【正文】 由制造人員進行返工 (鋁珠同尖銳形鋁苞的處理 ),返工后的鋁苞片需依據(jù)以上規(guī)則重新判定 .鋁苞鋁珠主柵線 :A級 :主柵線允許有輕微斷線、缺失、扭曲、突出 ,斷線和缺失面積不超過主柵線面積的 5%, 扭曲突出不超過正常位置的 ㎜ ,不允許有變色現(xiàn)象 (燒焦、發(fā)黃 ).新的標準： 主柵粗細均勻，不允許有斷線、缺失、扭曲以及突出．B級 :斷線和缺失面積不超過主柵線面積的 10%,扭曲突出不超過正常位置的 ㎜ ,不允許有變色現(xiàn)象 (燒焦、發(fā)黃 ).新的標準：主柵線粗細均勻，允許有輕微斷線、缺失面積不超過主柵線總面積的 5％ ,扭曲以及突出不超出正常位置的 ；不允許有變色現(xiàn)象（燒焦、發(fā)黃等）．C級 :斷線和缺失面積不超過主柵線面積的 20%,扭曲突出不超過正常位置的 ㎜ ,不允許有變色現(xiàn)象新的標準：主柵線：斷線、缺失面積不超過主柵線總面積的 20％ ,扭曲、突出不超出正常位置的 ．（ 10）印刷圖形及圖片示例 A級 :副柵線允許粗細不均勻 ,存在寬度大于 ㎜ ,小于 ㎜ 的副柵線 ,斷柵線 ≤ 6條 ,斷線距離 ≤ 2㎜ ,允許有輕微虛印、缺印 ,面積小于電極總面積的 5%．新的標準：副柵線清晰，允許在兩條主柵線間存在斷線，斷開數(shù)量 ≤ 3條，斷開距離 ≤ ；不允許有任何虛印、粗點；不允許有變色現(xiàn)象．B級 :允許粗細不均勻 ,存在寬度 ≤ ㎜ 的副柵線 ,斷柵線 ≤ 10條 ,斷線距離 ≤ 2㎜ ,允許有輕微虛印 ,其面積小于電極總面積的 10%．新的標準：允許在兩條主柵線間存在斷線，其 ＜斷開距離 ≤ 1mm的副柵線， 3條＜斷開數(shù)量 ≤ 6條，允許有輕微虛印，面積小于副柵線總面積的 5%；不允許有變色現(xiàn)象．C級 :允許粗細不均勻 ,存在寬度 ≤ ㎜ 的副柵線 ,斷柵線 ≤ 10條 ,斷線距離 ≤ 2㎜ ,允許有輕微虛印 ,其面積小于電極總面積的 30%．新的標準：副柵線 1mm＜斷開距離 ≤ 2mm，斷柵線數(shù)量不限，輕微虛印面積小于電極總面積的 30％ ．副柵線 :A級 :背電極允許有輕微斷線、缺失、扭曲、突出 ,斷線和缺失面積不超過背電極面積的 5%, 扭曲突出不超過正常位置的 ㎜ , 變色面積不超過背電極總面積的 5%．新的標準： 背電極圖形清晰，粗細均勻，不允許有斷線、缺失、扭曲以及突出；不允許有變色現(xiàn)象．B級 :背電極 斷線和缺失面積不超過背電極面積的 10%, 扭曲突出不超過正常位置的 ㎜ , 變色面積不超過背電極總面積的 10%.新的標準：背電極斷線、缺失面積不超過背電極總面積的 5％，扭曲、突出不超出正常位置的；變色面積不超過背電極總面積的 5％．C級 :背電極 斷線和缺失面積不超過背電極面積的 30%, 扭曲突出不超過正常位置的 ㎜ , 變色面積不超過背電極總面積的 20%.新的標準：斷線、缺失面積不超過背電極總面積的 30％，扭曲、突出不超出正常位置的 ；變色面積不超過背電極總面積的 20％．背電極:A級 :背電場完整 ,厚薄不均 ,允許有缺失 ,缺失面積不超過背電場總面積的 5%。變色面積不超過背電場總面積的 15%．新的標準： 背電場完整、厚薄均勻，不允許有缺失．B級 :允許有缺失 ,缺失面積不超過背電場總面積的 10%。變色面積不超過背電場總面積的 30%．新的標準：允許有缺失，缺失面積不超過背電場總面積的 5%；變色面積不超過背電場總面積的 15％．C級 :允許有缺失 ,缺失面積大于背電場總面積的 10%。變色面積不超過背電場總面積的 50%．新的標準：缺失面積大于背電場總面積的 5%，變色面積不超過背電場總面積的 50％．背電場 :印刷圖形示例背電極背電場完全未印刷背電場背電場已印刷A級 :粗點寬度 ≤ ㎜ ,個數(shù)小于 2個新的標準：不允許有粗點B級 :粗點寬度 ≤ ㎜ ,個數(shù)小于 5個新的標準：允許有粗點，粗點寬度 ≤ ，個數(shù)小于 2個。C級 :粗點寬度 ≤ ㎜ ,個數(shù)小于 8個新的標準：粗點寬度 ≤ ，個數(shù)小于 5個。注：當主柵線或副柵線有明顯的粗細不均時 ,應用刻度顯微鏡進行檢查。 STF印刷 :Ａ級 ：標識若有虛印、印粗現(xiàn)象（字母線寬度應小于 ),但仍可辨識時則作為 A級。 若標識存在缺印但仍可辨識時，按字母高度的 1/3判定，缺失長度小于字母高度 1/3.Ｂ級： 標識若有虛印、印粗現(xiàn)象，當字母線寬度大于 ，但仍可辨識，如實心 “ P” 　　　若標識存在缺印但仍可辨識時，按字母高度的 1/3判定，要求缺失長度大于字母高度的1/3Ｃ級： 若字母變形或無法辨識時直接降為 C級．新的標準：與舊的標準相同．粗點 :印刷圖形示例粗點STF正面疊片 背面疊片缺陷片 : C級降級片的要求 ,但仍有利用價值的片子 . ,直接以報廢片處理 . ,如果還有利用價值 ,則作為缺陷片處理 . . ,如完全疊片則作為報廢片處理 .報廢片 : 超出缺陷片的要求常出現(xiàn)的印刷圖形異常的原因說明l 電極脫落（疊片）： 硅片與漿料沒有形成足夠的合金層也就是說沒有形成好的接觸。l 斷線： 有東西粘在網(wǎng)版上，造成堵網(wǎng)。 解決方法：擦拭網(wǎng)版 /擦拭堵網(wǎng)區(qū)域。l 漏漿： 網(wǎng)版有破洞。 解決方法： 較小且不在細柵線上用封網(wǎng) 漿 將小孔封住即可 。較大時必須要更換網(wǎng)版。另 注意 漏漿千萬不能漏在正面電極，這樣會使 Rsh(并聯(lián)電阻 )過低。l 粗點： 網(wǎng)版受損 ，刮條不平整 。 解決方法；換網(wǎng)版，換刮條。l 虛?。?有時會由于原材料原因導致如：鋸痕、厚薄不均。再者跟刮條和網(wǎng)版也有關系。 解決方法：換刮條或換網(wǎng)版。（ 11）漏漿 及圖片示例 A級 :漏漿單個面積小于 *㎜ ,數(shù)量小于 3個B級 :漏漿單個面積小于 *㎜ ,數(shù)量不限C級 :漏漿單個面積小于 *㎜ ,數(shù)量不限缺陷 /報廢片 :超出 C級片要求的為缺陷片 ,超出缺陷片要求的為報廢片 .注 :(1)在正常印刷圖形上時 ,按照 ”印刷圖形 ”規(guī)定判定 ,不在印刷圖形上時按照如上規(guī)定判別 。 (2)漏漿在背電場或背電極時 ,依據(jù)鋁苞要求判定 。 (3)漏漿在側面時 ,如果影響電池片電性能和外觀時 ,則返工后重新分類檢測 ,然后重新判定 ,如果不影響電池片電性能和外觀時則正常流出 . (4)硅晶脫落按漏漿面積判定新的標準：與舊的標準相同漏 漿側面漏漿片做打磨片處理打磨片處理方式非鋁苞片：一律外銷 （不 +Rsh≥6）零頭和滿包全入外銷庫位備注 : DM 采用黃標簽鋁苞片：暫不作自用片 待研發(fā)作組件實驗 （ +Rsh≥6） 零頭入鋁苞零頭庫位 滿包入鋁苞滿包庫位備注 : DM+LB 采用白標簽 側面漏漿（ 12）外形尺寸A級和 B級 : STF125S:邊長 :125125( ㎜ )。直徑 :150 ㎜ ?；蛘?148 ㎜ ?；蛘?165 ㎜ STF125M:邊長 :125125( ㎜ )。 STF150N:邊長 :150150( ㎜ )。直徑 :203 ㎜ ?；蛘?200 ㎜ 。 STF150M:邊長 :150150( ㎜ )。 STF156N:邊長 :156156( ㎜ )。直徑 :203 ㎜ ?；蛘?200 ㎜ 。 STF156M:邊長 :156156( ㎜ )。以上電池片邊長 (長 ,寬 )精度 :177。 ㎜C級 : 尺寸精度 ≤ 177。 ㎜缺陷 /報廢片 : 超出 C級片的要求注 : ,但應及時反饋此信息 。 ,對角精度為 177。 ㎜ ,檢驗時將不同標稱直徑的電池片分類標識 ,單測單包 ,數(shù)據(jù)不在檢驗記錄中 .新的標準：與舊的標準相同．四、用分選儀測試對電池片進行分選檢測五、測試分選安全注意事項 ,防止堵塞電機或產生新的碎片 ,然后采取相應措施（如攝像校正，輸入輸出顯示控制等），否則會造成死機，需要時必須停機，長時間停機清理碎片或維護時應將旋鈕選擇在 Manual(手動 )模式，要注意探針架的位置及探針的數(shù)