鐵電體電疇結(jié)構(gòu)的觀測(cè)方法-資料下載頁(yè)
2025-04-30 12:55本頁(yè)面
【正文】 探針的相互作用，如圖所示。探測(cè)原子力的懸臂是顯著影響 AFM分辨率的基本因素。為了獲取樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的高分辨率，懸臂上的針尖要足夠尖。目前廣泛使用 Si或 Si3N4為懸臂。有三種成像模式：接觸、振動(dòng)和非接觸 AFM 操作模式 針尖與樣品表面之間距離及其相互作用力關(guān)系 接觸模式 非接觸模式 輕敲模式 ? 接觸模式（ contact mode） : 恒力模式：適用于物質(zhì)的表面分析 恒高模式：適用于分子、原子的圖像的觀察 ? 非接觸模式（ noncontact mode）：靈敏度高于接觸模式 ,但不適于液體中成像 ? 輕敲模式 (tapping mode)：在高分子聚合物和生 物大分子的結(jié)構(gòu)研究中應(yīng)用廣泛 各種模式的特點(diǎn)： 壓電力顯微鏡 (PFM) BaTiO3單晶 掃描電聲顯微鏡 (SEAM) ? 掃描電聲顯微鏡 (SEAM)是融現(xiàn)代電子光學(xué)技術(shù)、電聲技術(shù)、壓電傳感技術(shù)、弱信號(hào)檢測(cè)和脈沖圖像處理，以及計(jì)算機(jī)技術(shù)為一體的一種新型無(wú)損分析和顯微成像工具。其成像機(jī)理是基于材料的微觀熱彈性能或者電學(xué)性能的變化，獲取目前其他手段無(wú)法得到的信息。它可以原位（ in situ）同時(shí)觀察試樣的二次電子像和電聲像（ SEAM），兼有聲學(xué)顯微術(shù)非破壞性內(nèi)部成像和電子顯微術(shù)高分辨率快速成像的特點(diǎn)。 SEAM原理 當(dāng)一束能量受調(diào)制的電子束入射在樣品表面上時(shí) , 入射電子的部分能量將會(huì)在離樣品表面一定的區(qū)域內(nèi)被樣品所吸收。被吸收的電子能量將會(huì)以各種方式與樣品發(fā)生相互作用 , 如 它可以通過(guò)樣品內(nèi)熱學(xué)性能參數(shù)的變化產(chǎn)生熱波 , 進(jìn)而產(chǎn)生聲波 。 也可以通過(guò)樣品內(nèi)電學(xué)性能參數(shù)的變化直接產(chǎn)生聲波 , 因此可以通過(guò)探測(cè)這一聲波達(dá)到對(duì)樣品的檢測(cè)目的。
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