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工程類實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備操作規(guī)程-資料下載頁(yè)

2025-06-16 01:27本頁(yè)面
  

【正文】 同時(shí)提起漏斗與錐形塞桿,并移動(dòng)錐形塞,使砂樣緩緩且均勻分布落入量筒中,進(jìn)行過(guò)程中須注意漏斗下口,經(jīng)常保持高出砂面約1~2厘米。 待試樣全部落入量筒后,用拂平器小心拂平砂面注意勿使量筒有使振動(dòng),以達(dá)到試樣很松的堆積,然后從量筒刻度上測(cè)讀試樣的體積。 以手掌或橡皮塞堵住量筒口,將量筒倒轉(zhuǎn),然后又迅速轉(zhuǎn)回原來(lái)位置,如此重復(fù)幾次,記下體積的最大值,計(jì)算其最大孔隙比。注:若試樣不含大于2毫米的顆粒時(shí),可取試樣400克用500立方厘米的量筒進(jìn)行試驗(yàn)。 最小孔隙比測(cè)定: 取具有代表性之試樣600~800克倒入1000立方厘米的金屬容器筒內(nèi),用振動(dòng)儀敲打容器兩側(cè),每分鐘各150~200次,在這同時(shí),用擊錘于試樣表面每分鐘錘擊30~60次,直至砂樣體積不變?yōu)橹梗ㄒ话慵s3~5分鐘)。 然后進(jìn)行第二次加土,照上法仍進(jìn)行振動(dòng)和錘擊。 第三次加土?xí)r,應(yīng)先在容器筒口加一套圈,加土擊實(shí)后,取下套圈用修土刀削去容器頂面多余試樣,稱量后計(jì)算最小孔隙比。注:若試樣不含有于2毫米顆粒時(shí),可取試樣約600克用250立方厘米的容器進(jìn)行試驗(yàn)。 注意事項(xiàng): 擊打砂樣時(shí)容器筒應(yīng)放置在平整的平面上,并檢查擊錘等部件螺絲連接處是否有松動(dòng)現(xiàn)象。 試驗(yàn)過(guò)程中,敲打時(shí),要用足夠力量使試樣處于振動(dòng)狀態(tài),錘擊時(shí),粗砂可用較少擊數(shù),細(xì)砂應(yīng)用較多擊數(shù),擊錘須自由垂直落下,錘擊部分須均勻。28 電子天平操作規(guī)程 使用方法 開機(jī)預(yù)熱30分鐘后,進(jìn)行下述試驗(yàn). 物品放在秤盤中,天平顯示值即為物品重量. 要去皮重時(shí),可先將去皮物品放上稱盤,待天平值穩(wěn)定后,按操作鍵,使顯示值為零,再將待稱物品放上秤盤,﹑第四次……可按上述方法進(jìn)行,顯示器出現(xiàn)“……”報(bào)警符號(hào),此時(shí)請(qǐng)將物品移去. 將幾種物品一起放稱盤上后,“一”號(hào)讀數(shù)即表示移去物品重量。要知道稱盤中幾種物品總重量,將所有物品移去,天平顯示值為總重量。 測(cè)試二個(gè)樣品及成批樣品差值時(shí),可采用以下稱重過(guò)程:先將標(biāo)樣品放在盤中,按“操作鍵”,使天平顯示值為零,移去標(biāo)準(zhǔn)樣品,放上需與標(biāo)準(zhǔn)樣品比較的樣品,顯示值為二樣品之差值?!笆北硎境^(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣品重量,“一”表示比標(biāo)準(zhǔn)樣品輕多少重量值。 天平還用下稱法進(jìn)行稱重。操作時(shí)可先移去天平底部門閂,將稱盤懸掛在孔中的秤鉤內(nèi),稱重方法,同上。 在精確稱量時(shí),天平使用半個(gè)小時(shí)或一個(gè)小時(shí)后自校復(fù)核一次。在操作和使用過(guò)程中,請(qǐng)將被稱物品盡可能放在盤中央,。 維護(hù)與保養(yǎng) 經(jīng)常使用天平時(shí),應(yīng)讓天平連續(xù)通電,這樣可減少預(yù)熱時(shí)間,也使天平處于相當(dāng)穩(wěn)定狀態(tài),如果天平長(zhǎng)期不用,應(yīng)關(guān)閉電源。 天平應(yīng)保持清潔,謹(jǐn)防灰塵鉆入機(jī)內(nèi),不應(yīng)放在有腐蝕性氣體的室內(nèi)。 當(dāng)同時(shí)使用二臺(tái)以上時(shí),嚴(yán)防將天平的秤盤互換。 根據(jù)天平使用頻繁程度,應(yīng)作周期性檢定。 使用前后,注意檢查儀器狀況并記錄及作相應(yīng)處理。 29 分析天平操作規(guī)程1. 稱量前用小毛刷拂去天平盤上灰塵,檢查和調(diào)節(jié)天平的水平狀態(tài)。檢查和調(diào)節(jié)天平零點(diǎn)。2. 接通電源,輕輕地旋轉(zhuǎn)升降鈕,等光幕標(biāo)尺上的游標(biāo)穩(wěn)定后,淡出零點(diǎn)。當(dāng)光幕標(biāo)尺上的零點(diǎn)與微量標(biāo)尺的零點(diǎn)不相重合時(shí),需加以調(diào)節(jié)。3. 將欲稱量的物品從邊門輕輕放在左邊天平盤中央。用專用的鑷子將砝碼放在右盤的中央關(guān)好邊門。進(jìn)行稱量。4. 從砝碼盒的空位置讀出砝碼總重量,再加上游碼所指的重量即為所稱物品的重量。5. 稱量完畢后,關(guān)閉天平,將讀數(shù)盤撥至“0”,并拔下插頭。用軟毛刷將稱盤、天平內(nèi)打掃干凈,然后填寫好使用記錄。30 玻璃器皿操作規(guī)程1. 使用玻璃器皿進(jìn)行分析工作前,必須將所需器皿洗凈。2. 洗滌方法:用自來(lái)水和刷子刷洗,洗滌時(shí),先在器皿內(nèi)裝一些水,然后用刷子在水中刷洗器皿的器壁,要特別注意刷洗粘在器皿壁上的污物。滴定管可以用特制的長(zhǎng)刷子刷洗。冼凈后的器皿,要用蒸餾水淋洗23次。3. 完全洗凈的玻璃器皿內(nèi)壁,應(yīng)均勻地被水濕潤(rùn)。如發(fā)現(xiàn)有小水珠或不沾水(干)的地方,就說(shuō)明容器壁上有油垢,必須重新進(jìn)行洗滌。如一般方法不能把器皿洗凈可選適當(dāng)?shù)南礈煲骸?. 注意事項(xiàng):洗凈后的器皿內(nèi)壁不要用布擦,也不重用手摸,以防再次弄臟。在無(wú)塵處保存令其自然干燥。31 鼓風(fēng)干燥箱 把需干燥處理的物品放入干燥箱內(nèi),上、下四周應(yīng)留存一定空間保持工作室內(nèi)氣流暢遍,關(guān)好箱門。 打開電源及風(fēng)機(jī)開關(guān),電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn),控溫儀顯示經(jīng)過(guò)“自檢”過(guò)程后,此時(shí)干燥箱即進(jìn)入工作狀態(tài)。設(shè)定所需溫度:按一下SET鍵,此時(shí)RV屏顯示“SP”,用 或 改變?cè)癝V”并顯示的溫度值,直到達(dá)到需要值為止,設(shè)置完畢,按一下SET鍵,PV顯示“ ”定時(shí)的設(shè)定:若使用定時(shí),則當(dāng)PV屏顯示“ ”時(shí),SV屏顯示“0”;用加鍵設(shè)定所需時(shí)間(分);設(shè)置完畢,按一下SET鍵。當(dāng)?shù)谝淮伍_機(jī)或使用一段時(shí)間或當(dāng)季節(jié)(環(huán)境溫度)變化時(shí),必須復(fù)核工作室內(nèi)測(cè)量溫度和實(shí)際溫度誤差即控溫精度。干燥結(jié)束后,風(fēng)門處于“三”處,把電源開關(guān)關(guān)掉,待工作室冷卻至室溫后,取出箱內(nèi)干燥物品,將工作室內(nèi)擦干。32 FRD—A型X射線探傷機(jī)操作規(guī)程1. 用專用電纜連接控制臺(tái)和X射線發(fā)生器、接好電源后開機(jī),進(jìn)行系統(tǒng)自檢。系統(tǒng)在三十秒左右出現(xiàn)以下提示:準(zhǔn)備指示燈亮;蜂鳴器持續(xù)地響一聲或兩聲;LED顯示“”(表示數(shù)值0~)。示意操作者可以進(jìn)行曝光操作。2. 曝光操作。1) 根據(jù)被檢工件的材料、厚度及曝光曲線確定本次曝光所需要使用的電壓值和曝光時(shí)間值。2) 當(dāng)設(shè)置好曝光電壓和曝光時(shí)間后,按下“高壓開”鍵即可啟動(dòng)曝光操作。3) 為了便于操作人員離開現(xiàn)場(chǎng),免受X射線的輻射,在產(chǎn)生X射線前,系統(tǒng)將延時(shí)一分鐘。然后進(jìn)入曝光階段。最后,當(dāng)剩余曝光時(shí)間減到0時(shí),系統(tǒng)將進(jìn)入休息階段。當(dāng)剩余休息時(shí)間減到0時(shí),準(zhǔn)備指示燈亮,自動(dòng)返回到曝光參數(shù)設(shè)定狀態(tài)。4) 重復(fù)以上操作,直到檢測(cè)結(jié)束。3.關(guān)機(jī)。為了保證系統(tǒng)可以可靠工作,用戶只能在參數(shù)設(shè)定狀態(tài)下切斷控制臺(tái)電源,關(guān)機(jī)至少十秒鐘后才能再次開機(jī)。33 PXUT—350+型超聲波探傷儀操作規(guī)程1. 開啟儀器電源,進(jìn)入探傷界面,連接探頭,儀器處于工作狀態(tài)。2. 按通道鍵選擇通道,按功能鍵選擇“0”清除當(dāng)前通道。3. 在通道設(shè)置菜單中,設(shè)置探頭方式為“直探頭”或“斜探頭”以及其頻率、尺寸等。4. 調(diào)試。使用直探頭時(shí),選用“”按照提示進(jìn)行操作,測(cè)定零點(diǎn)聲速,然后按測(cè)試鍵,選中“”,按n鍵后按提示直接制作AVG曲線;當(dāng)使用斜探頭時(shí),按測(cè)試鍵,按y鍵照提示測(cè)零(聲速)、前沿、折射角度(K值)等,然后按3鍵制作DAC曲線。5. 其它參數(shù)輸入。當(dāng)使用斜探頭時(shí),還需要輸入所測(cè)得的前沿和定量線、評(píng)定線、判廢線的偏移以及表面補(bǔ)償。6. 現(xiàn)場(chǎng)探傷。將調(diào)試和設(shè)置好的儀器帶到現(xiàn)場(chǎng),通過(guò)調(diào)節(jié)增益、聲程和波門,使波的波形和位置參數(shù)完整顯示后,按既定的探傷方法進(jìn)行探傷。如需要記錄缺陷波,便按記錄鍵,將探傷結(jié)果存入儀器存儲(chǔ)器內(nèi)。重復(fù)以上操作直到探傷完畢后,關(guān)機(jī)。36 /
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