)均值和標(biāo)準(zhǔn)差。 多參數(shù)對(duì)比分析——比較兩個(gè)或多個(gè)質(zhì)量特性值在不同子組，日，周，月的變動(dòng)情況，以利于對(duì)這些質(zhì)量特性質(zhì)的變動(dòng)作橫向的比較，認(rèn)識(shí)到差距，以做出相應(yīng)的質(zhì)量改進(jìn)。通過(guò)分析使用戶清楚地認(rèn)識(shí)到產(chǎn)品加工過(guò)程中的薄弱環(huán)節(jié)和可改進(jìn)空間。一個(gè)產(chǎn)品的直通率就是所有工序的良品率的乘積。 產(chǎn)品直通率分析——一般情況下，企業(yè)面向最終用戶的產(chǎn)成品都是經(jīng)過(guò)多道工序加工形成的。另外，過(guò)程能力指數(shù)對(duì)瞬時(shí)的質(zhì)量變化是不靈敏的，一個(gè)階段度量一次才有意義。一般記以Cp。6 控制線的計(jì)算公式 （按理論值計(jì)算/按樣本計(jì)算） 計(jì)量類的控制線符號(hào)說(shuō)明：Xi:I=1,2,3,…n為樣本數(shù)據(jù)μ：期望值σ：方差：均值 =∑Xi/n：各子組均值的均值：各子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值：各子組極差的平均值：各子組中位數(shù)的平均值：各子組移動(dòng)極差的平均值λ：EWMA因子（0λ1）SQRT：開平方運(yùn)算 均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 按理論值計(jì)算均值圖： UCL=μ+Nσ/3*A1*σ CL=μ LCL=μN(yùn) /3*A1*σ標(biāo)準(zhǔn)差圖：UCL=(C4+Nσ*SQRT(1C4))* σ CL=C4*σ LCL=(C4Nσ*SQRT(1C4))* σ按樣本計(jì)算均值圖： UCL=+Nσ/3*A3* CL= LCL=Nσ/3*A3*標(biāo)準(zhǔn)差圖：UCL=+* Nσ/3 *(B41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(B31) 均值極差圖 按理論值計(jì)算均值圖： UCL=μ+Nσ/3*A1*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ/3*A1*σ極差圖： UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ 按樣本計(jì)算均值圖： UCL=+Nσ/3*A2* CL= LCL=Nσ/3*A2*極差圖： UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31) 位數(shù)極差圖按理論值計(jì)算中位數(shù)圖：UCL=μ+Nσ/3*d2*m3A2*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ/3*d2*m3A2*σ極差圖： UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ按樣本計(jì)算中位數(shù)圖：UCL=+Nσ/3*m3A2* CL= LCL=Nσ/3*m3A2*極差圖： UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31) 單值移動(dòng)極差圖按理論值計(jì)算單值圖： UCL=μ+Nσ*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ*σ移動(dòng)極差：UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ按樣本計(jì)算單值圖： UCL=+Nσ/d2* CL= LCL=Nσ/d2*移動(dòng)極差：UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31)其中：MRi=Max(Xi,Xi+1,..Xi+k) Min(Xi,Xi+1,..Xi+k) .k為移動(dòng)子組大小 EWMA圖UCL=μ+3*SQRT(λ/(2λ))* σ CL=μLCL=μ3*SQRT(λ/(2λ))* σ 合格數(shù)據(jù)類的控制線設(shè)數(shù)據(jù)Ki,Di表示第I批的批量為Di,不合格數(shù)為Ki p:不合格率q:合格率 q=1p P圖 按理論值計(jì)算UCL=p+Nσ*SQRT(p*(1p)/Di)CL=p LCL= pNσ*SQRT(p*(1p)/Di)按樣本計(jì)算UCL=+Nσ*SQRT(*(1)/Di) CL= LCL= Nσ*SQRT(*(1)/Di)其中=∑Ki/ ∑Di Pn圖對(duì)于Pn圖,Di=D,I=1,2,3….按理論值計(jì)算UCL=p*D+Nσ*SQRT(p*(1p)*D) CL=p*D LCL= p*DNσ*SQRT(p*(1p)*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*(1)*D) CL=*D LCL= *D Nσ*SQRT(*(1)*D)其中=∑Ki/ ∑Di Q圖按理論值計(jì)算 UCL=q+Nσ*SQRT(q*(1q)/Di) CL=q LCL= qNσ*SQRT(q*(1q)/Di)按樣本計(jì)算UCL=+Nσ*SQRT(*(1)/Di) CL= LCL= Nσ*SQRT(*(1)/Di)其中=∑(DiKi)/ ∑D Qn圖對(duì)于Qn圖,Di=D,I=1,2,3….按理論值計(jì)算 UCL=q*D+Nσ*SQRT(q*(1q)*D) CL=q*D LCL= q*DNσ*SQRT(q*(1q)*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*(1)*D) CL=*D LCL= *D Nσ*SQRT(*(1)*D) 其中=∑(DiKi)/ ∑Di 缺陷數(shù)據(jù)類的控制線設(shè)數(shù)據(jù)Ki,Di表示第I批的批量為Di,缺陷個(gè)數(shù)為Ki C圖對(duì)于C圖,Di=D,I=1,2,3…n.按理論值計(jì)算 UCL=p*D+Nσ*SQRT(p*D) CL=p*D LCL= p*DNσ*SQRT(p*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*D) CL=*D LCL= *DNσ*SQRT(*D)其中=∑Ki/ ∑Di U圖單位缺陷數(shù)圖按理論值計(jì)算 UCL=p +Nσ*SQRT(p/Di) CL=p LCL= p Nσ*SQRT(p/Di)按樣本計(jì)算UCLi=+Nσ*SQRT(/Di) CL= LCLi= Nσ*SQRT(/Di)其中=∑Ki/ ∑Di7 分析工具 過(guò)程能力分析——過(guò)程能力是指過(guò)程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力決定于質(zhì)量因素4M1E。在點(diǎn)的拾取界面界面的操作（追加原因、措施、備注、剔除點(diǎn)）均針對(duì)特定子組。點(diǎn)的拾取界面由點(diǎn)的本身數(shù)據(jù)信息、關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息、控制線信息、標(biāo)簽信息、異常信息組成，同時(shí)還提供數(shù)據(jù)異常時(shí)，異常原因、糾正措施的選擇備注信息的登記和點(diǎn)的剔除功能?？梢栽趫D形屬性界面中選中使用判異線，清楚的察看異常情況。通常將中心線與上控線之間分為三等分，分別稱之為C區(qū)、B區(qū)、A區(qū)。)、方差(σ)對(duì)于EWMA圖需要指定目標(biāo)值和方差(σ).對(duì)于不合格品圖、不合格品數(shù)圖需要指定不合格品率（p）、對(duì)于缺陷圖（不合格數(shù)圖、單位不合格數(shù)圖）需要指定不合格數(shù)（c）若設(shè)為公式計(jì)算方式，作圖時(shí)系統(tǒng)會(huì)按照指定的公式計(jì)算出控
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