晶振電路的理論與應用計算-資料下載頁
2025-06-23 16:10本頁面
【正文】 證G1*G2≥1； 大致的測量方式為：移除晶振及外部元件，使用信號源輸出合適幅值的fs時鐘到IC的XTAL_in，使用雙通道示波器同時實際測量IC的XTAL_out、XTAL_in信號幅值電壓，兩者比值即為開環(huán)增益G2，因為晶振及其匹配電路的G1為負增益，G2足夠高即能正常起振； 振蕩電路的穩(wěn)定性測算與分析——負性阻抗測量： 負性阻抗簡單來講，是指從晶振的兩個Pin腳向振蕩電路看，所得到振蕩電路在諧振頻率時的阻抗特性值（注意：不是晶振、而是振而是振蕩電路更多是放大器的參數(shù)?。?；振蕩電路必需提供足夠的放大增益來補償晶振在諧振時的機械能損推出；從共振子的角度而言，就是在振蕩電路上的“負性阻抗”。 負性阻抗是用來評估振蕩電路品質Q的指標（注意：不是晶振的Q值、而是包含晶振的整個整電路），在某些情況下，如溫度漂移、電壓變化等，可能使得電路失效而停振，因而另負性阻抗的確認變得相對重要。 通常，為維持穩(wěn)定的振蕩環(huán)路，振蕩電路的負性阻抗R至少為晶振動態(tài)電阻R的5倍以上即： 圖13：負性阻抗的測量A、 如圖13所示，在電路上串聯(lián)電阻Rn，其初始值可設為廠商標稱動態(tài)電阻R最大值的5倍；B、 看晶振是否起振，如果不起振，則調小Rn，如起振，則繼續(xù)調大Rn值；C、 持續(xù)調試測量，當電路由起振到停振時，即得到R=Rn+R；增益余量：Gain margin=RR≥10 通常，即便是同一批次的同型號晶振的R值可能都相差較遠，不同批次的可能相差更遠，從上面40M晶振的規(guī)格書中可看出，標稱的最大值為40?，、因此，增益余量高一點，對電路的起振、穩(wěn)定性有益！ 1測量頻率的注意事項： 從上面牽引靈敏度S的曲線可以看出，負載電容CL對fL的影響，而測試探頭會導入等效的負載電容，如我們示波器上所使用的500Mhz的X10探頭，標稱為8pF，而200Mhz探頭標稱：X10時為16pF、X1時為96pF； 毫無疑問，我們得使用最小電容的探頭，有一些帶有源放大器的高頻探頭，如泰克1103+P6243等可以控制在1pF以內，它們也可接在高精度的頻率計數(shù)器如安捷倫53131A上，實現(xiàn)高精度地測量；
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