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正文內(nèi)容

光電效應法測普朗克常量h-資料下載頁

2025-06-18 20:06本頁面
  

【正文】 較快地飽和,則伏安特性曲線在反向電流進入飽和段后有著明顯的拐點,此拐點的電位差即為遏止電位差。實驗內(nèi)容通過實驗了解光電效應的基本規(guī)律,并用光電效應法測量普朗克常量。1. 、并根據(jù)此曲線確定遏止電位差值,計算普朗克常量h。本實驗所用儀器有:光電管、單色儀(或濾波片)、水銀燈、檢流計(或微電流計)、直流電源、直流電壓計等。實驗中光電流比較微弱,其值與光電管類型,單色光強弱等因素有關,因此應根據(jù)實際情況選用合適的測量儀器。例如,選用GDGD5或1977型光電管,選用的檢流計的分度值應在A/分度左右。如果要測量更微弱的電流可用微電流計,可測量A的電流。由于光電管的內(nèi)阻很高,光電流如此之微弱,因此測量中要注意抗外界電磁干擾。并避免光直接照射陽極和防止雜散光干擾。2. 作的關系曲線,用一元線形回歸法計算光電管陰極材料的紅限頻率、逸出功及h值,并與公認值比較。3. 選做(1) 測量光電管在正壓下的伏安特性曲線。(2) 測量光電管的光電特性曲線,即飽和光電流與照射光強度的關系。自行設計方案測量光電管陰極光電流在加速電壓下的伏安特性曲線,改變光源與光電管的距離d,光強正比于,利用此測量光電管的光電特性曲線。參考資料復旦大學電光源實驗室。電光源原理。上海:上??茖W技術出版社,~179,439~497
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