【正文】 在測(cè)量數(shù)字電路的靜態(tài)邏輯電平時(shí)，先在輸入端加入高電平或低電平。然后再測(cè)量各輸出端的電壓是高電平還是低電平，并作好記錄。測(cè)量完畢后分析其狀態(tài)電平，判斷是否符合該數(shù)字電路的邏輯關(guān)系。若不符合，則要對(duì)電路引線作一次詳細(xì)檢查，或者更換該集成電路。進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，可能需要對(duì)某些元件的參數(shù)加以調(diào)整，一般有兩種方法。（1）選擇法 通過(guò)替換元件來(lái)選擇合適的電路參數(shù)（性能或技術(shù)指標(biāo)）。電路原理圖中，在這種元件的參數(shù)旁邊通常標(biāo)注有“＊”號(hào)，表示需要在調(diào)整中才能準(zhǔn)確地選定。因?yàn)榉磸?fù)替換元件很不方便，一般總是先接入可調(diào)元件，待調(diào)整確定了合適的元件參數(shù)后，再換上與選定參數(shù)值相同的固定元件。 （2）調(diào)節(jié)可調(diào)元件法 在電路中己經(jīng)裝有調(diào)整元件，如電位器、微調(diào)電容或微調(diào)電感等。其優(yōu)點(diǎn)是調(diào)節(jié)方便，而且電路工作一段時(shí)間以后，如果狀態(tài)發(fā)生變化，也可以隨時(shí)調(diào)整，但可調(diào)元件的可靠性差，體積也比固定元件大。 上述兩種方法都適用于靜態(tài)調(diào)整和動(dòng)態(tài)調(diào)整。 靜態(tài)測(cè)試與調(diào)整時(shí)內(nèi)容較多，適用于產(chǎn)品研制階段或初學(xué)者試制電路使用。在生產(chǎn)階段調(diào)試，為了提高生產(chǎn)效率，往往是只作簡(jiǎn)單針對(duì)性的調(diào)試，主要以調(diào)節(jié)可調(diào)性元件為主。對(duì)于不合相電路，也只作簡(jiǎn)單檢查，如觀察有沒(méi)有短路或斷線等。若不能發(fā)現(xiàn)故障，則應(yīng)立即在底板上標(biāo)明故障現(xiàn)象，再轉(zhuǎn)向維修生產(chǎn)線上進(jìn)行維修這樣才不會(huì)耽誤調(diào)試生產(chǎn)線的運(yùn)行。動(dòng)態(tài)測(cè)試與調(diào)整 動(dòng)態(tài)測(cè)試與調(diào)整是保證電路各項(xiàng)參數(shù)、性能、指標(biāo)的重要步驟、其測(cè)試與調(diào)整的項(xiàng)目?jī)?nèi)容包括動(dòng)態(tài)工作電壓、波形的形狀及其幅值和頻率、動(dòng)態(tài)輸出功率、相位關(guān)系、頻帶、放大倍數(shù)、動(dòng)態(tài)范圍等。對(duì)于數(shù)字電路來(lái)說(shuō)，只要器件選擇合適，直流工作點(diǎn)正常，邏輯關(guān)系就不會(huì)有太大問(wèn)題，一般測(cè)試電平的轉(zhuǎn)換和工作速度即可。 測(cè)試內(nèi)容包括三極管b、c、e 極和集成電路各引腳對(duì)地的動(dòng)態(tài)工作電壓。動(dòng)態(tài)電壓與靜態(tài)電壓同樣是判斷電路是否正常工作的重要依據(jù)，例如有些振蕩電路，當(dāng)電路起振時(shí)測(cè)量Ube直流電壓，萬(wàn)用表指針會(huì)出現(xiàn)反偏現(xiàn)象，利用這一點(diǎn)可以判斷振蕩電路是否起振。 無(wú)論是在調(diào)試還是在排除故障的過(guò)程中，波形的測(cè)試與調(diào)整都是一個(gè)相當(dāng)重要的技術(shù)。各種整機(jī)電路中都可能有波形產(chǎn)生或波形處理變換的電路。為了判斷電路備種過(guò)程是否正常，是否符合技術(shù)要求，常需要觀測(cè)各被測(cè)電路的輸入、輸出波形，并加以分析。對(duì)不符合技術(shù)要求的，則要通過(guò)調(diào)整電路元器件的參數(shù)，使之達(dá)到預(yù)定的技術(shù)要求。在脈沖電路的波形變換中，這種測(cè)試更為重要。 大多數(shù)情況下觀察的是電壓波形，有時(shí)為了觀察電流波形，則可通過(guò)測(cè)量其限流電阻的電壓，再轉(zhuǎn)成電流的方法來(lái)測(cè)量。用示波器觀測(cè)波形時(shí)，上限頻率應(yīng)高于測(cè)試波形的頻率。對(duì)于脈沖波形，示波器的上升時(shí)間還必須滿足要求。觀測(cè)波形的時(shí)候可能會(huì)出現(xiàn)以下幾種不正常的情況，只要細(xì)心分析波形，總會(huì)找出排除的辦法。 第十章 程序設(shè)計(jì)框圖整個(gè)系統(tǒng)的流程圖如圖所示 Vin輸入 PWM占空比 D初值：D=Vout/Vin A/D采樣是否有按鍵 否 按鍵4按鍵5 按鍵3按鍵2電壓電流切換電壓減小 電壓增加第11章 軟件編程1 數(shù)碼管顯示流程圖 2 PWM流程圖程序開(kāi)始計(jì)算數(shù)碼管的位、段碼數(shù)碼管顯示系統(tǒng)初始化位碼送入P1端口段碼送入P2端口程序結(jié)束程序開(kāi)始系統(tǒng)初始化設(shè)置頻率 CL、CH裝初值CCAPOH、CCAPOL裝初值程序開(kāi)始設(shè)置ADC端口設(shè)置AD采樣通道系統(tǒng)初始化開(kāi)始、結(jié)束、通道位清零等待轉(zhuǎn)換結(jié)束結(jié)束標(biāo)志位啟動(dòng)轉(zhuǎn)換將轉(zhuǎn)換結(jié)果送入數(shù)碼管程序結(jié)束啟動(dòng)計(jì)數(shù)器3 A/D采樣流程圖第12章 導(dǎo)入程序調(diào)試 將編寫(xiě)好的程序燒進(jìn)開(kāi)發(fā)板中，并對(duì)開(kāi)發(fā)板進(jìn)行整體調(diào)試，即把所有經(jīng)過(guò)動(dòng)靜態(tài)調(diào)試的各個(gè)部件組裝在一起進(jìn)行的有關(guān)測(cè)試．它的主要目的是使電子產(chǎn)品完全達(dá)到原設(shè)計(jì)的技術(shù)指標(biāo)和要求。由于較多調(diào)試內(nèi)容己在分塊調(diào)試中完成了，整體調(diào)試只需檢測(cè)整機(jī)技術(shù)指標(biāo)是否達(dá)到原設(shè)計(jì)要求即可，若不能達(dá)到則再作適當(dāng)調(diào)整。整機(jī)調(diào)試流程一般有以下幾個(gè)步驟： 主要檢查整機(jī)外觀部件是否齊全，外部調(diào)節(jié)部件和活動(dòng)部件是否靈活。 主要檢查整機(jī)內(nèi)部連線的分布是否合理、整齊，內(nèi)部傳動(dòng)部件是否靈活、可靠，各單元電路板或其他部件與機(jī)座是否緊固，以及它們之問(wèn)的連接線、接插件有沒(méi)有漏插、錯(cuò)插、插緊等。該步驟主要是針對(duì)各單元電路連接后產(chǎn)生的相互影響而設(shè)置的，其主要目的是復(fù)檢各單元電路性能指標(biāo)是否有改變，若有改變，則須調(diào)整有關(guān)元器件對(duì)已調(diào)整好的整機(jī)必須進(jìn)行嚴(yán)格的技術(shù)測(cè)定，以 判斷它是否達(dá)到原設(shè)計(jì)的技術(shù)要求。 通常，電子產(chǎn)品在裝配、調(diào)試完后還要對(duì)小部分 整機(jī)進(jìn)行老化測(cè)試和壞境試驗(yàn)，這樣可以提早發(fā)現(xiàn)電 子產(chǎn)品中一些潛伏的故障，特別是可以發(fā)現(xiàn)帶有共性 的故障，從而對(duì)同類型產(chǎn)品能夠及早通過(guò)修改電路進(jìn) 行補(bǔ)救，有利于提高電子產(chǎn)品的耐用性和可靠性。一般的老化測(cè)試是對(duì)小部分電子產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間 通電運(yùn)行，并測(cè)量其無(wú)故障工作時(shí)間。分析總結(jié)這些 電器的故障特點(diǎn)，找出它們的共性問(wèn)題加以解決。調(diào)試流程：把程序燒進(jìn)開(kāi)發(fā)板中，然后給開(kāi)發(fā)板接入負(fù)載，調(diào)滑動(dòng)變阻器，看看能不能輸出5—10V電壓。若能，則看看各按鍵控制的情況是否與流程圖相符。第十三章 致 謝本次實(shí)訓(xùn)在趙燕、徐麗萍、張琪等老師的悉心指導(dǎo)與幫助下順利的完成，在實(shí)訓(xùn)的分析與實(shí)踐中老師們都給予了細(xì)心的指導(dǎo)，老師不緊指導(dǎo)我們學(xué)習(xí)專業(yè)知識(shí)，也教會(huì)了我們用科學(xué)的思維方式和方法發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，解決問(wèn)題。對(duì)我們以后的學(xué)習(xí)和工作起到了很好的指導(dǎo)作用。在這次實(shí)訓(xùn)中參閱和引用了有關(guān)電子報(bào)刊、雜志的技術(shù)資料，在此向有關(guān)廠家和作者表示衷心的感謝；本次報(bào)告中還引用了有關(guān)STC12C5410AD芯片的資料，對(duì)那些提供資料的老師表示深切的謝意；另外，對(duì)指導(dǎo)我們?cè)O(shè)計(jì)的老師給予我們的幫助和指導(dǎo)表示衷心的感謝。第十四章 參考文獻(xiàn)1. 張占松,蔡宣三．：電子工業(yè)出版社,19982. 周志敏，：人民郵電出版社，20033．程勇，：福建科學(xué)技術(shù)出版社，20034. ：電子工業(yè)出版社，20045. 鄭國(guó)川，：福建科學(xué)技術(shù)出版社，20046. 王增福，：電子工業(yè)出版社，20047. ：科學(xué)出版社，20018. ：東南大學(xué)出版社，20039. 王水平，田慶安，：西安電子科技大學(xué)出版社，200410. ：高等教育出版社，200411. 楊振江，：西安電子科技大學(xué)出版社，199840