南通友聯(lián)tofd教案-資料下載頁
2025-06-09 23:33本頁面
【正文】 度位置，可以通過移動(dòng)十字坐標(biāo)來方便的讀出各點(diǎn)深度值、位置值，如圖附7。 圖附6 瀏覽掃查結(jié)果 圖附7 校零后的掃查圖對(duì)缺陷的確定可以通過移動(dòng)紅藍(lán)坐標(biāo)使缺陷與曲線耦合就能分別計(jì)算出缺陷的大小和位置。還可以通過【放大】、【縮小】按鍵和移動(dòng)圖像來看清楚缺陷的細(xì)節(jié)。離線分析 （1）離線分析軟件界面離線分析即通過PXUT－900便攜式超聲探傷儀專用TOFD檢測記錄分析軟件來對(duì)檢測記錄進(jìn)行詳細(xì)的分析。軟件組成如下： 1）圖像區(qū)域：橫向顯示TOFD圖像，以及輔助分析的紅、藍(lán)十字坐標(biāo)。2）A掃區(qū)域：顯示紅色豎線所對(duì)應(yīng)的A掃波形。3）軟增益調(diào)整：通過調(diào)整軟增益使增益過高或不夠的地方達(dá)到合適的增益，使對(duì)缺陷的分析更加方便準(zhǔn)確。4）調(diào)校參數(shù)設(shè)定：根據(jù)PCS、紅藍(lán)參考深度等來校準(zhǔn)零點(diǎn)（2）離線分析步驟1）數(shù)據(jù)拷貝數(shù)據(jù)拷貝是將檢測記錄從儀器上拷貝到計(jì)算機(jī)上，有兩種方法。將儀器 文件選現(xiàn)224。選項(xiàng) 中將聯(lián)機(jī)置為開，然后通過網(wǎng)絡(luò)來訪問儀器，便可將記錄的檢測數(shù)據(jù)拷貝到計(jì)算機(jī)?；蛘邔ⅰ癈F”卡中中儀器中取出，用計(jì)算機(jī)直接讀取CF卡中存在的檢測數(shù)據(jù)（CF卡“TOFD900/PICTURE”文件夾下的*.ud文件），并復(fù)制到離線軟件scandata文件夾下。2）數(shù)據(jù)瀏覽通過 菜單(F)224。打開(O)或文件打開的快捷鍵可以選擇要瀏覽的文件。在瀏覽的時(shí)候可以拖拉圖像左邊和下面的滾動(dòng)條來移動(dòng)和縮放圖像，也可以通過鼠標(biāo)圈選一個(gè)區(qū)域來放大瀏覽。當(dāng)圖像被移動(dòng)或縮放后要恢復(fù)原圖像，可以通過雙擊左邊的滾動(dòng)條來恢復(fù)上下方向的尺寸和位置，通過雙擊下邊的滾動(dòng)條來恢復(fù)左右方向的尺寸和位置。3）校零為了獲得精確的缺陷數(shù)據(jù)，我們需要設(shè)置或修正一些重要的數(shù)據(jù)。a) PCS默認(rèn)為掃查前的設(shè)置值，也可以在此處進(jìn)行修正。b) 將紅色坐標(biāo)移到一個(gè)有完整直通波和底波的位置，然后上下移動(dòng)紅色坐標(biāo)是其在直通波第一個(gè)波峰位置，設(shè)置紅色“參考深度”為0，表示此處在工件的深度為零，即為上表面。c) 將藍(lán)色坐標(biāo)置于底波第一個(gè)波谷位置，藍(lán)色“參考深度”值設(shè)為被測工件的厚度值，表示此處是被測工件的底面。d) 如果不輸入PCS和藍(lán)色“參考深度”，則回波聲速必須輸入有效值（比如5920），否則可不輸入。e) 掃查方式默認(rèn)為非平行掃查設(shè)置后以上參數(shù)后，點(diǎn)擊“調(diào)校”按鈕，即實(shí)現(xiàn)校零。 4）缺陷分析校零后可對(duì)掃查圖像進(jìn)行分析以獲取缺陷信息。通過移動(dòng)坐標(biāo)查找缺陷波來對(duì)缺陷進(jìn)行定量定位。在缺陷定量定位過程中遵循直通波、上下端點(diǎn)衍射波、底波的相位關(guān)系，使十字坐標(biāo)在曲線與檢測記錄圖像的曲線相吻合，如圖附8。此時(shí)可以直接讀出缺陷所處的位置。同理可以用兩個(gè)坐標(biāo)來讀出缺陷的長度，如圖附9，（藍(lán)）（紅）＝40mm。 圖附8 單坐標(biāo)讀缺陷深度圖附9 雙坐標(biāo)讀缺陷大小5）其他在查找缺陷的過程中，對(duì)于一些由于增益不夠而不明現(xiàn)的缺陷可以通過軟件調(diào)整增益來獲得清晰的圖像。在缺陷查找過程中，找到了目標(biāo)缺陷可以通過 工具(T)224。圖像捕獲(Y)或快捷按鈕，可分割捕獲當(dāng)前的TOFD圖像和A掃波形并保存。 26
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