【正文】 他們何時失效。當一個失效被發(fā)現(xiàn)，只能知道他將在最新和之前的檢查間發(fā)生。一個未失效的樣本在上次檢查時被正確審核。這樣的區(qū)間數(shù)據(jù)被叫做微電子學工業(yè)的讀出數(shù)據(jù)。尼爾森 [10, p. 145]對來自加速恒溫測試的微處理器壽命這樣的 區(qū)間數(shù)據(jù)。區(qū)間數(shù)據(jù)也能從一個變應力加速測試中獲得。那么樣本 i 的殘差在檢查 i 處于失效累積區(qū)間 ? ? ? ?ii1? ? ? ?????，則被發(fā)現(xiàn)失效，其中 1i? 是之前檢查的時間，并且 i?是失效被發(fā)現(xiàn)的時間。最終檢查時間的無失效殘差是其失效累積 ? ?i?? ，是被正確審核過的 。這樣的區(qū)間殘差可以靠其他變量被交叉繪制，但是這樣的圖可能很難被解釋。另外，這些殘差的累積分布函數(shù)的 Peto[12]估計可以在概率分布紙上繪制用來評定模型分布，或者其他變量的影響。這樣的殘差可以很容易地被延伸到待審核，以及縮短的情況；那么 Turnbull[16]的累積分布函數(shù)估計值將被利用。對于 SPLUS 的 Meeker amp。 Escobar [3]的輸出量特征來計算 Peto，以及來自與那些殘差的 Turnbull 估計值。 結論：這里被展示的應用到許多模型和變應力測試的新殘差。他們對這些數(shù)據(jù)和模型提供了有用的深 刻見解。他們需要被與這種模型步進以及變應力數(shù)據(jù)相符的電腦程序包自動計算和分析。 致謝 作者鳴謝 Dan Eno 博士，由于他提出了關于數(shù)據(jù)對模型最大相似性符合程度從而造就了這篇關于殘差的文章。另外，在作者的請求下，他慷慨地計算了這里的殘差。 Wes Fulton 先生利用他的 SuperSMITH(TM)軟件，友好地提供了關于模型殘差和關于殘差的極大似然擬合模型圖， [2].作者非常感激William Q. Meeker 教授， Adamantios Mettas 先生， Lisa Hacker 女士， Wes Fulton先生， 合伙編輯 . Lu 教授，以及那些讀這篇文章原稿的審稿人以及他們提供的有用建議。 參考文獻 [1] R. B. Aberhy, The New Weibull Handbook , 5th ed. : , 2022, Available from author, 536 Oyster Road, North Palm Beach, FL 334084328, . [2] W. Fulton, SuperSMITH(TM) Software. 2022 [Online]. Available: , Fulton Findings(TM), 1251 West SepulvedaBlvd. PMB800, Torrance, CA 90502, . [3] W. Q. Meeker and L. A. Escobar, SPLIDA (SPLUS Life Data Analysis) Software—Graphical User Interface. 2022 [Online]. Available: 17 ~splida, Available from Prof. Wm. Q. Meeker, Statistics Dept., Iowa State Univ., Ames, Iowa 50010 [4] W. Q. Meeker and L. A. Escobar , Statistical Methods for Reliability Data. New York: Wiley, 1998. [5] M. A. Miner, ―Cumulative damage in fatigue,‖ J. of Applied Mechanics, vol. 12, pp. A159–A164, 1945. [6] W. B. Nelson, ―Analysis of residuals from censored data,‖ Technometrics , vol. 15, pp. 697 –715, 1973. [7] W. B. Nelson, ―Accelerated life testing—stepstress models and data analyses, ‖ IEEE Trans. Reliability , vol. R29, pp. 103 –108, 1980. [8] W. B. Nelson, Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and ata Analyses . New York: Wiley, 1990. [9] W. B. Nelson, ―Prediction offield reliability of units, each under dif ering dynamic stresses, from accelerated test data, ‖ in Handbook of Statistics: Vol. 20 Advances in Reliability , N. Balakrishnan and C. , Eds. New York: Elsevier Science, 2022, ch. 22, pp. 611–621. [10] W. B. Nelson , paperback edition of Nelson (1990) with typo corrections and updated software descriptions . New York: Wiley, 2022. [11] J. Neter, M. H. Kutner, C. J. Nachtsheim, and W. Wasserman , Applied inear Statistical Models, 4th ed. Homewood, IL: Richard D. Irwin,1996. [12] R. Peto, ―Experimental survival curves for intervalcensored data,‖ Applied Statistics , vol. 22, pp. 86 –91, 1973. [13] ―ALTA Users Guide‖ ReliaSoft Corp., 2022 [Online]. Available: , ReliaSoft Publishing, 1450 S. Eastside Loop, Tucson,AZ 85710 [14] ―Accelerated Life Testing Reference,‖ReliaSoft Corp., 2022 [Online]. vailable: , ReliaSoft Publishing, 1450 S. Eastside oop, Tucson, AZ 85710 [15] L. C. Tang, ―Multiplesteps stepstress accelerated life tests: A model and its spreadsheet analysis, ‖ in Proc. of Ninth ISSAT International Conf. on Reliability and Quality in Design , Honolulu, Hawaii, 2022. [16] B. W. Turnbull, ―The empirical distribution function with arbitrarily grouped, censored, and truncated data, ‖ J. Royal Statist. Soc. B, , pp. 290 –295, 1976.