電子元件抽樣方案-資料下載頁
2025-04-23 07:09本頁面
【正文】 25080 0 10 10 11 21 22 31 22 33 42 33 45 6 3 45 67 81201 ~ 32003201 ~ 1000010001 ~ 350001252003150 11 21 22 31 22 33 42 33 45 63 45 67 85 67 810 117 810 1114 1510 1114 1521 2235001 ~ 150000150001 ~ 500000500001 ~50080012501 22 33 42 33 45 63 45 67 85 66 710 117 810 1114 1510 1114 1521 2214 1521 2221 22備注:f Ac 允收數(shù)f Re 拒收數(shù)f ↓:采用箭頭下第一個抽樣計劃,如樣本大小超過或等于批量時則用 100%之檢驗.f ↑:使用箭頭上第一個抽樣計劃.f 本表摘自 MILSTD105E 抽樣計劃表. 缺點定義說明: 本章節(jié)給出了缺點定義的標(biāo)準(zhǔn),作為所有相關(guān)文件的引用依據(jù). 嚴(yán)重缺點(CRITICAL DEFECT,簡寫為: CRI)不良缺陷,使產(chǎn)品在生產(chǎn)?運輸或使用過程中可能出現(xiàn)危及人身財產(chǎn)安全之缺點,稱為嚴(yán)重缺點. 主要缺點(MAJOR DEFECT. 簡寫為 MAJ) 不良缺陷,使產(chǎn)品失去全部或部分主要功能,或者相對嚴(yán)重影響的結(jié)構(gòu)裝配的不良,從而顯著降低產(chǎn)品使用性的缺點,稱為主要缺點. 次要缺點(MINOR DEFECT,簡寫為 MIN) 不良缺陷,可以造成產(chǎn)品部份性能偏差,或者一般外觀缺點,雖不影響產(chǎn)品的性能,但會使產(chǎn)品價值降低的缺點,稱為次要缺點. 固定檢驗抽驗樣本數(shù)為 1pcs, 定義廠商為：東莞華科，廈門萬明，深圳彩源. 本抽樣檢驗規(guī)范依據(jù) MILSTD105E LEVEL Ⅱ與 C=0 抽樣標(biāo)準(zhǔn)制訂,其它檢驗抽樣方法可參照有關(guān)抽樣檢驗之國際或國家標(biāo)準(zhǔn).
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